专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]样本盘使用方法-CN202310900982.9在审
  • 陈嘉惠;周丹萍;马德新 - 中元汇吉生物技术股份有限公司
  • 2023-07-21 - 2023-10-27 - G01N35/00
  • 本发明公开了一种样本盘使用方法,在提出样本检测申请时,可以采用位置主体模式和样本架主体模式;其中,位置主体模式如传统的检测方式将样本架固定在仪器圆盘内,用户通过以样本位编号构成的样本位置向检测系统提出样本测试申请;样本架主体模式则使圆弧形卡槽内的样本架可更换,用户通过样本架编号和样本位编号构成的样本位置向检测系统提出样本测试申请,在样本测试申请后,将整个样本架装载到任意圆弧形卡槽内,在卸载样本架后,则释放样本架中的所有样本位置,使用更加灵活多变,且样本架的数量可以根据实际需求设置,从而可以使实际的物理样本位置数量增加,能够有效简化操作。
  • 样本使用方法
  • [发明专利]一种云台电机控制方法-CN202310704655.6在审
  • 张羽杰;蒋天尘;顾奕杰;阚司源;徐恒舟;陈嘉惠;刘子航;刘颖;张力文;张雨婷;金俊阳;孙振兴 - 南京工业大学
  • 2023-06-14 - 2023-08-18 - G05D3/12
  • 本发明涉及一种云台电机控制方法,具体控制步骤如下:步骤一:云台从传感器及前级设备获取云台控制参数信息;步骤二:根据所述云台控制参数信息进行补偿计算,以获取补偿后的云台方位角度;步骤三:获取用于控制云台电机的云台跟随参数;步骤四:对云台电机速度环使用超螺旋控制方法,位置环使用PID控制方法,产生并输出云台电机控制信号,本发明建立云台位姿控制系统多源干扰模型,获取当前云台系统状态参数,针对多源干扰,设计干扰观测器,对云台控制参数信息进行补偿计算,获取补偿后的云台方位角度,对云台电机速度环使用超螺旋控制方法,对云台电机的位置环使用PID控制方法,产生并输出云台电机控制信号,保证云台电机位姿的高精度控制。
  • 一种电机控制方法
  • [发明专利]一种质控方法、系统、分析仪及计算机存储介质-CN202211543342.9在审
  • 陈嘉惠;周丹萍;马德新 - 中元汇吉生物技术股份有限公司
  • 2022-12-02 - 2023-03-14 - G16H10/40
  • 本发明公开了一种质控方法,包括:获取质控测试申请和质控测试结果;对所述至少一个质控品的质控测试结果进行质控规则判断,以确定所述至少一个质控品的质控状态;所述质控状态包括失控、在控;基于所述至少一个质控品的质控状态获取所述质控项目的质控结果,所述质控结果包括在控、失控;在可视化界面对所述质控项目以及对应所述质控项目的质控结果进行可视化显示。由此可知,本发明以项目为单位,显示项目的质控面状态是否在控,若不在控,显示具体失控原因和失控个数。该呈现方式可以在一定程度上帮助用户判断项目今日是否在控,从而解决现有技术中用户不能从质控总览页面直观地判断该项目是否在控的技术缺陷。
  • 种质方法系统分析计算机存储介质
  • [发明专利]一种样本处理方法、系统、设备及可读介质、样本分析仪-CN202210796919.0在审
  • 陈嘉惠;周丹萍;马德新 - 中元汇吉生物技术股份有限公司
  • 2022-07-06 - 2022-10-04 - G06F3/0481
  • 本发明提供一种样本处理方法、系统、设备及可读介质,首先获取对待测样本重新计算一个或多个检测项目的指令信号,其中,指令信号由目标对象选择定标参数和需要重新计算的检测项目后,触发预设控制按钮得到;然后根据指令信号匹配与当前定标模式关联的计算定标参数,并基于当前定标模式和计算定标参数,对待测样本进行一个或多个检测项目的重新计算,得到重新计算结果;最后显示重新计算结果。通过本发明,目标对象可以选择指定定标参数来对待测样本进行重新计算,而且通过选择指定定标参数,还可以比对不同有效定标参数下的重算结果;如果用户选择了多个检测项目,则本发明还可以同时对多个检测项目进行重新计算,解决了现有技术中的缺陷问题。
  • 一种样本处理方法系统设备可读介质分析

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