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[实用新型]一种晶棒倒角的加工装置-CN202321132323.7有效
发明人：郑铁墩 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B24B9/06 文献下载
摘要：本实用新型一种晶棒倒角的加工装置包括工作面一、工作面二和固定底板；晶棒通过环氧树脂板与工作面一和工作面二紧密贴合，工作面一与工作面二连接且连接位置贯穿设有用以调整晶棒倒角大小的开槽口，晶棒通过开槽口使待倒角的棱边突出外露；工作面二远离开槽口的一端与固定底板连接，晶棒倒角加工装置通过固定孔位、固定螺丝的配合与磨床工作台固定连接；本实用新型通过设置成一定角度的工作面一、工作面二和固定底板，将待倒角晶棒固定在开槽口处并控制磨床工作台带动加工装置移动进行倒角工作，固定了晶棒倒角的位置和角度，减少了手工倒角的尺寸误差，同时，降低了人工劳动强度，节省了倒角研磨材料，大大节约了成本和人力物力资源。
一种倒角加工装置

[实用新型]一种普通卧式平面磨床的数控操作装置-CN202320940772.8有效
发明人：许建峰 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： B24B7/22 文献下载
摘要：一种普通卧式平面磨床的数控操作装置，数控装置包括固定设置在磨床机体上的电控主体机箱，电控主体机箱通过连接管连接人机交互机箱，人机交互机箱上设置触摸屏、按钮，触摸屏、按钮与PLC通信连接；驱动装置包括从动同步带轮、步进电机，步进电机的输出轴上固定设置主动同步带轮，主动同步带轮、从动同步带轮通过同步带同步连接，步进电机通过动力电缆与步进电机细分驱动器连接；限位装置包括前限位行程开关、后限位行程开关、前限位挡块、后限位挡块。利用本实用新型可以将普通卧式平面磨床改造成数控化操作装置，劳动强度大幅降低，尺寸磨削精度能够达到±0.01mm，安全性得到了彻底解决，提高了效率。
一种普通卧式平面磨床数控操作装置

[发明专利]一种晶片双面研磨厚度精确控制方法-CN202310479836.3在审
发明人：付刘军 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： B24B37/013 文献下载
摘要：本发明一种晶片双面研磨厚度精确控制方法，包括以下步骤：准备工作、配置悬浮液、配置研磨液、修盘、频率设定、上料、研磨加工、回频、下料。本发明在加工检测不到频率的Z切型晶片时，放入能够检测到频率的AT切型晶片作为测频片，利用两种切型晶片加工到一定厚度时的固定厚度差，能够将Z切型晶片的加工厚度精度控制在±0.001mm范围内。
一种晶片双面研磨厚度精确控制方法

[发明专利]一种压电石英晶片清洗的方法-CN202310383404.2在审
发明人：周军舰 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2023-04-12 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H01L21/02 文献下载
摘要：本发明提出的一种压电石英晶片清洗的方法采用的技术方案包括去砂超洗、配制浸泡液、浸泡、去除浸泡液、纯水超洗、控水甩干、检验洁净度七个步骤，本发明完成石英晶片的去砂超洗后，通过使用柠檬酸配制的柠檬酸浸泡液，去除石英晶片表面的铁锈；通过设置纯水清洗槽，将石英晶片依次放入纯水清洗槽中进行超洗，纯水超洗后控水、甩干，得到结净的石英晶片。本发明一种压电石英晶片清洗的方法通过使用柠檬酸配制浸泡液杜绝了盐酸或硫酸的使用，不涉及危险化学品，消除安全隐患；使清洗完的石英晶片洁净无水渍、污渍，符合石英晶片的质量要求的前提下，不会造成化学污染，节约成本，提高压电石英晶片清洗工艺的环保性和安全性。
一种压电石英晶片清洗方法

[发明专利]一种多线切割角度基准测量工装及测量方法-CN202310376836.0在审
发明人：周军舰 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01B5/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种多线切割角度基准测量工装及测量方法，将两组相同尺寸的玻璃块平行于料板基准面对称粘在料板上，两组玻璃长度方向中心点的水平间距为170mm，采用正常切割石英晶片的工艺方法切割两组玻璃，之后对料板、玻璃切割面、测试工装进行清理，然后将料板放在测试工装底板上，料板基准面与测试工装基准条紧密贴合，千分表指针接触在第一组玻璃切割面上下中间点A，按归零键，千分表显示0.000mm，让千分表指针接触在第二组玻璃切割面上下中间点B，记录千分表读数DB，根据公式M＝DB/0.04946计算角度调整范围。本发明采用玻璃块代替石英棒材切割进行角度基准测量，极大地节省了切割时间和切割成本，同时节省了工艺步骤，提高了测试效率。
一种切割角度基准测量工装测量方法

[发明专利]一种双面抛光机抛光膜平面度检测方法-CN202210463969.7有效
发明人：于钦涛 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：本发明关于一种双面抛光机抛光膜平面度检测方法，其通过由两块千分表和硬质垫片组成的工装对抛光膜平面度进行测量，且在测量时使两块千分表表头的连线与抛光膜内孔相切，从而根据两块千分表的读数确定抛光膜内圈、外圈以及抛光膜中间位置的高度关系，并根据测量结果对抛光盘进行针对性的修复，使得抛光膜表面各处的平面度一致，保证抛光片的加工精度。
一种双面抛光机抛光平面检测方法

[发明专利]一种光学水晶片多点位自动测量辅助系统-CN202211306558.3在审
发明人：许建峰;于钦涛 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-10-24 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01B7/34 文献下载
摘要：一种光学水晶片多点位自动测量辅助系统，包括基座，基座上设置Y轴滑台导轨总成、PLC电控箱、载料台、测量装置；Y轴滑台导轨总成上设置X轴滑台导轨总成，X轴滑台导轨总成上设置用于放置水晶片的载料框，载料框在X轴滑台导轨总成驱动下滑动设置在载料台上，Y轴滑台导轨总成、X轴滑台导轨总成与PLC电控箱电连接；测量装置包括π网络测频仪的上电极，π网络测频仪的下电极设置在载料台上，上电极位于载料框的上方，下电极位于载料框的下方，并且上电极、下电极在纵向上位置相互对应。本发明实现水晶片多点位频率测量的自动化，提高了水晶片频率测量效率，测量位置更精准。
一种光学水晶多点自动测量辅助系统

[发明专利]一种5N以上高纯石英砂用人造石英晶体原料生长方法-CN202211101533.X在审
发明人：于钦涛;于德龙;唐迎霞;袁许江;李朝雷;郝远征;段君丽 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： C30B7/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种5N以上高纯石英砂用人造石英晶体原料生长方法，通过籽晶切割和籽晶腐蚀完成籽晶制备，再采用天然石英完成分选，在反应釜中加入矿化剂溶液作为助溶剂，天然石英通过高温高压的条件在反应釜中溶解再结晶，将反应釜吊入釜坑并控制温度，石英晶体在釜坑中稳定生长，得到制备高纯石英砂的人造石英晶体原料；具体涉及籽晶制备、天然石英分选、晶体生长三个环节。本发明采用天然石英作为制备高纯石英砂的原料，通过提纯天然石英晶体原料，去除天然石英晶体中的杂质离子，大大提高了国内石英矿的利用率和石英砂的纯度。
一种以上高纯石英砂用人石英晶体原料生长方法

[实用新型]一种晶片甩干的工装-CN202221663277.9有效
发明人：周军舰 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： F26B5/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种晶片甩干的工装，包括提篮、隔板、清洗筐，甩干架四个部分，提篮内设多个隔板，甩干架一端抬高放置在隔板上且底面和隔板形成夹角，清洗筐分两排摆放至甩干架上，通过离心力作用迅速去除晶片表面水渍，甩干后晶片表面无水渍残留。本实用新型工具避免了酒精的使用，从而消除安全隐患，同时降低操作者劳动强度，提高加工效率并能节省成本，替代传统烤箱烘干晶片工艺。
一种晶片工装

[实用新型]一种水晶板材切割夹紧专用工装-CN202221012031.5有效
发明人：李广斌 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-04-26 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： B28D7/04 文献下载
摘要：本实用新型关于一种水晶板材切割夹紧专用工装，包括作为切割工作台使用的电磁吸盘，该电磁吸盘上固定有基准条，吸附固定在该电磁吸盘上的铁质底板平行放置在基准条一侧，铁质底板后侧固定有后定位挡板，后定位挡板上沿长度方向间隔分别有至少两个螺丝孔；该铁质底板左右两侧分别设有用于对放置在铁质底板上的待加工水晶板材两端进行限位的定位板和活动挡块，其中定位板与铁质底板相对固定，活动挡块能够根据待加工水晶板材的长度相对铁质底板左右移动并通过与电磁吸盘的吸附实现固定定位；穿设在螺丝孔内的调整螺栓能够推动待加工水晶板材使其X面基准贴在基准条上。本实用新型能够实现对水晶棒材在切割台面上的快速夹紧固定，实现快速切割。
一种水晶板材切割夹紧专用工装

[实用新型]一种双面抛光机抛光膜平面度检测工装-CN202221039282.2有效
发明人：于钦涛 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01B5/28 文献下载
摘要：本实用新型关于一种双面抛光机抛光膜平面度检测工装，包括长度为Lmm的支撑架和固定在该支撑架上的第一千分表和第二千分表，其中第一千分表固定在支撑架中间位置，第二千分表固定在第一千分表一侧Nmm处，上述支撑架通过两端的支脚进行支撑；且所述第一千分表表头、第二千分表表头以及支脚底部均对应垫有由硬质材料制成的垫片；且L＝SQRT((D/2)2‑((d/2)2‑a))，N＝SQRT(((D/2‑r/2)/2)2‑(d/2+a)2)，其中D为待检测抛光膜外径；d为待检测抛光膜内孔直径；a为检测时第一千分表距抛光膜内孔边沿的距离。该检测工装能够实现对抛光膜表面各处的平面度进行快速检测，保证抛光片的加工精度。
一种双面抛光机抛光平面检测工装

[发明专利]一种水晶散热板晶片Y切方法及工装-CN202210531647.1在审
发明人：于钦涛 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-05-16 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： B28D5/00 文献下载
摘要：一种水晶散热板晶片Y切方法及工装，将人造光学水晶切割成正常棒材及边棒材，正常棒材的Y轴I与边棒材的Y轴II的夹角为60°，包括以下步骤：将边棒材的X向尺寸加工为x＝(a+1.732t)/2+0.5，其中x为边棒材的X向尺寸，a为散热板晶片的x向尺寸，t为散热板晶片的厚度；将边棒材放置到切割机的工作面上，使其Z面向上，使切割机的切割线方向与边棒材的X面的夹角为30°，使用切割机对边棒材进行切割；去除边棒材的斜边余量0.5mm。所述工装为30°工装。与现有技术相比，本发明的有益之处在于：将边棒材X向尺寸按照公式计算得出的值加工后，使用切割机按照与边棒材x面夹角为30°的方向进行切割，最终得到相同规格的散热板晶片，节约了昂贵的人造光学水晶原料。
一种水晶散热晶片方法工装

[实用新型]一种能防止工件已抛光侧面被破坏的游轮工装-CN202220973575.1有效
发明人：邓见会 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2022-04-26 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： B24B37/30 文献下载
摘要：本实用新型关于一种能防止工件已抛光侧面被破坏的游轮工装，其包括行星轮主体、设置于行星轮主体边缘上的轮齿以及设置于行星轮主体上的若干工件孔，所述工件孔与矩形晶片已抛光侧面对应的一对侧壁上设有避让槽，该避让槽将工件孔延长度方向分为第一定位部、避让部和第二定位部，其中第一定位部和第二定位部分别与矩形晶片两端配合定位，避让部通过避让槽保持壁体与矩形晶片已抛光侧面之间的间距。本实用新型游轮工装工件孔中部两侧壁体与矩形晶片中间已抛光侧面之间始终保持间距，可有效解决矩形晶片中间已抛光侧面磨损的问题。
一种防止工件抛光侧面破坏游轮工装

[发明专利]一种晶片倒角检测方法-CN202010996023.8有效
发明人：朱中晓;朱超;邓见会 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2020-09-21 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：一种晶片倒角检测方法，包括七个步骤：1)在支架上同轴设置一个LED光源、固定偏光镜和旋转偏光镜；2)打开LED光源并调节可旋转偏光镜至视域最亮；3)将标准晶片放在固定偏光镜和旋转偏光镜之间；4)观察透过标准晶片的光线强度；5)将一组叠放的待检测晶片放在固定偏光镜和旋转偏光镜中间进行观察；6)对比与标准晶片亮度情况判定待检测晶片是否存有倒角异常晶片；7)将检测出来的倒角异常晶片重新进行检测确认。本发明的晶片倒角检测方法简单快捷，方便实用，提高劳效、降低劳动强度、利于缩短交货周期、降低成本。
一种晶片倒角检测方法

[发明专利]一种人造种晶片腐蚀清洗工艺-CN202010994966.7有效
发明人：袁许江;朱中晓 -专利权人： 北京石晶光电科技股份有限公司
申请日： 2020-09-21 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： C30B33/10 文献下载
摘要：一种人造种晶片腐蚀清洗工艺，包括以下步骤:(1)准备工作，(2)上架，(3)初洗，(4)腐蚀液预热，(5)籽晶片腐蚀，(6)腐蚀液回收，(7)籽晶片冲淋，(8)RO纯水超洗，(9)DI纯水超洗，(10)热风干燥，(11)检查，本发明的腐蚀清洗工艺系统化流程设计合理、工艺系统完整可靠、清洗质量好、洗净效率高、环保达标，大大优于传统籽晶片清洗作业方式。
一种人造晶片腐蚀清洗工艺

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