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[实用新型]托盘处理总成-CN202223236392.0有效
发明人：沈超;韩世杰;陈兵 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H01L21/673 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种托盘处理总成，该托盘处理总成包括设置有多个间隔布置的检测孔的测试托盘、用于封堵检测孔的堵头和用于安装于机架的感应组件；堵头能够调整多个检测孔的开孔状态，且开孔状态包括开孔和闭孔；感应组件被配置为响应于多个检测孔的开孔状态产生用于表征不同测试托盘的检测信号；其中，感应组件包括多个感应元件，且感应元件的数量不小于检测孔的数量；测试托盘相对机架装配时，每一感应元件能够对应感应一个检测孔的开孔状态。本实用新型提供的托盘处理总成只需要利用堵头调整检测孔的开孔状态，并利用感应元件的配合，即可满足不同测试托盘的识别，不仅操作方便，且制造简洁，成本较低。
托盘处理总成

[实用新型]张紧保持机构以及传动装置-CN202223037407.0有效
发明人：沈超;韩世杰 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： B65G23/44 文献下载
摘要：本申请涉及半导体测试技术领域，提供了一种张紧保持机构以及传动装置。该张紧保持机构用于安装于做回转运动的传动件，传动件具有相对且间隔布置的第一端和第二端；张紧保持机构包括第一固定臂、第二固定臂和锁紧件：第一固定臂连接于传动件的第一端；第二固定臂连接于传动件的第二端，且第二固定臂与第一固定臂连接；锁紧件用于将第一固定臂和第二固定臂锁定，且锁紧件被配置为响应于外力驱动而促使第一固定臂和第二固定臂靠近或远离。本申请提供的张紧保持机构不仅能够满足对链条或同步带的张紧，而且便于在狭小空间内作业，减小占用的安装空间。
保持机构以及传动装置

[实用新型]电子元件测试的控温装置及测试系统-CN202223218944.5有效
发明人：于勤超;邱国志;张琦杰 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子器件测试领域，特别是涉及电子元件测试的控温装置及测试系统。一种电子元件测试的控温装置，包括冷却组件及喷射组件，所述喷射组件连接于所述冷却组件，所述喷射组件将所述冷却组件中的介质喷射至电子元件的测试工位上；所述喷射组件包括分液结构，所述分液结构具有进流口、至少两个出流口及至少两条通道，所述进流口连通于所述冷却组件，所述进流口与所述出流口通过所述通道连通，介质经所述通道分流至每个所述出流口。本实用新型通过一个分液结构中的多条通道分流分液，使得一个分液结构能够同时对应多个测试工位，从而提高测试效率。
电子元件测试装置系统

[外观设计]芯片测试控制器-CN202230790489.2有效
发明人：程高飞;周福莹;孟龄昊;耿霄雄 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-11-25 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：芯片测试控制器。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于控制芯片测试过程中的各个模块。3.本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
芯片测试控制器

[外观设计]拓展坞-CN202230792683.4有效
发明人：程高飞;周福莹;孟龄昊;耿霄雄 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-11-26 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： 14-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：拓展坞。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于拓展芯片测试设备的接口。3.本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
拓展

[外观设计]测试机-CN202230820419.7有效
发明人：宋昊;程高飞;周福莹 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：测试机。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于对芯片、晶圆进行测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
测试

[发明专利]一种压电喷射阀及其校正方法-CN202310239865.2在审
发明人：俞林军;夏志刚;苏梦达;李腾飞;张成就 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-03-07 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： B05C5/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种压电喷射阀及其校正方法。该校正方法包括：1)向压电喷射阀通入液体，使得液体由所述压电喷射阀的喷嘴滴落；2)调节压电喷射阀的压电致动器的位置，从而带动压电喷射阀的撞针朝向喷嘴移动，直至喷嘴的滴液频率减小至预设频率。如此，通过观测喷嘴的滴液频率来判断撞针与喷嘴的接触压力是否合适，由于滴液频率便于准确的观测和统计，从而避免了过度依赖操作人员的经验，有利于提高校正的准确性和一致性，提高压电喷射阀点胶质量的稳定性。
一种压电喷射及其校正方法

[发明专利]识别开尔文探针中心的方法、装置、存储介质以及电子设备-CN202211417479.X有效
发明人：蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-11-14 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G06V10/44 文献下载
摘要：本申请公开了一种识别开尔文探针中心的方法、装置、存储介质以及电子设备。其中，该方法包括：确定开尔文探针图像中的第一探针与第二探针，确定图像中第一探针对应的第一轮廓点集合，以及图像中第二探针对应的第二轮廓点集合；筛选出第一轮廓点集合中与第二探针的端部距离为第一距离的第一轮廓点，以及第二轮廓点集合中与第一探针的端部距离为第二距离的第二轮廓点；根据第一轮廓点构建第一直线，根据第二轮廓点构建第二直线，基于第一直线与第二直线确定开尔文探针的中心点。本申请解决了由于开尔文针在长时间使用的情况下，针尖容易磨损、氧化或者会积累脏污，导致发亮的针尖变小或者消失，造成了难以通过识别针尖定位其双针中心的技术问题。
识别开尔文探针中心方法装置存储介质以及电子设备

[实用新型]取放设备的传动机构及取放设备-CN202223111821.1有效
发明人：吴佳康;程海宾;项佳梁 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： B65G47/90 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种取放设备的传动机构及取放设备，取放设备的传动机构包括面板、滑动座、支撑件、转动件及传动组件。转动件绕动力轴往复转动时，通过连接部驱动传动轴做圆周运动，从而带动滑动座沿第一方向滑动，并带动支撑件相对于滑动座沿第二方向滑动，以实现末端执行机构在第一方向及第二方向上动作。末端执行机构沿第一方向动作的驱动力通过传动轴与条形孔配合传递至滑动座，而沿第二方向动作的驱动力则通过传动轴传递至支撑件。可见，在实现末端执行机构动作时，负载主要由传动轴承受，传动轴能够承受的最大负载较大。因此，上述取放设备的传动机构带动末端执行机构动作的速度可显著提升，从而显著提升取放设备的运行速率。
设备传动机构

[实用新型]一种承载机构及测试系统-CN202223411751.1有效
发明人：李康海;祁鹏鹏;高光辉 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-12-19 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种承载机构及测试系统。该承载机构包括承载组件、第一定位部和第二定位部，承载组件用于装载待测试件，第一定位部和第二定位部均设置在承载组件上，且用于对承载组件进行定位；其中，第一定位部对承载组件进行定位时的定位间隙大于第二定位部对承载组件进行定位时的定位间隙。如此，一方面不需要降低承载组件向测试机构移动的速度，有利于提高测试效率；另一方面，降低了对承载组件朝向测试机构移动的导向精度的要求，不需要采用高精度的轨道对承载组件的移动进行精确导向，有利于降低设备成本。
一种承载机构测试系统

[发明专利]位置误差补偿方法、装置、电子设备及非易失性存储介质-CN202310119923.8在审
发明人：梁思文;陈思乡;杨奉利;戴啟辉;欧阳清华 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-02-08 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本申请公开了一种位置误差补偿方法、装置、电子设备及非易失性存储介质。其中，该方法包括：获取与目标晶圆对应的空白正交补偿表，其中，空白正交补偿表中各单元对应目标晶圆上各晶粒所在的位置；填充空白正交补偿表中各单元对应的第一补偿值，得到目标正交补偿表；依据目标正交补偿表，计算目标位置对应的第二补偿值，其中，目标位置为上位机期望运动部件移动到的任一位置；依据第二补偿值，对运动部件的实际移动位置进行补偿，其中，补偿后的实际移动位置为目标位置。本申请解决了由于相关技术中移动探针台的运动部件在移动至上位机指示的目标位置时，存在位置偏差，造成运动部件移动精度差的的技术问题。
位置误差补偿方法装置电子设备非易失性存储介质

[发明专利]晶圆缺口的筛选方法及装置、非易失性存储介质-CN202310096252.8在审
发明人：蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-01-31 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种晶圆缺口的筛选方法及装置、非易失性存储介质。其中，该方法包括：获取预对位晶圆的边缘图像，并对预对位晶圆的边缘图像进行处理，得到包括可疑晶圆缺口的第一目标图像；根据第一目标图像中的可疑晶圆缺口的尺寸确定缺口矫正图，并将第一目标图像中的可疑晶圆缺口转换至缺口矫正图，得到第二目标图像；将第二目标图像中的可疑晶圆缺口中的异常晶圆缺口去除，得到目标晶圆缺口。本申请解决了由于现有技术无法有效对线阵图像中的微小晶圆缺口进行筛选造成的无法精准确定晶圆位置的技术问题。
缺口筛选方法装置非易失性存储介质

[发明专利]产品重测装置-CN202010979846.X有效
发明人：章华荣;严邦民;林卫;包荣剑 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2020-09-17 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及一种产品重测装置及其重测方法。产品重测装置包括第一收料机构、入料机构、搬运机构及测试机构。第一收料机构具有放料区及用于收集不良品的收料区。第一收料机构包括托盘组件、分盘组件及第一输送组件，分盘组件及托盘组件设于收料区，用于实现料盘的分盘。入料机构具有取料区及进料区，入料机构包括第二输送组件。搬运机构用于将料盘从第一收料机构的放料区搬运至入料机构的取料区。测试机构用于对进料区料盘上的产品进行重测。该产品重测装置可实现自动化重测，减少测试人员的参与，降低测试人员的劳动强度，同时避免人为因素造成的误搬、混料异常等风险。通过对整个批次的不良品集中进行重测，避免浪费工位，提高测试效率及产能。
产品装置

[实用新型]通道延时校准设备及系统-CN202222810512.7有效
发明人：王桥元;戴舒恒;杜昊 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-10-24 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种通道延时校准设备及系统。其中，该通道延时校准设备包括：开关阵列板卡和上位机；开关阵列板卡包括开关阵列，开关阵列包括依次连接的多级开关元件组，开关阵列内具有多条开关选通通道；上位机，与每级开关元件组均连接，用于控制前后级开关元件组的开关状态，以选通任一开关选通通道作为目标选通通道；上位机包括通信接口，用于与待校准板卡和基准板卡连接，依次控制待校准板卡内各信号传输通道与基准板卡内预设传输通道及目标选通通道连接。本实用新型解决了由于相关技术在进行延时校准时，使用示波器等外部仪器进行手工校准，造成的效率低、成本高的技术问题。
通道延时校准设备系统

[发明专利]显微图像中的探针针尖识别方法及装置-CN202310110415.3在审
发明人：蔡超鹏;陈思乡;杨奉利;梁思文;戴啟辉 -专利权人： 杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-02-06 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06V20/69 文献下载
摘要：本申请公开了一种显微图像中的探针针尖识别方法、显微图像中的探针针尖识别装置、电子设备及存储介质，属于探针台探针定位技术领域，其中，显微图像中的探针针尖识别方法包括：获取探针灰度图；将探针灰度图转换为针尖特征二值图；从针尖特征二值图中筛选出边缘形貌符合探针针尖形态的连通域作为针尖连通域；基于针尖连通域生成针尖坐标。该方法通过边缘形貌筛选能够有效滤除与探针针尖亮度相近的干扰物，进而提高探针针尖识别的准确性和稳定性。
显微图像中的探针针尖识别方法装置