专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于UPF的处理器低功耗设计和验证方法-CN202211442426.3在审
  • 胡小刚;周昱;雷淑岚;赵春林 - 中电科申泰信息科技有限公司
  • 2022-11-18 - 2023-03-17 - G06F30/331
  • 本发明涉及集成电路的低功耗设计与验证技术领域,特别涉及基于UPF的处理器低功耗设计和验证方法,包括如下步骤:步骤一:利用UPF文件对SOC芯片的CPU单元进行低功耗设计;步骤二:利用UPF文件对待测的数字逻辑模块的电压域进行供电时序验证。所述步骤一具体包括:所述UPF文件包括电源电压域的描述,供电网络的描述,电源开关的描述,隔离单元的描述以及低功耗状态的描述;所述步骤二具体包括:利用RTL代码与UPF文件一起做低功耗设计的仿真验证,检查UPF文件所描述的低功耗设计意图是否正确。本发明在逻辑功能描述正确的基础上对SOC芯片中的一个CPU模块进行低功耗设计以降低其功耗。
  • 基于upf处理器功耗设计验证方法
  • [发明专利]一种多核CPU的memory测试方法-CN202210209398.4在审
  • 李威;雷淑岚;郑烨雷;孙诚 - 中电科申泰信息科技有限公司
  • 2022-03-03 - 2022-06-03 - G06F11/22
  • 本发明公开一种多核CPU的memory测试方法,属于memory测试领域。多核CPU在MBIST测试状态下,当状态机FSM接收到开始指令后同时选通每个内核中第一类memory,状态机FSM控制测试向量产生电路产生针对第一类memory的测试向量,连同对应该测试向量的Address和Control信号同步送到第一类memory,再同时读取写入第一类memory的测试向量,并将读取的结果合并后送到比较器中;比较器将其和测试向量产生电路产生的期望值进行对比;如果对比结果不同,比较器输出低电平表示测试失败;如果对比结果相同,比较器输出高电平测试继续。本发明大大提高了MBIST的测试效率,解决了现有技术在测试memory时测试速度和CPU面积、功耗不能同时兼顾的问题。当CPU的内核越多这种优势越明显。
  • 一种多核cpumemory测试方法
  • [发明专利]基于无源光学水印的硬件木马检测方法-CN201510280787.6有效
  • 于宗光;周昱;张荣;魏敬和;雷淑岚 - 中国电子科技集团公司第五十八研究所
  • 2015-05-27 - 2017-08-25 - G01N21/956
  • 本发明提供一种基于无源光学水印的硬件木马检测方法。首先在电路中插入备用单元(spare cell),并修改备用单元向其内部添加底层金属,使备用单元内部底层金属的密度大于普通的功能单元;并通过仿真得到电路底层金属对近红外光反射成像图,即为无源光学水印;然后当电路制造完毕后,在进行封装前,将实际电路自底向上进行拍照。最后将拍照所得实际的水印与仿真得到的水印进行对比,若水印的位置之间发生变化,或者水印消失,或出现新的水印,则认为电路中含有硬件木马。此方法不需要对电路进行任何电测试,且可以克服传统方法中受工艺噪声、测量噪声的影响,显著降低检测复杂度,提高检测准确度。
  • 基于无源光学水印硬件木马检测方法
  • [实用新型]低成本高可靠性的高速网络通讯芯片测试电路-CN201420051437.3有效
  • 周昱;魏敬和;雷淑岚;于宗光 - 中国电子科技集团公司第五十八研究所
  • 2014-01-26 - 2014-08-06 - H04B17/00
  • 本实用新型涉及一种低成本高可靠性的高速网络通讯芯片测试电路,本实用新型由数据包有效载荷生成电路生成所需的发送有效载荷数据,数据包检测电路对接收数据包进行数据包包头及数据包包尾检测,第二循环冗余校验码生成电路生成第二CRC校验码,比较电路对第二CRC校验码与预设CRC码比较,通过接收数据包CRC错误计数器对比较的结果进行计数,通过读取发送数据计数器、发送数据包字节数计数器、接收数据包计数器、接收数据包字节数计数器及接收数据包CRC错误计数器内的计数值判断测试结果,操作方便,提高测试效率及精度,可以不依赖于专业仪器和其他任何测试装置而对高速网络通讯芯片进行测试,降低测试成本,提高测试效率,安全可靠。
  • 低成本可靠性高速网络通讯芯片测试电路

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