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[发明专利]用于测定方法的提供样本的液体和固体成分的方法-CN200710135987.8无效
发明人： J·W·斯蒂芬斯 -专利权人： 热生物之星公司
申请日： 1999-12-17 - 公布日： 2007-08-29 - 主分类号： G01N33/569 文献下载
摘要：一种用于测定方法的提供包含液体和固体成分的样本的等分试样的方法，该方法包括使所述样本与采样器接触，该采样器被装配成根据所述样本的液体和固体成分的比例获取所述样本的液体和固体成分，在所述采样器获取到所述样本的所述等分试样的条件下；并提供所述等分试样用于测定方法。
用于测定方法提供样本液体固体成分

[发明专利]阵列元件的检测、解析及识别-CN200480010302.1无效
发明人： L·瑞;D·D·克拉克;R·杰森;D·莫尔 -专利权人： 热生物之星公司
申请日： 2004-04-14 - 公布日： 2006-05-17 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：一种用于分析光学薄膜阵列的图像分析工作站。各个独立阵列包括单个光学薄膜测试表面，该光学薄膜测试表面提供了多个离散寻址位置，每个位置又包括一个针对感兴趣分析物的固定化捕捉试剂。一个或多个离散寻址位置可以提供控制信号或基准信号。
阵列元件检测解析识别

[发明专利]基于薄膜衰减光而分析相关试验的仪器-CN200510085540.5无效
发明人： S·杨 -专利权人： 热生物之星公司;旭化成株式会社
申请日： 2000-08-03 - 公布日： 2006-02-15 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：改进的偏振片椭圆测量仪能够提高信号质量和信噪比性能。这种改进是基于相对于一个固定的偏振片旋转另一个偏振片，以便产生与分析薄膜相关的AC模式信号。AC模式信号可以与背景信号比较，使用样本信号与背景信号的比值提供薄膜厚度的更精确测量。可以把不知厚度的归一化AC信号与对于确切厚度测量具有类似光学性能的薄膜产生的标准曲线比较，或者可以直接用于表示相对厚度值。还描述了本发明改进偏振片椭圆测量仪的其他变形，其中去掉一个或两个固定偏振片，以便通过减少光学元件的数量改善信号强度。设计这些变形应用于特别的薄膜和基质条件。
基于薄膜衰减分析相关试验仪器

[发明专利]具有完全样品处理能力的医疗检测系统的自动测试装置-CN00812202.4无效
发明人： D·D·克拉克;J·W·斯特费恩斯;J·多尔松;I·韦尔斯;A·J·富奕;J·E·梅纳德;J·贝克;J·蔡斯;R·D·麦凯克伦;甲贺国男;J·C·小巴尔萨维奇;C·比其科夫;A·古桑 -专利权人： 热生物之星公司
申请日： 2000-08-03 - 公布日： 2004-12-22 - 主分类号： G01N33/53 文献下载
摘要：本发明涉及用于测定样品中分析物的存在或定量的成本有效的分析仪。该分析仪采用一个包括样品接收口和可转动传送带的测定药筒，其中所述传送带包含多个试剂井。每个试剂井包括一个用于将试剂传送到测试面上的穿刺部件。该仪器能够编排测定药筒，以便以预定可变的方式将样品和试剂传送到测试面上，由此提供了一种特定于分析中的样品种类的测定方案。本发明还部分涉及使用这些仪器所需的成分、部件、一次性用品、试剂传输系统、附件和方法。适当的应用包括传染病检测、癌症检测和监测、治疗药物水平监测、变态反应测试、环境测试、食品测试、人兽样品的诊断测试，以及脱机处理测试。
具有完全样品处理能力医疗检测系统自动测试装置

[发明专利]基于薄膜衰减光而分析相关试验的仪器-CN00811055.7无效
发明人： S·杨 -专利权人： 热生物之星公司;旭化成株式会社
申请日： 2000-08-03 - 公布日： 2002-09-04 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：改进的偏振片椭圆测量仪能够提高信号质量和信噪比性能。这种改进是基于相对于一个固定的偏振片旋转另一个偏振片,以便产生与分析薄膜相关的AC模式信号。AC模式信号可以与背景信号比较,使用样本信号与背景信号的比值提供薄膜厚度的更精确测量。可以把不知厚度的归一化AC信号与对于确切厚度测量具有类似光学性能的薄膜产生的标准曲线比较,或者可以直接用于表示相对厚度值。还描述了本发明改进偏振片椭圆测量仪的其他变形,其中去掉一个或两个固定偏振片,以便通过减少光学元件的数量改善信号强度。设计这些变形应用于特别的薄膜和基质条件。
基于薄膜衰减分析相关试验仪器

[发明专利]光学分析装置及方法-CN00805077.5无效
发明人： J·E·梅纳德;M·A·克罗斯比;A·J·富杰 -专利权人： 热生物之星公司
申请日： 2000-03-06 - 公布日： 2002-04-03 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：本发明涉及一种检测试样中感兴趣的分析物的光学分析装置和使用该装置的方法,可方便地对流过该设备的试样的流动特性进行控制而无需用户的参与。光学分析装置包括一个具有吸收性材料的基部和具有光学激活的测试层叠件的部件,该部件与基部可转动地连接以便在一下部位置和上一部位置之间的旋转。在该下部位置处,光学激活的测试层叠件与吸收性材料相接触,以便通过表面汲取试样。在该上部位置处,光学激活的测试层叠件不与吸收性材料相接触。
光学分析装置方法