专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]压缩机的喘振检测方法、装置和电子设备-CN202210382065.1有效
  • 贺斌;梁涛;刘雅岚;张毅 - 重庆美的通用制冷设备有限公司;美的集团股份有限公司
  • 2022-04-12 - 2023-07-25 - F04D27/00
  • 本发明提供了一种压缩机的喘振检测方法、装置和电子设备。其中,该方法包括:采集压缩机的运行数据;基于压力数据计算压缩机的喘振压比;基于运行数据计算压缩机的波动指数;其中,波动指数包括:排气压力波动指数、电流波动指数和功率波动指数;基于波动指数和喘振压比确定压缩机的加权因子和喘振因子;其中,加权因子包括排气压力加权因子、电流加权因子和功率加权因子,喘振因子包括:排气压力喘振因子、电流喘振因子和功率喘振因子;基于加权因子和喘振因子确定压缩机是否发生喘振。该方式中,可以动态确定压缩机的加权因子和喘振因子,基于加权因子和喘振因子确定压缩机是否发生喘振,可以提高喘振检测的准确率,降低误检率和漏检率。
  • 压缩机检测方法装置电子设备
  • [发明专利]空调机组的控制方法、空调机组、空调系统和存储介质-CN202010390359.X有效
  • 张怡;刘雅岚;梁涛 - 重庆美的通用制冷设备有限公司
  • 2020-05-08 - 2022-02-11 - F24F11/64
  • 本发明提供了一种空调机组的控制方法、空调机组、空调系统和存储介质。空调机组包括压缩机和流量调节装置,压缩机设置有进口,流量调节装置被配置为适于调节流经进口的冷媒量,空调机组的控制方法包括:获取空调机组的当前工作参数;根据当前工作参数,控制压缩机的运行状态和流量调节装置的运行状态。本发明提供的空调机组的控制方法,根据当前工作参数控制压缩机的运行状态和流量调节装置的运行状态,使得空调机组的当前工作参数能够快速、准确地接近或达到预设工作参数,并增大以预设工作参数工作的时长,使得机组的预设工作参数能够实际生效,在满足空调机组安全和性能方面的需求的同时,延长了空调机组的使用寿命,并有利于节约能源。
  • 空调机组控制方法系统存储介质
  • [发明专利]空调设备的控制方法、空调设备的控制系统和空调系统-CN201910870184.X有效
  • 刘雅岚;贺斌;梁涛 - 重庆美的通用制冷设备有限公司
  • 2019-09-16 - 2021-07-13 - F24F11/62
  • 本发明提供了一种空调设备的控制方法、空调设备的控制系统和空调系统,其中,空调设备的控制方法包括:根据测试指令获取测试数据存储区中存储的模拟数据;通过模拟数据执行测试操作。基于模拟数据进行测试,无需借助外部设备或外部软件进行调试,且测试人员可以独立调取测试数据存储区中预存的模拟数据对整个群控空调系统进行测试,而无需操作人员实际调整空调设备的运行状态以模拟测试情景,在不会对空调设备的正常运行造成任何影响的情况下,可以轻易实现对较难复现的复杂逻辑点的测试,降低了对空调设备的调试成本与沟通成本,极大地降低了测试时的操作难度,一方面降低了测试、检修时的成本,另一方面提高了测试效率。
  • 空调设备控制方法控制系统空调系统
  • [发明专利]一种电耐久试验用芯片工装-CN201810361574.X有效
  • 刘雅岚;严冰;邹培根;刘艳;赵耿;罗得;刘晓珍 - 株洲中车时代半导体有限公司
  • 2018-04-20 - 2020-11-20 - G01R1/04
  • 本发明涉及一种电耐久用芯片工装,包括:底座,所述底座放置在电耐久试验台的阴极平台上,所述底座的下表面与阴极平台相贴合;所述底座上设有至少一个凹槽,所述凹槽内设有压块,所述压块的上表面凸出于所述底座的上表面,所述压块的上表面上放置芯片。本发明中的电耐久用芯片工装,使芯片能够直接压装在电耐久试验台上,无需将芯片封装进管壳内再进行试验,芯片通过压块工装而不是管壳与电耐久试验端子接触,避免因管壳表面不平整而与电耐久端子无法完全接触而导致的电场不均的问题,从而避免了打火而导致的芯片失效以及管壳报废的问题,降低试验成本。
  • 一种耐久试验芯片工装

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