专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种空间三维展开遮光罩-CN202310424383.4在审
  • 匡也;高雁;王帅会;许博谦;张春悦;杜一民 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-04-19 - 2023-07-18 - G02B7/00
  • 本发明涉及光学遮光技术领域,具体提供一种空间三维展开遮光罩,包括固定架、展开机构、遮光布料;所述展开机构包括径向展开机构、轴向展开机构;所述径向展开机构包括N组径向展开组件,径向展开组件沿固定架的周向等距分布设置;所述轴向展开机构包括N组轴向展开组件,轴向展开组件设置在径向展开组件上;所述遮光布料折叠套装在延展前的轴向展开机构上,随轴向展开机构的延展带动遮光布料运动。径向展开机构用来保证遮光罩径向的高压缩比,轴向展开机构用来保证沿光轴方向的高压缩比,利用不同伸长长度的轴向展开机构,组合成适用于不同要求的遮光罩。优点在于:具有高压缩比、泛用性、良好的适配性,实现自动展开收起的同时兼顾动作精度。
  • 一种空间三维展开遮光
  • [发明专利]形状记忆铰链的回复力测量装置及方法-CN202310266320.0在审
  • 匡也;王帅会;高雁;杜一民;许博谦 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-03-17 - 2023-06-30 - G01M13/00
  • 本发明涉及材料形状记忆性能测试技术领域,具体提供一种形状记忆铰链的回复力测量装置及方法。装置包括:基座、限位柱安装基座、形状记忆铰链夹持机构、短直线导轨、短直线导轨安装基座、导轨滑块、受压板、力传感器、力传感器驱动机构、直线位置传感装置;所述短直线导轨固定在短直线导轨安装基座上,导轨滑块安装在短直线导轨上,用于带动形状记忆铰链夹持机构在短直线导轨上往复运动;所述形状记忆铰链夹持机构用于紧固形状记忆铰链;所述力传感器驱动机构用于驱动力传感器做直线运动;所述直线位置传感装置用于记录电机的偏转。测量时利用位置传感装置和力传感器,实现对形状记忆铰链不同展开位置的回复力测量,从而对其过程精确描述。
  • 形状记忆铰链回复测量装置方法
  • [发明专利]明暗视野可切换的菌落计数仪-CN202211548486.3在审
  • 高雁;许博谦;王帅会 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2022-12-05 - 2023-05-16 - C12M1/34
  • 本发明提供一种明暗视野可切换的菌落计数仪,包括主箱体、高透玻璃窗口、相机固定架、相机、相机调节架、控制电箱、黑色偏光膜、平面背光源、偏角环形光源和环形散射光源,其主要创新内容在于无任何活动部件,设计了平面背光源、偏角环形光源和环形散射光源,通过三种光源的不同组合,实现不同照明形式,其中,平面背光源在黑色偏光膜作用下为明视野,偏角环形光源在黑色偏光膜作用下为暗视野。本发明具有结构简单、可靠性高、应用范围广泛等优点,通过程序控制可进行明暗视野切换,极大提高了该装置的灵活性,并且可自动实现图像识别和菌落计数。
  • 明暗视野切换菌落计数
  • [发明专利]对接锁紧装置及其对接方法-CN202211532589.0在审
  • 高雁;许博谦;王帅会;杜一民;匡也 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2022-12-02 - 2023-03-07 - H01R13/631
  • 本发明提供的对接锁紧装置,主要包括与望远镜连接的被动端和与对接基座连接的主动端,被动端的被动端法兰的内侧设置有用于定位的内锥面,内锥面与定位器的外锥面相匹配,在内锥面的外侧设置有外螺纹,用于与主动端的转盘内螺纹相匹配;主动端采用具有自锁功能的蜗轮蜗杆进行对接驱动。对接锁紧装置的轴系紧凑,具有极高的结构稳定性和对接精度。本发明提供的对接方法主要通过导向销和锥面对进行定位导向,蜗轮蜗杆进行驱动对接,对接过程便于定位且定位精度较高,依靠螺纹结构以及蜗轮蜗杆的自锁功能进行锁紧,锁紧后具有极高的稳定性和可靠性。
  • 对接装置及其方法
  • [发明专利]一种适用于微振动环境的相位恢复算法-CN202211439520.3在审
  • 鞠国浩;许博谦;白晓泉;鹿芝荣;郭良 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2022-11-17 - 2023-03-07 - G01J9/00
  • 本发明涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种适用于空间微振动环境的相位恢复算法,包括步骤:S1、采集点目标在探测器所成的准单色光点扩散函数图像;S2、建立光学系统成像模型,获得波前像差与所述准单色光点扩散函数图像的强度分布之间的函数关系;S3、对微振动影响的随机过程进行统计学描述,根据光学系统参数及探测器参数,确定与二维高斯函数对应的卷积模板;S4、利用卷积模板,修正函数关系,得到修正后的成像模型;S5、对修正后的成像模型进行去卷积操作,用去卷积的图像代替原始图像,改进迭代过程。本发明的相位恢复算法适用于空间微振动环境的相位恢复算法,保证在空间微振动环境中相位恢复法的精度。
  • 一种适用于振动环境相位恢复算法

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