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[发明专利]一种用于芯片表面处理装置-CN202210467061.3有效
发明人：黄忠承 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： B08B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及芯片的表面处理技术领域，具体为一种用于芯片表面处理装置，设置在壳体内部的筒体，该筒体的后端设置有旋转电机，该旋转电机通过电机安装基座与壳体的内部固定；旋转电机带动固定轴上的多个装有芯片的卡座组件转动，进而带动通入筒体内的处理颗粒和有机溶剂转动并混合，使得处理颗粒表面均匀的沾有有机溶剂，沾有有机溶剂的处理颗粒在高速转动的筒体内对芯片表面形成碰撞，以带走芯片表面胶体和污渍。本发明通过固定轴的转动带动表面均匀的沾有有机溶剂的处理颗粒转动，处理颗粒在高速转动的筒体内对芯片表面形成碰撞摩擦，以带走芯片表面胶体和污渍，可有效防止芯片表面被刮花，提高了芯片的清理速度。
一种用于芯片表面处理装置

[实用新型]一种延时发生电路-CN202220591463.X有效
发明人：陈家乐 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： H03K17/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种延时发生电路，涉及集成电路技术领域，包括：电源模块，触发控制模块，手动控制模块，延时控制模块，输出延时模块，指示模块；所述电源模块提供直流稳压，触发控制模块通过光控和声控输出触发信号，手动控制模块通过手控输出触发信号，延时控制模块接收触发信号并通过逻辑电路和触发电路输出延时控制信号，输出延时模块进一步两种延时控制功率管工作，指示模块提示工作模式。本实用新型延时发生电路可通过声控、光控和手控的方式进行延时控制，且该延时发生电路内部无接触点，延时控制模块采用触发器的方式触发延时控制的进行，并且在输出延时模块中可由两种延时控制电路进行交替工作，并对功率管做进一步延时控制。
一种延时发生电路

[实用新型]一种基于MOS管的驱动电路-CN202220587624.8有效
发明人：陈应雁 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： H03K17/687 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于MOS管的驱动电路，涉及功率管驱动电路技术领域，包括：稳压供电模块，用于提供稳压；控制信号输入模块，用于提供控制指令；逻辑控制模块，用于输出控制信号；开关控制模块，用于调节输出的电压电位并输出驱动信号；驱动模块，用于提高驱动信号的驱动能力；串联MOS管模块，采用串联型MOS管；过流保护模块，用于检测电流信号并控制所述逻辑控制模块。本实用新型基于MOS管的驱动电路通过开关控制模块提供驱动信号，并通过开关控制模块将驱动信号的电位进行平移，有助于改善驱动电路，控制信号输入模块实现低电压控制大电压，串联MOS管模块的工作效率高，还采用过流保护模块对串联MOS管模块进行保护。
一种基于 mos 驱动电路

[实用新型]一种基于半导体的红外遮挡报警装置-CN202220591469.7有效
发明人：陈应雁 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G08B21/18 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于半导体的红外遮挡报警装置，涉及红外检测控制技术领域，包括：稳压供电模块，用于提供稳定电压；红外光发射模块，用于输出红外信号，红外光接收模块，用于接收红外信号并输出控制信号；音频调节模块，用于音频调节；音频输出模块，用于进行报警；方波发生模块，用产生第二方波信号；射频输出模块，用于无线射频传输。本实用新型基于半导体的红外遮挡报警装置通过方波信号完成红外光的输出，并由红外光接收模块接收以判断是否有遮挡发生，采用语音芯片控制报警功能，报警声可根据所需自行设定和调节，并且具有射频输出模块，能够在发生遮挡时，通过无线射频远距离通知使用者，成本低。
一种基于半导体红外遮挡报警装置

[发明专利]一种应用于LDO的保护电路-CN202210391341.0有效
发明人：何有志;邢巍;邢晓萍 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-04-14 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种应用于LDO的保护电路，涉及集成电路设计领域，该应用于LDO的保护电路包括：LDO稳压模块，用于在输出给负载的输出电压减小时，对输出电压增大；在输出电压增大时，对输出电压减小；电压限制模块，用于构建相较于LDO稳压模块输出电压更低的电压满足负载工作需求；电压限制模块包括：镜像模块，用于构建LDO稳压模块输出侧开关管的镜像开关管；与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明通过电压限制模块对使得LDO稳压的电压降低，构建了低压供电，满足LDO在物联网和便携式设备等低压低功耗应用场景中使用，电流限制模块对LDO的供电电流进行限定，根据电路电压变化来检测，未采集负载电流，节约了电能。
一种应用于 ldo 保护电路

[实用新型]一种加湿器雾化驱动电路-CN202220282302.2有效
发明人：陈应雁 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-02-11 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： F24F6/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种加湿器雾化驱动电路，涉及雾化驱动技术领域，包括：湿度检测模块，按键控制模块，采样模块，主控制模块，驱动模块，驱动保护模块，显示模块，振荡器模块；所述湿度检测模块检测环境湿度，按键控制模块进行功能选择，采样模块检测驱动模块的电压和电流，主控制模块控制模块工作，驱动模块提高驱动能力并驱动振荡器模块工作，驱动保护模块抑制过压，振荡器模块使试液雾化。本实用新型加湿器雾化驱动电路采用按键控制模块进行功能的选择，并根据湿度检测模块检测环境湿度情况，主控制模块智能调节并输出脉冲调制性信号，继而控制驱动模块的智能调节振荡器模块的工作功率，并具备驱动保护模块避免过压的发生。
一种加湿器雾化驱动电路

[发明专利]一种半导体芯片的缺陷检测装置及方法-CN202210177266.8有效
发明人：张文臣;孙成平 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体芯片的缺陷检测装置及方法，属于芯片检测设备技术领域，其技术要点是：包括传送带，传送带上放置待检测的半导体芯片，还包括：检测台，检测台内设置有检测模块，检测模块用于检测半导体芯片；夹取机构，夹取机构用于夹取半导体芯片至检测模块进行检测；以及取拿机构，取拿机构包括支座、支撑组件、动力组件、推动组件、转动组件以及传动组件，支座设置在传送带一侧，支座的右侧固定连接支撑组件，支撑组件连接动力组件、推动组件、转动组件以及传动组件，动力组件与推动组件以及转动组件连接，转动组件连接传动组件，传动组件的一侧连接夹取机构，具有能够智能检测芯片的优点。
一种半导体芯片缺陷检测装置方法

[发明专利]一种半导体器件测试装置-CN202210343394.5有效
发明人：黄忠承;郑博 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-04-02 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种半导体器件测试装置，包括：基座，设置在基座上的转盘，在转盘一侧设置的移动机构；转盘上设置有多个均匀排列的测试治具，在测试治具内设置有用于半导体进行测试的载具，在载具上设置有多个用于半导体器件放置的定位槽；移动机构的上部设置有CCD相机组件以及激光打标组件；测试治具上具有用于半导体器件功能测试的矩阵电路；矩阵电路具有多个独立的测试单元，以及具有判断部、存储部、控制部和执行部；本发明通过测试逻辑来追踪测试信号与半导体器件之间的导通，半导体器件具有多个功能节点，每一功能节点都按照设定的测试条件进行测试，以及通过测试事件（不同功能节点的测试内容不同）得到每一功能节点的测试结果。
一种半导体器件测试装置

[实用新型]一种低压供电的非稳态多谐振荡器-CN202220280790.3有效
发明人：张明发 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-02-11 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： H03K3/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种低压供电的非稳态多谐振荡器，涉及多谐振荡器电源技术领域，包括：供电模块，控制模块，电压调节模块，电压输出模块，非稳态多谐振荡器模块，采样保护模块；所述供电模块提供直流电，控制模块控制多谐振荡器工作，电压调节模块进行升压，电压输出模块分级调节电压值，非稳态多谐振荡器模块产生方波信号，采样保护模块检测方波信号并进行过压阈值比较。本实用新型低压供电的非稳态多谐振荡器采用电压调节模块对输入的低电压进行升压处理，并进行分级电压输出，通过不同电压值可控制不同的非稳态多谐振荡器工作，实现低压控制非稳态多谐振荡器，并且对非稳态多谐振荡器模块进行采样保护。
一种低压供电稳态多谐振荡器

[实用新型]一种液箱液位检测报警电路-CN202220317079.0有效
发明人：陈家乐 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-02-17 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01F23/263 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种液箱液位检测报警电路，涉及液位检测报警技术领域，包括：电容式液位检测模块，压力检测模块，信号调理模块，主控制模块，正弦激励模块，报警驱动模块，报警模块；所述电容式液位检测模块检测液箱液位情况，压力检测模块检测液箱质量，信号调理模块调理输入信号，主控制模块进行数据处理并控制模块工作，正弦激励模块提供正弦激励电源，报警驱动模块调节报警音量。本实用新型液箱液位检测报警电路采用分段式电容传感器检测液箱内液位信息，通过正弦激励模块为电容传感器提供激励电源，提高液位检测精度，压力检测模块检测液箱的质量和大致液位信息，且主控制模块会根据液位信息的不同输出不同的占空比的控制信号并控制报警。
一种液箱液位检测报警电路

[发明专利]一种高灵敏度触控压力检测方法及系统-CN202210159777.7有效
发明人：肖卫兴 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本发明提供了一种高灵敏度触控压力检测方法及系统，其中，该方法包括：获取第一触控数据信息，第一触控数据信息为触摸触控屏上正对指纹识别模组的区域获得的；根据第一触控数据信息，获取指纹识别模组检测获得的触控指纹面积信息，获得第一指纹识别区域信息；根据第一触控数据信息，获取压力检测模组检测获得的触控压力信息，获得第一压力检测信息；获取第一压力调整参数；采用第一压力调整参数调整第一压力检测信息，获得第二压力检测信息；采用第一指纹识别区域信息校正第二压力检测信息，得到第三压力检测信息，作为压力检测结果。
一种灵敏度压力检测方法系统

[发明专利]一种AB类放大器-CN201910843535.8有效
发明人：何有志;邢巍 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： H03F3/21 文献下载
摘要：本发明涉及一种AB类放大器，包括：输入级电路、第一晶体管对、电阻对、第二晶体管对和第三晶体管对。输入级电路具有第一电压输入端、第二电压输入端、第一电流输出端和第二电流输出端。第一晶体管对包括第一晶体管和第二晶体管。电阻对包括第一电阻和第二电阻。第二晶体管对包括第三晶体管和第四晶体管。第三晶体管对包括第五晶体管和第六晶体管。其中第六晶体管的第二端连接所述AB类放大器的输出端。
一种 ab 放大器

[发明专利]一种半导体质量检测装置及方法-CN202111197547.1有效
发明人：张文臣 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明适用于半导体生产相关领域，提供了一种半导体质量检测装置及方法，所述装置包括上料带、转移机构、视觉检测设备和性能检测机构。上料带将半导体元器件传送至转移机构上，视觉检测设备对半导体元器件的外观进行检测之后，转移机构继续将半导体元器件传送至性能检测机构所在的位置，性能检测机构对半导体元器件的通电性能进行检测，经过两次质检，质检出外观不合格或者性能不合格的产品，将不合格件和合格件分拣到不同的盛放容器中。该装置能够连续自主的对抽检的样品进行质检，质检效率高，可以在与人工质检时间相同的情况下质检更多的样品，使得抽检数量与整批产品数量相匹配，达到统计学抽样调查的基准。
一种半导体质量检测装置方法

[发明专利]一种电容式触控按键的检测方法和检测装置-CN201810327300.9有效
发明人：程君健;陈家乐 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2018-04-12 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： H03K17/96 文献下载
摘要：本发明适用于电容式触控按键的检测方法和检测装置，所述检测方法包括以下步骤：获取预设的第一电容矩阵和预设的第一电容均值矩阵；检测当n个电容触控按键中其中一个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量，并根据检测到所述n个电容触控按键的分布电容变化量，得到第二电容矩阵；根据第二电容矩阵的平均值，得到第二电容均值；根据预设的第一电容矩阵、预设的第一电容均值矩阵、第二电容矩阵和第二电容均值，得到相关系数矩阵R，其中，相关系数矩阵R包括每个按键的相关系数r；根据相关系数矩阵R中每个按键的相关系数r，得到相关系数的最大值，并当相关系数的最大值大于预设阈值时，判断相关系数的最大值对应的按键为被按下的按键。
一种电容式触控按键检测方法装置

[发明专利]一种半导体击穿测试装置及方法-CN202111178760.8在审
发明人：张文臣 -专利权人： 深圳市赛元微电子有限公司
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明适用于半导体生产相关领域，提供了一种半导体击穿测试装置及方法，包括传送带、扫描识别设备、测试机构和变流机构。传送带将半导体持续输送到扫描识别设备以及测试机构所在的位置，扫描识别设备对半导体的型号和引脚数量进行识别，控制测试机构对不同型号的半导体进行测试，兼容性较好，并且连续自动测试提高工作效率；变流机构使得通入测试机构和半导体中的电流逐渐增大，能够精准捕捉到击穿半导体的极限最大电流值，使得测试准确性更高。
一种半导体击穿测试装置方法

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