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- [发明专利]一种多核CPU的memory测试方法-CN202210209398.4在审
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李威;雷淑岚;郑烨雷;孙诚
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中电科申泰信息科技有限公司
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2022-03-03
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2022-06-03
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G06F11/22
- 本发明公开一种多核CPU的memory测试方法,属于memory测试领域。多核CPU在MBIST测试状态下,当状态机FSM接收到开始指令后同时选通每个内核中第一类memory,状态机FSM控制测试向量产生电路产生针对第一类memory的测试向量,连同对应该测试向量的Address和Control信号同步送到第一类memory,再同时读取写入第一类memory的测试向量,并将读取的结果合并后送到比较器中;比较器将其和测试向量产生电路产生的期望值进行对比;如果对比结果不同,比较器输出低电平表示测试失败;如果对比结果相同,比较器输出高电平测试继续。本发明大大提高了MBIST的测试效率,解决了现有技术在测试memory时测试速度和CPU面积、功耗不能同时兼顾的问题。当CPU的内核越多这种优势越明显。
- 一种多核cpumemory测试方法
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