专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]青铜器检测系统及检测方法-CN202310913343.6在审
  • 王镜惠;胡旻;张晓秋艳;谢振斌;郭建波;张晖;肖庆;张思源;韦元培;李博扬;宾泽川;王冲 - 电子科技大学
  • 2023-07-24 - 2023-10-24 - G01N21/3586
  • 本发明公开了青铜器检测系统及检测方法,涉及太赫兹应用领域,包括:太赫兹时域光谱仪、结构光相机、处理器、移动单元和控制单元;太赫兹时域光谱仪对待检测物体发射检测信号,并接收反射信号传输至处理器,处理器计算获得待检测物体上的锈蚀层类型和各锈蚀层的厚度;移动单元携带探头进行移动对待检测物体表面进行扫描检测;结构光相机对待检测物体表面进行成像建立深度图,将深度图转换为点云数据获得待检测物体表面的点云图,基于点云图计算获得待检测物体表面法线数据;控制单元建立世界坐标系,基于世界坐标系和法线数据生成移动单元的移动轨迹控制移动单元进行移动,完成对待检测物体扫描,本发明能够实现样品的大面积自动连续无损检测。
  • 青铜器检测系统方法
  • [发明专利]太赫兹近场探针针尖处理方法及装置-CN202310858210.3在审
  • 尹浩玮;胡旻;张栋昌;张晓秋艳;许星星;唐福 - 电子科技大学
  • 2023-07-12 - 2023-10-13 - G01Q70/16
  • 太赫兹近场探针针尖处理方法及装置,该方法包括以下步骤:太赫兹扫描近场显微镜控制探针针尖扫描修理层上的间隙;在扫描过程中,所述间隙的壁面撞击所述探针针尖的侧面,并在所述探针针尖形成第一段、以及位于所述第一段上方的第二段,所述第一段的横截面积从上至下逐渐减小、且第一段的最大的横截面积小于第二段的最小的横截面积。本发明能够利用太赫兹扫描近场显微镜控制探针针尖下针扫描间隙以使探针针尖侧壁在撞击间隙的过程中形貌发生变化得到多段式探针结构,该结构能够利用更细的第一段提升近场分辨率,利用更粗的第二段提高近场信噪比,在太赫兹频段更好地平衡了探针针尖的分辨率和近场信噪比。
  • 赫兹近场探针针尖处理方法装置
  • [发明专利]一种太赫兹自相关近场成像成谱系统-CN202310858174.0在审
  • 张栋昌;胡旻;尹浩玮;张晓秋艳;许星星;唐福 - 电子科技大学
  • 2023-07-12 - 2023-10-13 - G01N21/3586
  • 本发明公开了一种太赫兹自相关近场成像成谱系统,涉及微纳光子学和太赫兹光电探测的交叉领域,所述系统包括:太赫兹发射器、光路调节单元、散射式近场扫描显微镜、太赫兹接收器、电流放大器、锁相放大器和处理器;本发明采用自相关近场成像成谱,通过对太赫兹脉冲进行自相关测量,可以获取太赫兹波的时域信息,本发明中的自相关近场成像成谱方法还具有对信号强度的增强和背景噪声的抑制能力,通过控制光程差和调节光学路径,将两次信号进行累加,实现对探针谐振效应的一种调节,有利于实现对样品本身谐振特性的研究。
  • 一种赫兹相关近场成像谱系
  • [发明专利]一种太赫兹时域光谱近场成像装置及成像方法-CN202310109393.9在审
  • 胡旻;尹廷贵;唐福;宾泽川;许星星;张晓秋艳;张天宇;吴振华;刘頔威 - 电子科技大学
  • 2023-02-08 - 2023-06-27 - G01Q60/18
  • 一种太赫兹时域光谱近场成像装置及成像方法,成像装置包括探针组件,探针组件包括第一基底,第一基底上设置有第二基底,第二基底用于在自由空间的激光的照射下生成光生载流子,第二基底上设置有电极阵列、悬臂、接地电极、以及位于悬臂和接地电极之间的第一间隙,悬臂连接针尖和电极阵列,电极阵列包括若干电极,且相邻的两个电极之间存在有第二间隙,若干电极经模拟开关连接至后处理单元。本发明无需设置机械延时线即可得到太赫兹近场时域信号和频谱图,极大地减小了系统的复杂度和空间占用率,同时,由于模拟开关具有很高的通断速率,因此能够获得更快的时域信号刷新率,相较于传统机械延时线步进采样扫描大幅地缩短了扫描时间。
  • 一种赫兹时域光谱近场成像装置方法
  • [发明专利]基于调制自由电子的扫描近场光学显微镜-CN202010159163.X有效
  • 胡旻;张天宇;张倬铖;王玥莹;张晓秋艳;许星星;吴振华;刘盛纲 - 电子科技大学
  • 2020-03-09 - 2021-07-06 - G01Q60/18
  • 本发明公开了一种基于调制自由电子的扫描近场光学显微镜,属于扫描近场光学显微镜。该显微镜包括电子枪、扫描近场光学显微镜,电子枪产生谐波形式的近场信号,该近场信号在样品处激发样品上的各阶近场信号和远场信号;探测器探测到被探针散射的各阶近场信号和远场信号,通过分离远场信号和近场信号,得到最终的扫描结果。本发明利用调制自由电子代替原有的外部光源,通过对自由电子进行调制,取代原有针尖振动所起的调制作用,提升信号转化效率、信噪比,同时因为不再需要针尖进行抖动,避免了因其抖动可能产生的近场信号和成像的不良影响,最终达到增强近场信号强度和近场成像质量的效果,具有深远的实用意义。
  • 基于调制自由电子扫描近场光学显微镜

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