专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]双能探测方法与装置-CN201810262091.4有效
  • 李树伟;张清军;邹湘;赵博震;王钧效;朱维彬;王永强;张文剑 - 同方威视技术股份有限公司
  • 2018-03-28 - 2021-12-17 - G01N23/04
  • 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括:X射线源,用于向被测物体发送X射线束;闪烁探测器,工作于积分模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号;切伦科夫探测器,位于所述闪烁探测器后方,工作于计数模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
  • 探测方法装置
  • [发明专利]射线检查系统及散射校正方法-CN202010253098.7在审
  • 李树伟;张清军;邹湘;朱维彬;赵博震;李祥华;王钧效 - 同方威视技术股份有限公司
  • 2020-04-02 - 2021-10-26 - G01V5/00
  • 本公开涉及一种射线检查系统及散射校正方法。射线检查系统包括:射线源(1),被配置为产生射线束流(10);第一探测器阵列(2),至少部分位于所述射线束流(10)的覆盖范围内;第二探测器阵列(3),与所述第一探测器阵列(2)位于所述射线检查系统的检查对象(4)的同侧,且位于所述射线束流(10)的覆盖范围外,所述第二探测器阵列(3)被配置为接收所述射线束流(10)在透过所述检查对象(4)的过程中的散射信号;和处理器(5),与所述第一探测器阵列(2)和所述第二探测器阵列(3)信号连接,被配置为根据所述散射信号对所述第一探测器阵列(2)的接收信号进行散射校正。
  • 射线检查系统散射校正方法
  • [发明专利]用于制造闪烁体探测器的设备和方法-CN201910546489.5在审
  • 赵博震;邹湘;李树伟;朱维彬;张清军;李荐民 - 清华大学;同方威视技术股份有限公司
  • 2019-06-21 - 2020-12-22 - G01T1/202
  • 本发明公开一种用于制造闪烁体探测器的设备。闪烁体探测器包括:闪烁体;反射层,其在闪烁体的上方和侧方包围闪烁体;以及光探测器,其设置在闪烁体和反射层的下方,并且具有灵敏面和信号读出电路。所述设备包括:闪烁体工装,其适于夹持由反射层和闪烁体构成的组件;以及光探测器工装,其适于支撑所述光探测器。所述设备还包括光源(例如X光机)和位移装置,所述位移装置适于夹持闪烁体工装并且在动力的驱动下移动闪烁体工装,以使闪烁体的光输出面对准光探测器的灵敏面。本发明还公开一种使用所述设备制造闪烁体探测器的方法。通过采用上述技术方案,本发明实现了小尺寸闪烁体探测器中的闪烁体的光输出面与光探测器的灵敏面之间的精确对准。
  • 用于制造闪烁探测器设备方法

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