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- [发明专利]一种除法器和光处理器-CN202110871960.5在审
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李冲;陈夏捷;周常河;余俊杰
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华为技术有限公司
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2021-07-30
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2023-02-03
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G06F7/535
- 本申请实施例公开了一种除法器和光处理器，属于光计算技术领域。在该除法器中第一光信号源发出脉冲光信号传入波导回路，脉冲光信号的幅值与被除数的比值等于预设比值；第二光信号源发出连续光信号传入第二波导，连续光信号的幅值与除数比值等于预设比值；耦合器对连续光信号和脉冲光信号进行耦合，耦合后的脉冲光信号的幅值等于耦合前的脉冲光信号的幅值减去连续光信号的幅值；探测器对每次耦合后的脉冲光信号的幅值进行检测；控制器当接收到探测器发送的目标幅值小于持续光信号的幅值时，将探测器累计检测到耦合处理后的脉冲光信号的次数确定为商，将目标幅值和预设比值的乘积确定为余数。可见本申请提供了一种在光芯片中实现除法运算的除法器。
- 一种法器处理器
- [发明专利]一种三轴光栅尺-CN202010978240.4有效
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韦春龙;周常河
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中国科学院上海光学精密机械研究所
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2020-09-17
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2023-01-20
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G01B11/02
- 本发明三轴光栅尺包括三轴测量光束产生单元、X轴测量光束探测单元、Y轴测量光束探测单元、Z轴测量光束探测单元和信号采集及处理器。三轴测量光束产生单元，包括偏振准直激光光源、分束用二维衍射光栅、第一准直物镜、偏振棱镜组件、第二准直物镜和测量用二维衍射光栅。分束用二维衍射光栅和测量用二维衍射光栅是二维正交对称，各自两维度栅距相等。X，Y轴测量光束产生光路具有2倍光学细分及光学差分特性，精度高，安装容差大；测量光束产生单元光路与测量光束探测单元光路，共同构成一体的三维位移测量零差光栅干涉仪，结构紧凑，成本低，并且避免了不满足正交和共交点所导致的阿贝误差和余弦误差。
- 一种光栅尺
- [发明专利]一种基于皮米光梳的皮米测量系统及方法-CN202210776991.7在审
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周常河;金戈
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暨南大学
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2022-07-04
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2022-10-11
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G01B11/02
- 本发明公开了一种基于皮米光梳的皮米测量系统及方法，该测量方法过程如下：激光器发出的光经过分束器分成两束光，每束光均依次通过反射镜、显微物镜、针孔滤波器和准直透镜产生准直扩束的光场；两束光产生的光场汇聚在干涉平面上，产生周期为d的干涉场；将一块全息干板放置在干涉平面上进行第一次曝光；加载皮米尺度的位移信息Δd引起干涉场的周期变化；将全息干板进行第二次曝光，得到皮米光梳。利用皮米光梳的轴向莫尔效应：使用准直扩束的平面波照射皮米光梳，将会产生莫尔干涉条纹。通过光电探测器采集莫尔干涉条纹，计算出莫尔干涉条纹额周期T。最后通过公式反推出待测的皮米尺度的信息Δd。
- 一种基于皮米光梳测量系统方法
- [发明专利]一种光栅缺陷检测装置及检测方法-CN202210787373.2在审
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周常河;黎兴学;周斌;王津;贾伟
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暨南大学
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2022-07-06
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2022-10-11
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G01N21/95
- 本发明公开了一种光栅缺陷检测装置及检测方法，其中，缺陷检测装置包括单色光源模块、图像采集模块、XZ二维位移平台及光栅夹具模块以及保护壳。图像采集模块包采用CMOS相机，同时包括高低分辨率光学镜头可根据需求替换；XZ二维移动平台在X轴Z轴方向受控的移动扫描光栅，实现XZ面扫面；图像采集模块与图像处理模块电讯连接,通过图像处理算法对获取的光栅表面图像进行尺寸和瑕疵的量检测；光栅夹具模块垂直固定大尺寸光栅。其中，光栅检测装置采用暗场成像原理以及单色光源，避免光栅镜面成像以及衍射产生彩色光斑，并且机械结构简单紧凑,能根据待测件的宽幅可调的模块化设置。本发明提高了大尺寸光栅表面瑕疵检测的准确度和效率。
- 一种光栅缺陷检测装置方法
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