专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光电探测芯片的封装结构和封装方法-CN202211482710.3在审
  • 韩德俊;刘宇霄;杨茹 - 北京师范大学
  • 2022-11-24 - 2023-03-03 - H01L23/31
  • 本发明提供一种光电探测芯片的封装结构和封装方法,封装结构包括:封装基板,背面有第一电极和第二电极,正面有第一导电焊盘和第二导电焊盘;光电探测芯片,正面靠近第二导电焊盘的一侧及其对侧均设置有正面电极,背面电极通过第一导电连接体与第一导电焊盘电连接,靠近第二导电焊盘的一侧的正面电极通过第二导电连接体与第二导电焊盘电连接;封装绝缘体,至少封装在第二导电连接体与光电探测芯片的侧壁之间以及第二导电连接体与光电探测芯片正面的非有源区之间;第一光电探测芯片和第二光电探测芯片分别贴装于偏离第一封装区域和第二封装区域的中心而偏向远离第二导电电连接体的一侧。
  • 光电探测芯片封装结构方法
  • [发明专利]硅光电倍增探测器-CN202210682627.4有效
  • 韩德俊 - 北京师范大学
  • 2022-06-16 - 2023-01-31 - H01L31/0352
  • 本发明提供一种硅光电倍增探测器,包括:探测器主体,其包括由多个APD单元集成在衬底上形成的APD阵列,每个APD单元串联一个雪崩淬灭电阻,在探测器主体外围还设有另外的APD单元,所有APD单元的表面由均匀连续的重掺杂硅导电层连接,其上为绝缘介质层;正面电极,其位于探测器主体正面的绝缘介质层表面,正面电极包括平行金属条或相互垂直的栅格金属条,及与金属条连接的一个或多个金属引出电极;背面电极,其位于整个硅光电倍增探测器背面硅衬底的外侧。在绝缘介质层相应APD单元的顶角位置设有通孔,正面电极的金属条完全覆盖通孔,并与通孔下的重掺杂硅导电层形成欧姆接触。本发明具有探测效率高、动态范围大、增益均匀、单光子分辨好等优点。
  • 光电倍增探测器
  • [发明专利]光电探测芯片的封装方法和封装结构-CN202110065307.X有效
  • 韩德俊;谭启广;程文譞;杨茹 - 北京师范大学
  • 2021-01-18 - 2022-08-09 - H01L21/56
  • 本发明涉及一种光电探测芯片的封装方法和封装结构,该封装方法包括:将光电探测芯片贴装在封装基板上,封装基板的背面具有第一电极和第二电极,正面具有第一导电焊盘和第二导电焊盘,第一导电焊盘和第一电极之间通过第一导电通孔连接,第二导电焊盘和第二电极之间通过第二导电通孔连接;光电探测芯片的背面电极与第一导电焊盘电连接;利用光刻技术在第一封装基体上形成图案化的封装绝缘体,使得所述封装绝缘体至少部分覆盖光电探测芯片的侧壁以及光电探测芯片正面的非有源区;沿封装绝缘体的至少部分表面形成第二导电连接体来将光电探测芯片的正面电极和第二导电焊盘相连接;在得到的封装基体上涂覆保护层,得到光电探测芯片的封装结构。
  • 光电探测芯片封装方法结构
  • [发明专利]一种提高硅光电倍增器几何填充因子的凹凸复合微透镜-CN202110330395.1在审
  • 韩德俊;谭启广;杨茹 - 北京师范大学
  • 2021-03-24 - 2022-07-08 - H01L27/146
  • 本发明公开了一种提高硅光电倍增器几何填充因子的凹凸复合微透镜。所述凹凸复合微透镜阵列包括呈阵列布置的基础结构;基础结构的上部设有向外的凸透镜,相邻所述基础结构之间设有向内凹陷的凹透镜;基础结构、凸透镜和凹透镜均由光刻胶制成。本发明复合凸凹透镜材料的折射率为1.57~1.65,能够将入射到SiPM APD微单元上的光汇聚到所述微单元的中心,使入射到APD微单元之间的光折射、发散进入到APD微单元,从而提高SiPM的几何填充因子和探测效率。本发明制作凹凸复合微透镜阵列的材料兼具钝化保护SiPM的作用;并且,本发明制作凹凸复合微透镜阵列的方法与SiPM封装工艺兼容,使得凹凸复合微透镜阵列的制备可以在封装SiPM的过程中一次性完成。
  • 一种提高光电倍增器几何填充因子凹凸复合透镜
  • [发明专利]主动淬灭型SPAD阵列探测器及其电路仿真模型的建立方法-CN202110256428.2有效
  • 韩德俊;吕文星 - 北京师范大学
  • 2021-03-09 - 2022-05-06 - H01L25/16
  • 本发明提供一种主动淬灭型SPAD阵列探测器及其电路仿真模型的建立方法,所述SPAD阵列探测器,包括:封装基板;固定在封装基板上的FPGA芯片;以及置于FPGA芯片上的包含多个SPAD单元的SPAD阵列;各SPAD单元与FPGA芯片之间以及FPGA芯片与封装基板之间通过引线键合实现电气连接;FPGA芯片包括多个双向I/O端口和主动淬灭电路逻辑,主动淬灭电路逻辑包括多个主动淬灭电路和数字逻辑控制单元,每个SPAD单元与经一个双向I/O端口连接对应的主动淬灭电路,各主动淬灭电路连接数字逻辑控制单元,主动淬灭电路包括三态门电路,数字逻辑控制单元用于控制各SPAD单元的事件检测状态,使得事件检测状态至少包括四个状态:稳态检测状态、主动淬灭状态、保持关断状态和主动复位状态。
  • 主动淬灭型spad阵列探测器及其电路仿真模型建立方法
  • [发明专利]位置灵敏硅光电倍增探测器-CN202010608650.X在审
  • 韩德俊;彭彧 - 北京师范大学
  • 2020-06-30 - 2021-12-31 - H01L27/144
  • 本发明涉及一种位置灵敏的硅光电倍增探测器,该硅光电倍增探测器包括:探测器主体,其包括由多个APD单元集成在硅外延片上形成的APD阵列,每个APD单元串联一个雪崩淬灭电阻;正面电极,其位于探测器主体正面的表面,所述正面电极包括环绕所述APD阵列的金属条以及设置于金属条的多个特定位置的、与金属条连接的多个金属引出电极,所述金属条和多个金属引出电极形成封闭的金属电极结构,每个引出电极用于独立输出信号;背面电极,其位于探测器主体背面硅衬底的外侧;所有APD单元的表面由均匀连续的重掺杂硅电阻层连接,正面电极的金属条形成在硅电阻层边缘的重掺杂区的表面且与重掺杂区接触并环绕APD阵列。本发明具有响应线性度高、畸变程度小的优点。
  • 位置灵敏光电倍增探测器
  • [发明专利]单光子雪崩光电二极管阵列探测器-CN201910418229.X有效
  • 韩德俊;刘健 - 北京师范大学
  • 2019-05-20 - 2021-06-15 - G01J11/00
  • 本发明提供了一种单光子雪崩光电二极管阵列探测器,包括:传感器芯片,其包括至少一个雪崩光电二极管;信号控制与读出芯片,其通过倒装焊方式、或引线键合方式、或中介层方式与传感器芯片集成在一起,以使得雪崩光电二极管与信号控制与读出芯片电气连接;信号控制与读出芯片包括:I/O端口,其用于读入来自雪崩光电二极管的电平信号,并向雪崩光电二极管输出电平信号;主动逻辑,其基于从雪崩光电二极管读入的电平信号触发内部逻辑,从而向雪崩光电二极管输出淬灭信号以及复位信号;以及数字信号读出电路,用于读出从雪崩光电二极管取样的电信号。本公开能够提高探测器的填充因子,降低制作成本,缩短研发周期,适应性更好。
  • 光子雪崩光电二极管阵列探测器

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