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[发明专利]一种量子点发光二极管的处理方法-CN202111673065.9在审
发明人： 关慧渝;杨一行;芦子哲 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： H10K71/15 文献下载
摘要：本申请公开一种量子点发光二极管的处理方法，包括：将量子点发光二极管粉碎，得到含有纳米粒子的碎屑，所述纳米粒子包含含有重金属元素的极性量子点和非极性量子点；将碎屑置于容器中，向容器中加入极性相反的第一溶剂及第二溶剂，第一溶剂的密度大于第二溶剂的密度；向所述容器中加入与所述第二溶剂的极性相同的第一配体，混合，静置，得到分层的处理液及位于处理液底部的碎屑；将处理液与碎屑分离，得到碎屑。所述处理方法通过溶液法将包含重金属的量子点从碎屑中分离，而得到重金属含量较低甚至不含重金属的碎屑，操作步骤简单，反应条件温和，可以避免高温焚烧量子点发光二极管带来的污染大、能耗高及危险系数高等问题。
一种量子发光二极管处理方法

[实用新型]拉伸测试装置以及系统-CN202123277427.0有效
发明人：郭佺;洪佳婷;王成;芦子哲;袁密;关慧渝 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2021-12-22 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本申请提供一种拉伸测试装置以及系统，包括第一测量机构，第一测量机构用于测量发光件的光学特性；第一夹持机构以及第二夹持机构，第一夹持机构和第二夹持机构用于分别夹持发光件的两端；驱动机构，驱动机构用于驱动第一夹持机构和第二夹持机构中的至少一者移动并拉伸发光件，以测量发光件在拉伸状态下的光学特性。本申请通过拉伸重塑了发光件的能带结构，并测量了发光件的光学特性。
拉伸测试装置以及系统