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[实用新型]光电倍增管表面反射率无损定量检测装置及检测系统-CN202320222473.0有效
发明人：杨晓宇;衡月昆;曹国富;温良剑 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型涉及光电倍增管表面反射率无损定量检测装置及检测系统，属于微弱光检测技术领域，解决了现有装置操作不易实现，测试效率低，并且测得的数据不准确的问题。该检测装置包括光源、光谱仪、积分球、待测光电倍增管、测试工装、测试支架以及数据采集和处理系统；所述待测光电倍增管固定于所述测试支架上，所述积分球通过所述测试工装固定于所述待测光电倍增管的表面，所述光源和所述光谱仪分别与所述积分球连接，所述数据采集和处理系统与所述光谱仪连接。本实用新型实现了对标准铝镜光谱数据的快速、无损检测。
光电倍增管表面反射率无损定量检测装置系统

[发明专利]精确测量低二次电子发射系数材料最薄贡献厚度的方法-CN202210473415.5有效
发明人：王玉漫;刘术林;孙志嘉;闫保军;周健荣;衡月昆;蒋兴奋;张斌婷;韦雯露;姚文静;彭华兴;谭金昊 -专利权人：散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： C23C16/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种精确测量低二次电子发射系数的材料最薄贡献厚度的方法，属于材料表征领域，包括如下步骤：S1、首先选择衬底材料，并超过其最薄贡献厚度；S2、先将衬底材料放入原子层沉积设备中的反应腔室进行沉积，制得样品；S3、然后将样品放入二次电子测试系统中测量；S4、获得循环数和二次电子发射产额的对应关系，确定最少循环数；S5、最后在硅衬底上生长最少循环次数的目标材料，进行薄膜厚度测量；本发明通过选择相对目标材料二次电子发射系数高的材料作为衬底，通过原子层沉积方法控制循环数从而获得低二次电子发射系数材料最薄贡献厚度的最少循环数，在硅衬底上复现出薄膜进行厚度的测量，从而获得精确的低二次电子发射系数材料最薄贡献厚度。
精确测量二次电子发射系数材料贡献厚度方法

[实用新型]一种透明样件内应力方向检测装置-CN202320084638.2有效
发明人：杨晓宇;衡月昆;陈志强;魏存峰;章志明;魏龙 -专利权人：济南中科核技术研究院;中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-01-29 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种透明样件内应力方向检测装置，属于内应力检测技术领域，解决了现有技术中内应力方向无损检测的问题。包括光学平台，以及依次安装在光学平台定位孔上的入射装置、样件固定工装和接收装置；所述入射装置包括入射光组件以及带有起偏器的第一偏振片镜架，所述入射光组件发出的平行光经所述起偏器入射至待测样件；所述样件固定工装为一个带有凹槽的U型装置，用于固定待测样件；所述接收装置包括接收光组件、第二光纤以及光谱仪，所述接收装置用于接收从待测样件出射的平行光。实现了透明样件内应力方向无损检测。
一种透明样件内应力方向检测装置

[发明专利]一种有机玻璃内应力方向的检测装置与方法-CN202310076840.5在审
发明人：杨晓宇;衡月昆;陈志强;魏存峰;章志明;魏龙 -专利权人：济南中科核技术研究院;中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-01-29 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种有机玻璃内应力方向检测装置与方法，属于内应力检测技术领域，解决了现有技术中内应力方向无损检测的问题。包括设置于待测有机玻璃两侧的入射装置和接收装置；调整入射装置和接收装置中第一偏振片镜架、波片镜架、第二偏振片镜架的刻度盘，在光谱仪采集的光谱数据整体光谱曲线幅值最小时，得到待测有机玻璃内应力的可能方向；其中，所述可能方向包括与波片慢轴方向平行或垂直；保持波片镜架刻度盘不变，同步转动起偏器刻度盘与检偏器刻度盘，记录波片光程差与待测有机玻璃光程差的结果确定最终有机玻璃内应力的方向。实现了有机玻璃内应力方向无损检测。
一种有机玻璃内应力方向检测装置方法

[发明专利]光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统-CN202310118163.9在审
发明人：杨晓宇;衡月昆;曹国富;温良剑 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种光电倍增管表面反射率检测方法及检测系统，属于微弱光检测技术领域，解决了现有检测方法操作不易实现，测试效率低，并且测得的数据不准确的问题。该检测方法包括如下步骤：步骤1：对标准铝镜进行光谱测试得到标准铝镜的光谱数据；步骤2：对待测光电倍增管表面进行光谱测试得到待测光电倍增管表面的光谱数据；步骤3：将标准铝镜的光谱数据和待测光电倍增管表面的光谱数据代入反射率计算公式得到光电倍增管表面的反射率。本发明实现了对光电倍增管表面反射率的快速、无损检测。
光电倍增管表面反射率检测方法系统

[发明专利]光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法-CN202310118161.X在审
发明人：杨晓宇;衡月昆;曹国富;温良剑 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法，属于微弱光检测技术领域，解决了现有检测系统操作不易实现，测试效率低，并且测得的数据不准确的问题。该检测系统包括检测装置和标准铝镜测试装置；检测装置包括光源、光谱仪、积分球、待测光电倍增管、测试工装、测试支架以及数据采集和处理系统；待测光电倍增管固定于测试支架上，积分球通过测试工装固定于待测光电倍增管的表面，光源和光谱仪分别与积分球连接，数据采集和处理系统与光谱仪连接。本发明实现了对光电倍增管表面反射率的快速、无损检测。
光电倍增管表面反射率无损定量检测系统方法

[实用新型]一种集成加热除湿装置的粒子计数器-CN202222978134.3有效
发明人：杨晓宇;衡月昆;于富光 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-11-09 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成加热除湿装置的粒子计数器，属于粒子计数技术领域，解决了高相对湿度条件下水颗粒进入粒子计数器造成器件损坏以及影响粒子计数器测量准确性的问题。本实用新型包括：粒子计数器、软管和加热除湿装置；所述软管一端连接所述粒子计数器，另一端连通所述不锈钢管；加热除湿装置包括：加热带控制器、加热带和不锈钢管；所述加热带螺旋缠绕于所述不锈钢管的外部；所述加热带控制器与所述加热带连接，用于控制所述加热带的加热温度；所述不锈钢管用于连通待检测的气体空间。本实用新型可实现对经过不锈钢管内部的水雾进行加热汽化以达到降低湿度，从而抑制或排除水雾进入粒子计数器，并最终保证粒子计数器检测结果的准确性。
一种集成加热除湿装置粒子计数器

[实用新型]一种大型板材规则反射比测试装置-CN202222363451.4有效
发明人：杨晓宇;衡月昆;温良剑 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-09-06 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种大型板材规则反射比测试装置，包括：Y型光纤以及与所述Y型光纤的第一分支光纤、第二分支光纤分别连接的光源及光谱仪；固定机构，包括固连的支撑件和吸附件，所述支撑件中轴位置设置有通孔，所述Y型光纤的主体光纤穿过所述支撑件的通孔并通过所述吸附件吸附固定于所述待检测板材表面。该装置适用性强，降低了对测试环境的要求，能够灵活测量大型板材的规则反射比，并提高测试效率和测试结果的准确性。
一种大型板材规则反射测试装置

[实用新型]一种有机玻璃内应力自动化检测装置-CN202222244254.0有效
发明人：杨晓宇;衡月昆;陈志强;魏存峰;章志明;魏龙 -专利权人：济南中科核技术研究院
申请日： 2022-08-25 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种有机玻璃内应力自动化检测装置，属于材料检测装置技术领域，解决了现有检测装置无法应用于对生产线上产品的检测以及检测过程复杂的问题。本实用新型包括蜂窝光学基座，蜂窝光学基座用于固定光路系统的出射端和接收端，出射端及接收端沿垂直方向安装，其中出射端位于下侧，接收端位于上侧，有机玻璃板材位于出射端与接收端之间，由生产线带动而进行水平移动；出射端通过光纤连接电控光开关后，再与光源进行连接，接收端通过光纤与电控衰减器连接，最后与光谱仪连接。本实用新型实现了对有机玻璃内应力的自动化检测功能，集成化程度高、操控方便、检测效率高。
一种有机玻璃内应力自动化检测装置

[发明专利]一种材料规则反射比检测装置及方法-CN202211084792.6在审
发明人：杨晓宇;衡月昆;温良剑 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-09-06 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种材料规则反射比检测装置及方法。该装置包括：光测试机构，包括Y型光纤以及与Y型光纤的第一分支光纤、第二分支光纤分别连接的光源及光谱仪；固定机构，包括固连的支撑件和吸附件，支撑件用于将Y型光纤的主体光纤端口固定于待检测材料表面，吸附件用于将固定机构吸附在待检测材料表面；光源发出的光依次通过Y型光纤的第一分支光纤、主体光纤照射在待检测材料表面，待检测材料的反射光谱依次通过Y型光纤的主体光纤、第二分支光纤进入光谱仪；处理器，根据光源光谱、待检测材料的反射光谱以及标定规则反射比计算获得待检测材料的规则反射比。该装置既能够灵活测量待检测材料的规则反射比、提高检测效率，还能提高检测的准确性。
一种材料规则反射检测装置方法

[发明专利]用于中子探测及成像的原子层沉积型微通道板及制作方法-CN202210521586.0在审
发明人：王玉漫;孙志嘉;刘术林;周健荣;闫保军;衡月昆;蒋兴奋;张斌婷;韦雯露;彭华兴;谭金昊 -专利权人：散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-05-13 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01T3/00 文献下载
摘要：本发明涉及中子探测技术领域，尤指一种用于中子探测及成像的原子层沉积型微通道板及制作方法；所述的原子层沉积型微通道板包括微孔阵列结构，以及依次顺序生长在微孔阵列结构上的中子敏感层、电导层、发射层和电极层；中子透过样品经微通道板的中子敏感材料发生核反应产生原初电荷，进而在不同微孔内电子雪崩获得空间信息，结合中子飞行时间信息得到样品的微观结构图像。本发明通过设计微通道板的几何尺寸，借助原子层沉积技术选择配合含有BCl3前驱源制备的中子敏感层、电导层和发射层，从而在高分辨中子成像领域获得高中子敏感的微通道板。
用于中子探测成像原子沉积通道制作方法

[实用新型]一种液闪探测设备及成像系统-CN202220008652.X有效
发明人： 衡月昆;魏龙;徐美杭;荆小平 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-01-05 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01T1/204 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种液闪探测设备及成像系统，该液闪探测设备包括探测器和信号采集组件，探测器包括多个密排接触的探测管和填充于所述探测管内的液体闪烁体；信号采集组件包括与所述探测管一端密封连接的电路板和设于电路板一侧的多个硅光电倍增管，所述硅光电倍增管位于所述探测管内并与所述液体闪烁体接触，所述硅光电倍增管与所述探测管的数量和位置匹配。本实用新型可以最大程度避免光损失，并且可以形成一个智能型的探测器。
一种探测设备成像系统

[发明专利]一种用于成像系统的液闪探测装置、成像系统和方法-CN202210004333.6在审
发明人：徐美杭;魏龙;衡月昆;李梦朝;蔡志岩 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2022-01-05 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01T1/204 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于成像系统的液闪探测装置、成像系统和方法，该液闪探测装置包括探测单元、信号采集单元和与所述探测子单元数量匹配的多个灌入管，探测单元包括多个并排固定的探测子单元，所述探测子单元为管状结构，并且设有第一开口和第二开口，所述探测子单元内填充有液体闪烁体；信号采集单元包括与所述探测子单元的所述第一开口密封连接的电路板和多个与所述探测子单元数量和位置匹配的硅光电倍增管；所述灌入管为自所述第二开口向外渐缩式延伸形成的管道。本发明可以最大程度避免光损失，并且可以避免液体闪烁体出现热胀冷缩效应而造成液体闪烁体泄露的问题。
一种用于成像系统探测装置方法

[发明专利]一种高γ抑制比的中子敏感的微通道板及其制作方法-CN202111520597.9在审
发明人：刘术林;孙志嘉;闫保军;周健荣;衡月昆;张斌婷;韦雯露;闫文静;彭华兴 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2021-12-14 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： H01J43/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种高γ抑制比的中子敏感的微通道板及其制作方法，采用10B2O3摩尔百分比达17.5～25.0％的传统的高硼硅玻璃，且其重金属元素的原子量Z＞43的含量小于10ppm，通过配料、熔炼、浇铸玻璃棒、冷加工成六棱柱、打孔、拉单丝或者再拉复丝等类似空芯微通道板的制作工艺，制作出微通道阵列，随后在通道内壁采用ALD技术依次生长电阻层和二次电子发射层，由此制作的微通道板，对热中子的探测效率达到50％以上，γ抑制比≤0.1％，有利于对中子的探测与成像。
一种抑制中子敏感通道及其制作方法

[发明专利]一种透明材料残余应力的无损检测系统及方法-CN202110290757.9有效
发明人：杨晓宇;衡月昆;李兆涵;王贻芳 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2021-03-18 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01L5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种透明材料残余应力的无损检测系统，属于材料检测技术领域，解决了现有检测系统测量精度低、系统复杂且成本高的问题。该系统包括光源发生装置，产生可见光束；系数标定机构，对待检测透明材料标准件应力光学系数进行标定；检测装置，测试获得起偏器的偏振方向和检偏器的偏振方向分别处于多组不同的角度时对应的预设波段范围的多个光谱；处理器，根据多个光谱确定待检测透明材料测试件残余应力的方向，以及，基于光谱幅值最大的光谱，通过数值拟合法拟合获得对应的光程差，基于该光程差和应力光学系数计算得到待检测透明材料测试件残余应力的大小，该系统能够工作于自然光环境中，基于无损检测能够精确、定量确定透明材料的应力大小。
一种透明材料残余应力无损检测系统方法

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