“侯溪”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果70个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种微小间隙非接触测量调控装置及方法-CN202210236630.3有效
发明人：马伟皓;侯溪;李佳慧;张云;陈强 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-03-10 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G05B19/401 文献下载
摘要：本发明提供一种微小间隙非接触测量调控装置及方法，用于实现超精密制造过程中微小间隙的非接触测量以及加工工具和待加工元件之间的距离调控。装置包括：加工工具、标定物、机床本体、非接触式位移传感器、传感器工装、待加工元件、导轨、传感器电源、传感器控制器、导轨电源、导轨控制器、计算机控制系统。计算机控制系统通过控制器和电源与导轨和位移传感器相连，通过调控导轨和位移传感器的运动实现对加工工具和待加工元件之间的微小距离的测量与调控。本发明为超精密制造过程中，准确测量并且调控加工工具与待加工元件的间隙提供了一种有效的低成本的测量与调控手段。
一种微小间隙接触测量调控装置方法

[发明专利]一种非接触式抛光中恒力控制及间隙调整装置及方法-CN202310442146.0在审
发明人：翟嘉;张翅翔;侯溪;崔力娜;杨娇;杨旭宁;孟禹彤;余慕欣;赵文川 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2023-04-23 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种非接触式抛光中恒力控制及间隙调整装置及方法，包括工件台、压力传感器、位移传感器、底座、微位移平台、加工头和加工件。通过压力传感器和位移传感器进行复合感知测量，加工头在静止状态时能够对加工件进行接触式传感来精准快速调控加工间隙；在加工头旋转加工时，压力传感器和位移传感器能够复合感知抛光压力和由于压力引起传感器变形产生的微位移，与初始值作对比，再通过微位移平台运动实现恒力控制。本发明解决了加工间隙无法快速精准调控，加工过程中抛光压力由于间隙变化无法实时监控与调整的问题。
一种接触抛光恒力控制间隙调整装置方法

[发明专利]大型蒸发水池内放射性废液及泥浆的处理方法-CN202310366246.X在审
发明人：马兴均;刘宇昊;刘兵;侯溪;敬俊;严开祥;李清纲;李彦佳;吴梅 -专利权人：四川固力铁环保工程有限责任公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G21F9/08 文献下载
摘要：本发明公开了大型蒸发水池内放射性废液及泥浆的处理方法，大型蒸发水池内放射性废液及泥浆的处理方法,包括以下步骤，1)利用太阳能对废液进行蒸发结晶；2)当出现大量结晶且蒸发效果不太明显时，进行固液分离，固形物装桶，液体继续太阳能蒸发结晶；3)装桶的固形物用微波进行桶内干燥，使之游离水含量＜1％。本发明采用相对简单的操作方法，对废液进行处理，达到较好的效果，最终固体废物游离含水量不超过1％，并且，采用的方法无需加固化剂，相对于现有技术大幅减容，减少了后续处理的固相体积。
大型蒸发水池放射性废液泥浆处理方法

[发明专利]一种基于多传感融合的缺陷三维检测方法-CN202111265665.1有效
发明人：胡小川;李梦凡;赵远程;侯溪;全海洋 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于多传感融合的缺陷三维检测方法，该方法包括以下步骤：1)使用显微成像头对光学元件表面缺陷进行二维检测，获取缺陷二维尺寸数据并定位缺陷位置；2)根据缺陷定位结果，使用白光干涉测量头对缺陷对应区域进行深度检测；3)将缺陷二维尺寸数据和缺陷深度数据进行融合，从而重构出光学元件表面缺陷三维形貌。本发明采用显微成像与白光干涉测量相结合的方式进行光学元件表面缺陷三维检测，在兼顾检测精度的同时又保证了检测效率，最终实现了光学元件表面缺陷的三维检测。
一种基于传感融合缺陷三维检测方法

[发明专利]一种非接触抛光中间隙调控与抛光力测量装置及方法-CN202211733264.9在审
发明人：侯溪;马伟皓;李佳慧;陈强;张云 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： B24B49/00 文献下载
摘要：本发明提供一种非接触抛光中间隙调控与抛光力测量装置及方法，用于先进光学制造领域的非接触抛光中的抛光间隙调控与抛光力测量。该装置包括：主轴、抛光工具、光学元件、夹具、连接板、力传感器、载物台。该方法在未抛光状态时，依靠力传感器判断抛光工具与光学元件之间的接触状态并定位到初始间隙；在抛光状态时，根据力传感器测量的抛光力调控抛光工具与光学元件之间的间隙稳定。本发明为先进光学制造非接触抛光领域提供一种抛光间隙精确测量与调控的方法，有助于在抛光过程中维持抛光效果稳定，获得超光滑的光学表面。
一种接触抛光间隙调控测量装置方法

[发明专利]用于弹性发射中抛光压力的控制装置及抛光压力确定方法-CN202211641376.1在审
发明人：翟嘉;崔力娜;杨娇;张翅翔;杨旭宁;孟禹彤;侯溪 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： B24B49/16 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于弹性发射中抛光压力的控制装置及抛光压力确定方法。所述控制装置包括柔性铰链、微动板、力传感器、力驱动器、测距仪和固定板。微动板为可运动件，通过柔性铰链与固定板相连，此外，微动板还可通过力传感器和力驱动器与固定板相连；力传感器测量力驱动器施加于微动板上的力载荷；测距仪测量测距仪距微动板的距离。所述装置及算法可实时计算和控制弹性发射加工中的抛光压力，使加工过程中抛光压力满足预期要求。此外，本发明所提出的控制装置，可在抛光液液面之上工作，不受抛光液影响。
用于弹性射中抛光压力控制装置确定方法

[实用新型]一种光学元件表面缺陷高精度检测装置-CN202222137755.9有效
发明人：李梦凡;胡小川;赵远程;侯溪 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-08-15 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光学元件表面缺陷高精度检测装置，包括载物平台，用于放置待检测的光学元件；水平调整台，设置于载物平台下方；导轨移动机构，设置于水平调整台下方；第一升降机构和第二升降机构，固定于龙门架上；CCD检测模块，对所述光学元件进行快速扫描，获得表面缺陷位置信息；高精度检测模块，对所述光学元件表面缺陷进行精细检测，获取高分辨率缺陷图像；洁净罩，置于检测装置外部。本实用新型通过CCD检测模块获取所述光学元件表面缺陷位置信息，导轨移动机构根据位置信息移动载物台将缺陷置于高精度检测模块下方，获取所述光学元件高分辨率缺陷图像，最终实现光学元件表面缺陷高分辨率、定位检测，大大提高了检测精度和检测效率。
一种光学元件表面缺陷高精度检测装置

[发明专利]一种基于压力反馈的精密间隙控制系统与方法-CN202110339672.5有效
发明人：侯溪;李佳慧;张云 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-03-30 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G05B19/19 文献下载
摘要：本发明提供一种基于压力反馈的精密间隙控制系统与方法，用于弥补超精密加工中由于运动平台定位精度而引起的加工间隙误差，包括：隔振基座、加工容器、压力传感器、电机、旋转轴、加工工具、载物台、压电陶瓷微位移机构、机械臂、导轨、计算机控制系统。计算机控制系统与压力传感器、电机、压电陶瓷微位移机构、机械臂相连，通过收集压力传感器所测压力信号与系统存入的理论压力信号进行对比，将压力差值转化为压电陶瓷的微位移，实现对机械臂定位精度误差的补偿。本发明为超精密加工中由加工间隙变化而导致的加工效果不佳提供了一种有效的低成本补偿手段。
一种基于压力反馈精密间隙控制系统方法

[发明专利]一种基于深度学习的光学元件表面缺陷检测方法-CN201910176202.4有效
发明人：胡小川;全海洋;徐富超;付韬韬;侯溪;李声 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2019-03-08 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于深度学习的光学元件表面缺陷检测方法，该方法包括以下步骤：1)获取光学元件表面缺陷图像并进行预处理；2)将预处理后的缺陷图像输入预先训练好的缺陷检测模型进行光学元件表面缺陷的智能识别。所述图像预处理是对采集到的图像进行畸变校正，并采用梯度图像自适应阈值分割法、边缘检测法、二值化处理、断点连接算法相融合的方式对图像进行处理；所述缺陷检测模型是由卷积层、池化层、全连接层等组成的多层神经网络模型。与现有技术相比，本发明避免了人工目视检测带来的主观干扰及难以准确量化等问题，又弥补了成像检测方法在缺陷识别过程中准确率低、漏检率高等问题。
一种基于深度学习光学元件表面缺陷检测方法

[发明专利]一种基于自校准的计算全息及非球面调整方法-CN202210338472.2有效
发明人：赵远程;侯溪;胡小川;张帅;李梦凡;吴高峰;王惠 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于自校准的计算全息及非球面调整方法，通过先调整计算全息，后调整待测非球面，将计算全息的调整误差引入整个过程，且计算全息的调整精度可以不断优化，在此基础上精调待测非球面，提高了全流程的测量精度。采用最小二乘法拟合调整坐标方程求解最优调整坐标，并通过迭代操作降低误差，实现调整方法的自校准，整个过程基于坐标数值的相对变化进行调整，不要求光路粗调的精准度，在保证测量精度的同时，提高了测量效率。本发明通过多参量调整方程拟合和多目标优化解算，实现了计算全息及非球面的自校准调整。
一种基于校准计算全息球面调整方法

[实用新型]一种光学元件夹具-CN202222057723.8有效
发明人：赵远程;胡小川;李梦凡;侯溪 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-08-05 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光学元件夹具，包括夹具座、第一装卡块、第二装卡块、第三装卡块、第四装卡块、紧定螺钉、顶丝及消光筒，所述夹具座上表面设置有滑动槽，所述滑动槽与装卡块通过紧定螺钉连接，所述装卡块可在滑动槽内调整位置，以适应不同口径的光学元件，所述装卡块顶部有顶丝孔，用以安装顶丝，所述顶丝与光学元件侧面接触，通过微调顶丝位置实现光学元件的稳固装卡与粗定心，所述消光筒放置于所述夹具座底部，该设计集光学元件定位、装夹、粗定心、杂散光消除等功能于一体，结构简单，操作方便，通用性强，可广泛应用于光学元件缺陷检测领域。
一种光学元件夹具

[发明专利]用于非球面计算全息检测的计算机辅助调整装置及方法-CN202111622488.8有效
发明人：张帅;侯溪;严伟;胡小川;陈强 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于非球面计算全息检测的计算机辅助调整装置及方法，相移干涉仪安装在大理石横梁上；计算全息图通过全息调整架与相移干涉仪固定，通过全息调整架调整计算全息图；由检测工装、轴向位移台以及倾斜调整台组成的测量平台安装在与大理石基座相连的升降装置上，通过两个垂直安装的自准直仪测角系统实时监测测量过程中待测非球面元件的空间姿态；计算机系统与相移干涉仪相连，采集待测非球面的面形信息；通过分析采集的面形信息获得待测非球面所需调整量，根据自准直仪检测数据控制位置调整台定量调整非球面，实现检测光路的准确调整。本发明为非球面计算全息检测提供了一种有效的调整手段，具有较大的应用价值。
用于球面计算全息检测计算机辅助调整装置方法

[发明专利]一种自适应特征提取的光学表面缺陷图像分步拼接的方法-CN202210744926.6在审
发明人：王洪;侯溪;李明泽;汤湛;张帅;高博 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-06-28 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：本发明提供一种自适应特征提取的光学表面缺陷图像分步拼接的方法，包括：子图像的特征提取、子图像的标记与分类、图像的分类融合与拼接，子图像的重叠区域分别用SIFT算法进行特征提取，重叠区域有缺陷记为1，否则为0；标记为1的区域采用SIFT算法拼接，对缺陷特征点的描述子进行自适应降维改进，采用RANSAC算法对特征匹配点进行筛选，求取单一性矩阵，通过仿射变换实现融合拼接，拼接时优先对四位关系的图像拼接，其次对三位和二位的图像拼接。标记为0的区域根据坐标相对位置拼接，对重叠区域分类并采用两种方法进行融合拼接，将所得的几个大块图像实现光学元件表面缺陷的全景拼接。本发明为光学表面缺陷图像的全景拼接提供了一种高效快速的拼接手段。
一种自适应特征提取光学表面缺陷图像分步拼接方法

[发明专利]一种废树脂微波催化裂解工艺-CN202011425104.9有效
发明人：马兴均;张永奎;刘宇昊;谭川;侯溪;杨飞;亓云飞;李彦佳;吴梅 -专利权人：四川固力铁环保工程有限责任公司
申请日： 2020-12-08 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G21F9/06 文献下载
摘要：本发明涉及废树脂处理技术领域，可将废树脂高效、安全地进行干法无机稳定化处理，具体涉及一种废树脂微波催化裂解工艺，反应过程分两级进行，两级反应器中分别加入固体反应基材；沥水处理之后的废树脂依次通过两级微波反应器，在反应基材和微波的双重作用下完全裂解为无机物；废树脂吸附的金属核素以复合无机盐的形式滞留在固体基材中，并与之反应形成稳定矿化体；微波裂解反应后的尾气经气体捕集器除去其中含有氯、氮、硫元素的有害气体，再经多级过滤即可安全排放；该工艺使废树脂无机化反应率达到99.9％以上，减容倍数超过40，且形成的残渣只需进行必要的包装，无需复杂的二次处理工艺，具有极高的经济效益和良好的环保效果。
一种树脂微波催化裂解工艺

[发明专利]一种大口径曲面光学元件表面缺陷自动检测装置及方法-CN201811330664.9有效
发明人：全海洋;徐富超;付韬韬;胡小川;吴高峰;侯溪;伍凡;李声 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2018-11-09 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及一种大口径曲面光学元件表面缺陷自动检测装置及方法，属于光电技术检测领域。该装置包括测量头、旋转工件台、自动取样装置和喷淋装置。测量头包括传感器系统、照明系统和成像系统，照明系统为被测样品表面提供高均匀性和高亮度照明，旋转工件台和成像系统用于对光学表面区域的缺陷进行环带扫描和高分辨率散射成像。自动取样装置用作自动化生产中机械手自动夹取光学元件；喷淋设备一旦检测到表面上有灰尘、杂质等异物就被激活，用于准确去除被测件表面的灰尘、杂质等伪缺陷。本发明有效解决了大口径光学元件表面缺陷检测困难、效率低下的问题，可以快速测量大口径平面、球面和非球面光学元件的表面缺陷。
一种口径曲面光学元件表面缺陷自动检测装置方法

1
2
3
4
5
下一页»
尾页
共 70 条