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[发明专利]一种纵向弯曲载荷与横向拉/压载荷耦合加载方法-CN202111418107.4有效
发明人：钟勇;王成章;刘丽辉;封先河;杨万均;杨小奎;周堃;郭赞洪;许斌;冯利军;杨祎;李昊瑜 -专利权人：中国兵器装备集团西南技术工程研究所
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种纵向弯曲载荷与横向拉/压载荷耦合加载方法，步骤包括：采用顶压机构对试件中心施加纵向弯曲载荷，同时对试件施加横向拉力载荷或横向压力载荷；当试件被拉长或被压短预设值后，迅速将顶压机构和/或夹持座移动至指定位置，使顶压机构的顶压杆组件正对试件中心；一次或多次重复前述步骤，直至试验结束。本发明能够始终确保纵向弯曲载荷施加点位于试件中部区域，根据试件实际受力状态进行规律性的应力试验，能够高效、实时、精确、稳定、灵活地控制应变集中区域，能够在长期在户外环境下特别是恶劣环境下连续进行纵向弯曲载荷与横向拉/压载荷的协同/耦合加载，尤其适用于评价工程塑料构件的环境损伤性能演变。
一种纵向弯曲载荷横向耦合加载方法

[发明专利]一种监测大气中氯离子的装置及方法-CN202011180384.1有效
发明人：郭赞洪;刘聪;杨小奎;钟勇;封先河;吴帅;李旭;赵全成;贺琼瑶 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供了监测大气中氯离子的装置及方法，包括壳体、氯离子检测系统、收卷机构，氯离子采集载体为卷绕成筒形的柔性带；方法步骤包括：安装全新卷筒式氯离子采集载体；首节氯离子沉积区暴露预设时间后使首节氯离子沉积区被拉至检测位置并对其检测；当首节氯离子沉积区检测结束检测第二节氯离子沉积区；当整个卷筒式氯离子采集载体用完后再更换新的卷筒式氯离子采集载体，继续实施监测。本发明不仅巧妙地解决了大气环境中氯离子含量监测过程不连续的技术难题，而且解决了采集周期长和分析数据延迟的技术问题，及采样易饱和的技术问题。
一种监测大气氯离子装置方法

[发明专利]一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置及方法-CN202110784497.0有效
发明人：郑林;窦世涛;张伦武;张津;车路长;王成章;周堃;何长光;彭正坤;封先河;陈新 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2021-07-12 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01L1/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。
一种波长特征射线内部应力无损测试装置方法

[发明专利]一种尾翼弹簧贮存寿命评估试验装置-CN202111557139.2有效
发明人：李泽华;赵方超;王艳艳;封先河;黄红宁;刘世乡 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2021-12-18 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种尾翼弹簧贮存寿命评估试验装置，包括由第一板体和第二板体铰接而成的旋转加载板，旋转加载板的弹簧杆用于套设弹簧试件，通过第一板体与第二板体合拢后对弹簧试件进行扭力加载，采用丝杠传动机构对弹簧试件进行轴向压力加载，采用丝杠传动机构的丝杠作为旋转加载板的弹簧杆；丝杠传动机构包括螺母座和设置在螺母座两侧的两个套件，两个套件均固定连接在旋转加载板上，弹簧试件一端抵靠在螺母座、另一端抵靠在其中一个套件上。本发明通用性、稳定性和安全性好，易于操作，尤其适用于针对大型尾翼弹簧，结构简单、体积小，制造成本低。
一种尾翼弹簧贮存寿命评估试验装置

[发明专利]基于预拉伸铝板内部织构分布均匀性的板框件精加工方法-CN202111642017.3有效
发明人：车路长;郑林;窦世涛;陈新;封先河;赵方超;朱凯;方丁;张津;车移;计鹏飞;李剑飞 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： B21B38/04 文献下载
摘要：本发明提供了基于预拉伸铝板内部织构分布均匀性的板框件精加工方法，解决现有多晶材料板框件加工废品率高、成本高的问题。该方法主要通过无损检测待加工预拉伸铝板不同部位的内部织构及其分布、标识引起变形超差的风险区域、设计多个加工包络面加工路径、按切削规划的不同加工路径和顺序切削板材后测量、对比得出其中最小变形量及其加工路径、评价是否变形超差等步骤，实现优化切削加工工艺。采用测试+理论分析+实测加工变形量的方法，用于上述难题的解决，可以极大地降低人工、财力、时间等试错成本，具有良好的经济效益。
基于拉伸内部分布均匀板框件精加工方法

[发明专利]一种石英晶体电极薄膜的制备方法-CN202011392217.3有效
发明人：朱玉琴;罗来正;何建新;王成章;李佳蒙;张凯;封先河;黄朝志;吴帅;舒畅 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2023-05-19 - 主分类号： C25D5/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种石英晶体电极薄膜的制备方法，包括以下步骤：A)对晶振的真空镀膜进行净化和活化；B)采用镍的预镀电镀液对所述步骤A)中净化和活化后的真空镀膜进行预镀，得到预镀镍层；C)使用金属镀液在所述预镀镍层表面进行正反向电流电镀，得到晶振电镀厚度层；所述正向电镀与反向电镀的时间之比为(5～10)：1，所述正向电镀与反向电镀的电流密度之比为(3～10)：1，所述正向电镀的电流密度为1～5A/dm2。采用本发明方法可以充分净化和活化真空镀膜的表面，同时又不腐蚀基材，可以在晶振表面获得结合力良好，表面均匀的镀层，满足后续的测试要求。
一种石英晶体电极薄膜制备方法

[发明专利]衍射装置及无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法-CN201811621809.0有效
发明人：郑林;窦世涛;何长光;彭正坤;肖勇;张伦武;张津;封先河 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种衍射装置和无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法，装置包括X射线照射系统，其对被测样品的测量部位照射X射线；X射线探测系统，其同时对X射线由被测样品的多个部位衍射而形成的多条衍射X射线进行探测，来测量被测样品的X射线衍射强度分布；探测的X射线为短波长特征X射线；X射线探测系统为阵列探测系统；方法步骤包括：选短波长特征X射线，对待测样品进行织构分析，确定待测衍射矢量Q；获取被测样品相应部位的X射线衍射强度。本发明可以快速无损地检测厘米级厚度工件在其整个厚度方向的内部晶体取向均匀性，可以在生产线上实现厘米级厚度工件在其运动轨迹的整个厚度方向的内部晶体取向均匀性的在线检测与表征。
衍射装置无损检测工件内部晶体取向均匀方法

[发明专利]一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统-CN202211379300.6在审
发明人：王成章;杨小奎;窦世涛;舒畅;朱玉琴;王晓辉;封先河;胡广洋;赵方超;黄波;李佳蒙 -专利权人：中国兵器装备集团西南技术工程研究所
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统，利用涡流激励和磁场探测系统获取涂层下金属基体的磁场强度分布图像，根据所得磁场强度分布图像特征确定金属基体的损伤程度，评估涂层下金属基体损伤程度并进行分级，并给出评估结果；涡流激励磁场系统包括多频涡流激励信号发生器、激励线圈、磁场数据采集器、线性阵列磁场检测传感器和数据处理模块与显示器，线性阵列磁场检测传感器固定连接激励线圈并位于激励线圈内；采用本发明的方案，不仅能够定量地给出涂层下金属基体的损伤程度，而且能够给出金属基体各深度区间的损伤评级，提高了涂层金属基体损伤评估的准确性，具有无损、高效、便捷的优势。
一种基于磁场探测技术涂层金属基体损伤评估方法系统

[发明专利]基于二维阵列磁场传感器的涂层下金属基体损伤检测装置及其操作方法-CN202211379298.2在审
发明人：窦世涛;赵方超;胡广洋;黄波;何建新;封先河;王成章;朱玉琴;陈新;李佳蒙 -专利权人：中国兵器装备集团西南技术工程研究所
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：本发明提供了基于二维阵列磁场传感器的涂层下金属基体损伤检测装置及其操作方法，包括在被测部位设置有多个磁场检测传感器，在磁场检测传感器外布置激励线圈，由所有磁场检测传感器共同构成二维阵列磁场传感单元；根据被测部位面积确定需要放置的磁场检测传感器数量，并在被测部位正上方的非金属基板的孔内放置磁场检测传感器，确保所有磁场检测传感器的有效探测面能够完全覆盖被测部位，设定好多频涡流激励信号发生器的激励信号频率。本发明能长时间获取被测件不同激励频率下的磁场数据图像，便于在不同低激励频率下一次性获取大面积被测部位的损伤数据图像，不仅大幅降低了操作难度、简化了操作步骤，同时能够提高检测效率和检测范围。
基于二维阵列磁场传感器涂层金属基体损伤检测装置及其操作方法

[发明专利]一种氯离子传感器及海洋大气中氯离子的采集方法-CN202010296864.8有效
发明人：郭赞洪;封先河;刘聪;杨小奎 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2020-04-15 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供了一种氯离子传感器及氯离子的采集方法，该传感器包括氯离子采集载体、X光管、光子探测器和信号处理器；X光管发射的X射线激发氯离子采集载体上的氯离子发出特征荧光射线被光子探测器接收，光子探测器将接收到的氯离子特征射线信息传输至信号处理器，并通过显示终端显示采集的氯离子情况。该采集方法步骤包括：通过氯离子采集载体在大气中沉积氯离子；沉积结束后调整至检测状态；启动X光管，读取结果数据；本发明开创了一种全新的氯离子传感器和氯离子采集方法，不仅能够准确、快速地实现大气中氯离子的采集和监测，而且能够快速实现氯离子沉积速率分析，解决了大气中氯离子采集周期长、分析数据延迟和数据准确性差的问题。
一种氯离子传感器海洋大气采集方法

[发明专利]基于多频涡流激励与磁场探测的涂层下金属基体损伤检测装置及检测方法-CN202211379303.X在审
发明人：李佳蒙;窦世涛;赵方超;封先河;周堃;王晓辉;王成章;何建新;陈新 -专利权人：中国兵器装备集团西南技术工程研究所
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：本发明提供了基于多频涡流激励与磁场探测的涂层下金属基体损伤检测装置及检测方法，包括多频涡流激励信号发生器、激励线圈、磁场数据采集器、线性阵列磁场检测传感器和数据处理模块与显示器，线性阵列磁场检测传感器位于激励线圈内；检测方法包括选择频率档位进行检测，获取多个激励频率下的磁场数据，对所有频率下扫描所得磁场数据图进行三维重构，得到被测部位的三维图像，并对图像中显示的损伤进行分析。本发明通过一次扫描即可获取多个激励频率下的损伤数据，能够在不去除金属材料表面有机涂层或较薄金属覆盖层的情况下，实现金属基体裂纹、腐蚀等损伤的无损检测分析，具有检测效率高的优势。
基于涡流激励磁场探测涂层金属基体损伤检测装置方法

[发明专利]一种高分子材料寿命评估方法及系统-CN202211608913.2在审
发明人： 封先河;朱玉琴;赵方超;罗丹 -专利权人：中国兵器装备集团西南技术工程研究所
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01N25/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种高分子材料寿命评估方法和高分子材料寿命评估系统，包括：测定高分子材料的玻璃化温度，根据所得玻璃化温度，选定至少四个试验温度，确定高分子材料的试验时间，确定试验的取样周期，根据所得试验温度、取样周期、试验时间开展热老化试验，并测定、统计试验结果数据；对所得试验结果数据进行优化处理，使得误差函数最小，确定高分子材料的寿命评估物理量，根据所得寿命评估物理量预估高分子材料寿命；采用本发明的方案，能够快速、准确地进行高分子材料老化行为研究，评估出的高分子材料寿命与实际情况几乎一致。
一种高分子材料寿命评估方法系统

[外观设计]便携式腐蚀质量测试仪-CN202230667343.9有效
发明人：朱玉琴;秦朝轩;代璐;李佳蒙;封先河 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：便携式腐蚀质量测试仪。2.本外观设计产品的用途：外观设计用于腐蚀速率实时监测预警，及微环境严酷度评级。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
便携式腐蚀质量测试仪

[外观设计]环境腐蚀效应原位监测装置-CN202230667411.1有效
发明人：代璐;朱玉琴;秦朝轩;封先河;李佳蒙 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：环境腐蚀效应原位监测装置。2.本外观设计产品的用途：本外观设计用于实时监测环境腐蚀速率。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
环境腐蚀效应原位监测装置

[发明专利]一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射装置和方法-CN202110709363.2在审
发明人：郑林;窦世涛;陈新;张伦武;张津;伍太宾;车路长;王成章;周堃;赵方超;何长光;封先河 -专利权人：中国兵器工业第五九研究所
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。
一种基于阵列探测波长特征射线衍射装置方法

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