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[发明专利]一种宽频带微波集成电路测试系统及方法-CN202310817791.6在审
发明人：郭敏;王亚海;徐宝令;朱学波;高媛;郑洪义;阎涛;王阳;王兆灿;王尊峰 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种宽频带微波集成电路测试系统及方法，属于微波集成电路测试技术领域；本发明基于信号发生与测试分析一体化模块与待测试宽频带微波集成电路协同测控的双路相干信号，测试宽频带微波集成电路的源驻波特性，通过主控单元对数字信号处理控制单元、测试适配及路由连接电路、信号发生单元、信号分析单元以及待测试宽频带微波集成电路进行一体协同测控，能够完成对批量待测试宽频带微波集成电路的一次性连接和基于连续扫描模式的源驻波特性自动测试评估，解决了现有技术中存在“相应测试组成与操作复杂等所引入的成本、时间、测试仪器等资源消耗以及效率低下”的问题。
一种宽频微波集成电路测试系统方法

[发明专利]一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法-CN202211700778.4在审
发明人：郭敏;王亚海;徐宝令;朱学波;郑洪义;阎涛;王阳;王兆灿;王尊峰 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法，评估电路包括主控计算机、自动化辅助设备、矢量网络分析仪、测试夹具A、测试夹具B和标准微波集成电路；本发明可以满足待测微波集成电路散射参数“即测即得”的快速高效和稳定一致的测试应用需求，并有效降低由于大量定制适配测试夹具的校准件及其相应操作复杂和大运算量的校准与误差修正等所引入的成本、时间、仪器资源方面的资源无效占用，提高测试应用效能；降低测试评估过程中的软硬件资源开销和占用，而且方便将该功能整合融入微波集成电路生产制造的产线综合能力判断中，满足微波集成电路低成本、高效能批量生产制造应用需求和集成测控的技术要求。
一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路方法

[发明专利]一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统-CN202010586979.0有效
发明人：郭敏;王亚海;朱学波;丁志钊;周辉;王尊峰 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本发明公开了一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统，包括：对开关矩阵中待测开关所在通道构建测试通道矩阵；对测试通道矩阵内检测节点进行反射信号测试，通过预设反射信号阈值，判断检测节点是否处于反射状态，并构建测试通道检测节点矩阵；将测试通道检测节点矩阵与正常通道检测节点矩阵进行比较，得到故障点通道；基于频域反射对故障点通道的检测节点定位发生反射信号的位置，即故障点位置。实现多通道的快速检测与故障诊断定位，根据开关矩阵所构建通道的真实物理连接状态的有效检测，解决间接等效方法产生误报的不确定性问题。
一种开关矩阵通道故障诊断方法系统

[发明专利]适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法-CN202110514050.1有效
发明人：郭敏;王亚海;徐宝令;朱学波;阎涛;王尊峰 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2021-05-12 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，属于微波测试技术领域。采用本发明提供的方法，在进行微波集成电路电性能快速筛选检测时，只需要预先设置一次性将相关测控状态加载下发给各相关电路单元，根据检测需求提前设定检测结果的判断阈值并装载好同批次待测试的微波集成电路，就可以一次性同时而非分时地自动完成不少于10个微波集成电路的电性能快速筛选检测，有效解决电性能预先筛选环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。本发明提供的方法简便、经济，测试及资源应用效能较高，且可根据应用需求规模进行应用扩展，通用性较强。
适用于微波集成电路性能快速筛选检测电路方法

[发明专利]微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置-CN201811261293.3有效
发明人：郭敏;丁志钊;王尊峰;朱学波;徐宝令 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。
微波半导体器件频率扩展参数自动测试通用方法装置

[发明专利]集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法-CN201910688561.8有效
发明人：郭敏;王亚海;丁志钊;朱学波;王尊峰;阎涛 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2019-07-29 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。
集成电路参数测试仪测试功能快速自检电路方法

[发明专利]用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准方法及装置-CN201811259034.7有效
发明人：郭敏;丁志钊;王尊峰;朱学波;徐宝令 -专利权人：中电科仪器仪表有限公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
用于微波半导体集成电路电气特性测量校准方法装置

[发明专利]一种任务调度规划自动生成和运行系统及方法-CN201811631496.7有效
发明人：胡宝刚;郭敏;丁志钊;朱学波 -专利权人：中电科仪器仪表有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G06F9/48 文献下载
摘要：本发明公开了一种任务调度规划自动生成和运行系统及方法，属于测试技术领域，本发明系统包括任务调度规划自动生成模块、任务调度规划表模块、任务运行调度模块、测试任务模块和资源动态管理器。通过本发明方法，用户可以生成允许多个任务同时访问同一多通道仪器的任务调度规划，结合资源动态管理服务，既提高了规划中任务的并行度，又避免了运行时对仪器访问的冲突，从而提高了系统资源的利用率。
一种任务调度规划自动生成运行系统方法

[发明专利]微波半导体器件多处理器融合测控系统、方法及测试仪-CN202010587410.6在审
发明人：郭敏;王亚海;胡宝刚;阎涛;朱学波;丁志钊;周辉;王尊峰 -专利权人：中电科仪器仪表有限公司
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开提出了微波半导体器件多处理器融合测控系统、方法及测试仪，系统包括中央处理器、网关以及多个辅助处理器，所述中央处理器分别与辅助处理器通过网关通信连接，所述辅助处理器至少包括用于实时获取测试设备状态监测数据的状态监控处理器，以及用于实时获取生产线场景交互信息的产线交互处理器；中央处理器：被配置为实现对微波半导体器件进行性能测试控制，融合状态监测数据信息及生产线场景交互信息，获得包含性能测试结果及与对应的测试设备状态、环境状态、产线运行状态的映射关系的测试结果。本公开设置了多个处理器可以实现不同监控过程的同步执行，提高微波半导体器件或微波半导体集成电路的测试效率，同时提高测试系统的测试准确性。
微波半导体器件处理器融合测控系统方法测试仪

[发明专利]一种半导体晶圆测试的多参数并行测试系统及方法-CN201510963099.X有效
发明人： 朱学波 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2015-12-18 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体晶圆测试的多参数并行测试系统及方法，属于半导体晶圆测试系统的测试领域，包括信号检测装置、信号激励提取装置、多台信号处理装置以及主控计算机，所述信号激励提取装置包括信号激励部分和信号提取部分，所述信号提取部分包括信号分流结构，所述信号分流结构包括耦合器和若干功分器。本发明以通道切换、功分、耦合、取样相结合，将被测信号同时提供给多台信号处理装置，同时对半导体器件进行功率、频谱、脉冲、波形等多参数并行测试，减少了对每一半导体器件的测试时间和测试次数，有效提高了测试效率；减少了信号处理装置的使用数量，降低了测试成本，同时也降低了设备维护成本。
一种半导体测试参数并行系统方法

[发明专利]基于可扩展器件测试库的测试管理方法-CN201610312426.X有效
发明人：胡宝刚;朱学波 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2016-05-12 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了基于可扩展器件测试库的测试管理方法，包括加载器件库和指标库文件；访问指标库中的测试指标，读取指标名称；创建指标对象列表，将指标名称存储至指标对象列表中；访问器件库中的器件类型信息，读取器件类型名称；创建器件对象列表，将器件类型名称存储至器件对象列表中；依次读取步骤五中器件对象列表对应的测试指标，根据器件对象列表对应的测试指标建立指标对象列表对应的指标名称的引用，并保存至器件对象列表对应的测试指标列表中；判断器件对象列表中器件类型名称的选择情况，判断器件类型名称对应的测试指标的选中状态；保存步骤四中的器件类型名称至器件库，保存所述器件类型名称对应的测试指标信息至步骤一中的器件库文件。
基于扩展器件测试管理方法

[发明专利]基于调配器的半导体阻抗测试的最佳阻抗点快速定位方法-CN201610312660.2有效
发明人： 朱学波;郭敏 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2016-05-12 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于调配器的半导体阻抗测试的最佳阻抗点快速定位方法，控制调配器归零，控制X轴移动到当前工作频率波长1/2处；在Y轴全行程范围内两端及中段均值取若干点分别控制滑块移动相应位置并进行输出功率值记录；根据记录值取输出功率最大点，以该点相邻两点为行程范围仍旧取相同数量的点控制滑块沿Y轴移动至各点并记录输出功率值；直至滑块移动至最小步距，寻找到Y轴最佳阻抗匹配点；保持滑块Y轴位置不变，确定X轴最佳阻抗匹配点。本发明在半导体功率器件的输入/输出阻抗测试方面减少了测试时间，提高了测试效率，降低了器件由于工作于非标准状态损坏的几率。
基于调配半导体阻抗测试最佳快速定位方法

[发明专利]一种晶圆上MMIC裸片的快速自动测试方法-CN201710727174.1在审
发明人： 朱学波;胡宝刚 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2017-08-23 - 公布日： 2018-01-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆上MMIC裸片的快速自动测试方法。该测试方法在利用微波单片集成电路测试系统对小批量晶圆上MMIC裸片进行快速自动测试的基础上，提出了一种三点式坐标定位法，以实现被测晶圆上大量MMIC裸片测试点的快速自动定位，取代应对批量晶圆MMIC裸片测试的测试点坐标逐点输入方法，通过坐标点插值算法快速计算大量MMIC裸片测试点坐标点，极大的缩减晶圆上每片MMIC裸片测试点的坐标输入时间，在保证测试点坐标相对较准的前提下显著提高小批量晶圆MMIC裸片测试效率。
一种晶圆上 mmic 快速自动测试方法

[发明专利]一种晶圆及微波单片集成电路综合测试系统校准方法-CN201710727165.2在审
发明人： 朱学波;胡宝刚 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2017-08-23 - 公布日： 2017-12-15 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆及微波单片集成电路综合测试系统校准方法。在晶圆的表面制作MMIC的同时集成一组微带型校准校验件。当测量MMIC数量达到一设定值后，微波单片集成电路综合测试系统会控制探针自动移动至微带型校准校验件处，检测出此时系统通道插损误差及回波损耗是否在可接受范围内；并根据误差偏离值自动判断是否继续测试MMIC裸片还是进行系统校准后再进行MMIC裸片测试。由于微波单片集成电路综合测试系统的测试和校准过程均是在晶圆上进行的，因而克服了晶圆上MMIC测试过程中因待测件替换带来的测试时间浪费问题(待测晶圆与分立微带型校准件替换过程中需要浪费大量时间调整探针对准过程)，简化了校验件设计的同时最大限度保证系统校准数据的准确性。
一种微波单片集成电路综合测试系统校准方法

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