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- [发明专利]一种晶体管老化测试箱-CN202210360619.8在审
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曹佶;赵宝忠;林向前
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-04-07
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2023-10-24
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G01R31/26
- 本发明公开了一种晶体管老化测试箱,包括机架和设置在所述机架上的控制组件、用于调节测试信号的插接面板、电源组件和设置在所述机架外部的测试组件,所述插接面板、所述测试组件和所述电源组件均与所述控制组件电性连接,所述测试组件包括多个支撑台和设置在所述支撑台上的水冷板,所述支撑台包括操作箱和设置在所述操作箱上的第一接口组和调节开关,所述第一接口组与所述控制组件电性连接,所述水冷板设置在所述操作箱的上端,所述水冷板上设置有多个老化板和用于插接晶体管的安装孔,所述老化板与所述第一接口组电性连接,待测晶体管通过所述安装孔分别与所述老化板和所述插接面板信号连接。其很容易给晶体管散热,且节约电能。
- 一种晶体管老化测试
- [发明专利]一种微波管测试装置-CN202310718269.2在审
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曹佶;林向前;赵宝忠
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浙江杭可仪器有限公司
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2023-06-16
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2023-07-18
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G01R31/00
- 本发明公开了一种微波管测试装置,包括柜体、信号源、多个测试组件和一个具有检波作用的控制组件,控制组件和多个测试组件均设置在柜体内,信号源设置在柜体上,多个测试组件均与一个信号源电性连接,测试组件包括驱动箱和设置在驱动箱一侧的多个温控单元,温控单元包括第一散热筒、第一风机和导热板,导热板安装在第一散热筒的上端,第一风机的出风口与第一散热筒的进风口相对设置;驱动箱包括多个风道、具有功率分配功能的驱动板和靠近导热板的多个微波输出端头,控制组件和信号源分别与多个驱动板电性连接,多个微波输出端头均与一个驱动板电性连接,风道设置在驱动板的下端,第一散热筒与风道一一相通。其能节省体积,且测试效率高。
- 一种微波测试装置
- [实用新型]胶装机挂胶机构-CN202320346422.9有效
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赵宝忠
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天津市中宝三星科技有限公司
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2023-02-28
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2023-07-14
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B42C9/00
- 本实用新型提供了一种胶装机挂胶机构,包括用于挂胶作业的盒体以及用于对胶料进行加热的加热装置,所述盒体的下方设置有加热腔,加热装置设置于加热腔内,在盒体的上部设置有朝向盒体内侧的至少一个出风口,所述加热腔设置有进风口,所述进风口连通于风机,所述出风口连通于所述加热腔,所述进风口、加热腔以及出风口形成风道,所述风机通过进风口吹入加热腔的空气能够被所述加热装置加热后从所述出风口吹出。采用上述技术方案,本实用新型的胶装机挂胶机构,有效的利用了热量去融化部件暴露在外围的部分,使融化胶料的时间得到大大缩短。
- 装机机构
- [发明专利]一种LED灯板的测试装置-CN202111047644.2在审
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曹佶;赵宝忠;林向前
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浙江杭可仪器有限公司
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2021-09-08
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2023-03-10
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G01R31/28
- 本发明公开了一种LED灯板的测试装置,包括控制单元和测试单元,所述控制单元包括控制箱和设置在所述控制箱内的用于产生测试信号的驱动柜,所述测试单元包括烘箱和设置在所述烘箱内的测试组件,所述测试组件与所述驱动柜信号连接;所述测试组件包括多个水冷板、多个信号板和多个用于安装待测LED灯板的安装框,多个水冷板间隔设置在所述烘箱的内侧壁上,所述安装框与所述水冷板滑动连接,所述安装框通过所述信号板与所述驱动柜信号连接,当所述安装框与所述水冷板滑动连接时,所述安装框与所述信号板插接,其能很方便地对LED灯板的耐热性能进行测试。
- 一种led测试装置
- [实用新型]新型胶装机上料机构-CN202222215691.X有效
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赵宝忠
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天津市中宝三星科技有限公司
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2022-08-23
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2023-03-10
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B42C9/00
- 本实用新型公开了一种新型胶装机上料机构,包括用于放置书芯的书芯夹具、用书输送书芯夹具的进料机构、用于对所述书芯夹具进行定位的书芯归位机构、用于夹持位于书芯夹具中的书芯的夹持机构、用于承接书芯夹具的承接机构以及用于输送书芯夹具的退料机构。采用上述技术方案,本实用新型的新型胶装机上料机构,通过书芯夹具能够便于对散装纸张堆叠成的书芯进行承托以及输送,夹持机构对书芯进行夹持中转,承接机构以及退料机构再将书芯夹具退离,解决了现有技术中书芯上料不便的问题,有效地提高了胶装机的生产效率,可以完成无人值守的书芯自动上料工序,实现了真正的自动化胶装机。
- 新型装机机构
- [外观设计]无人配送车-CN202230457346.X有效
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李良;蔡尧;赵宝忠
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驭势科技(北京)有限公司
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2022-07-18
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2022-11-25
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12-08
- 1.本外观设计产品的名称:无人配送车。2.本外观设计产品的用途:用于快递点到园区的快递运输。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:设计1立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位,省略设计1仰视图;本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位,省略设计2仰视图。6.指定设计1为基本设计。
- 无人配送
- [发明专利]总线通信芯片老化测试装置-CN202110504490.9在审
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曹佶;赵宝忠
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浙江杭可仪器有限公司
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2021-05-10
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2022-11-11
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G01R31/28
- 本发明公开了总线通信芯片老化测试装置,包括控制箱和与所述控制箱可拆卸连接的信号箱,以及与所述信号箱信号连接的多个高温试验箱;控制箱包括控制器模块、通讯模块和程控电源,程控电源和所述通讯模块均分别电性连接所述控制器模块;信号箱包括用于产生各种驱动信号的驱动信号板,驱动信号板包括嵌入式控制单元、数字图形发生单元和用于改变信号参数的总线协议参数单元,所述数字图形发生单元和所述总线协议参数单元均分别与所述嵌入式控制单元信号连接,所述通讯模块和所述程控电源均分别与所述嵌入式控制单元电性连接。其能实现对总线通信芯片进行各种功能测试,且也能对总线通信芯片进行测试监控。
- 总线通信芯片老化测试装置
- [发明专利]一种RAM芯片的测试方法-CN202110445583.9在审
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曹佶;赵宝忠
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浙江杭可仪器有限公司
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2021-04-25
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2022-10-25
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G11C29/12
- 本发明公开了一种RAM芯片的测试方法,其特征在于,包括:步骤A、在直流电下,通过参数测量模块对待测RAM芯片进行IO管脚通断测试,钳位电流下的性能测试,钳位电压下的性能测试;步骤B、通过RAM芯片的器件规格书中的各时序参数确定测试周期,再通过测试程序和测试周期生成测试向量;步骤C、在交流电下,使用功能测试系统根据测试向量生成激励信号传输给被测RAM芯片,并通过功能测试系统分析RAM芯片输出的响应信号与期望信号在整个时序上是否一致,并得出测试结果;步骤D、通过功能测试系统把测试结果传输给FPGA芯片,而进行储存和进一步分析。其能精确地记录RAM芯片的测试结果。
- 一种ram芯片测试方法
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