专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体光滑表面缺陷检测系统及方法-CN202310855811.9有效
  • 郑飞;洪敬柱;吴绪波;何海双;陈志强 - 合肥图迅电子科技有限公司
  • 2023-07-13 - 2023-10-27 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种半导体光滑表面缺陷检测系统及方法,属于半导体产品检测技术领域。本发明包括相机组件和光源组件,以及与相机组件相互传输信息的分析设备,光源组件包括多个灯珠,灯珠绕相机组件为中心周向阵列呈圆环形;灯珠划分为多组;光源组件中每组灯珠点亮照射待检样品;控制每组灯珠点亮照射待检样品,每一组灯珠点亮时,相机组件均拍摄一张待检样品的图像,并将图像发送给工控机;根据从相机组件获取的多张图像并根据每组灯珠的方位通过多图合成方法合成一张用于检测样品缺陷的图像,通过该图像根据缺陷处的灰度进行缺陷检测判断。通过合成一张图增强缺陷在图像上的效果,从而检测半导体光滑表面缺陷,并降低漏检率与误检率。
  • 一种半导体光滑表面缺陷检测系统方法
  • [发明专利]一种基于光栅投影的芯片外观检测装置和方法-CN202310595408.7在审
  • 郑飞;洪敬柱;陈志强;吴绪波;何海双 - 合肥图迅电子科技有限公司
  • 2023-05-22 - 2023-09-05 - G01N21/956
  • 本发明公开了一种基于光栅投影的芯片外观检测装置和方法,属于芯片检测技术领域,检测装置,包括数字投影设备、工业相机和工业相机镜头,数字投影设备的投影视野与工业相机的拍摄视野交叉形成公共视野,芯片位于公共视野中。检测方法包括以下步骤:搭建结构光三维测量系统,并标定系统参数;投影编码结构光图案到芯片表面,捕获变形的光栅图案,计算机处理条纹图像,结合标定系统参数获取芯片三维数据;映射芯片点云至二维图像,获取散热片和引脚位置的三维数据;细分引脚区域的点云,并分别与散热片所在平面比较,完成共面度和站立度指标的测量。本发明可以实时、全面和准确地对芯片外观进行检测。
  • 一种基于光栅投影芯片外观检测装置方法
  • [实用新型]一种单镜头芯片引脚3D检测系统-CN202220431383.8有效
  • 郑飞;洪敬柱;何海双 - 合肥图迅电子科技有限公司
  • 2022-03-01 - 2022-07-15 - G01B11/00
  • 本实用新型公开了一种单镜头芯片引脚3D检测系统,属于半导体检测技术领域,包括:光源组件、棱镜组件、相机组件、固定板组件和安装组件;其中,相机组件包括一个相机和一个镜头;其中,所述光源组件设置在固定板组件底部,所述相机组件设置在所述固定板组件顶部,所述棱镜组件设置在所述光源组件、所述相机组件之间,所述固定板组件与所述安装组件滑动连接。利用单相机与棱镜搭建双目立体视觉系统,既能避免传统单目相机计算3D数据精度低,又能解决基于现场机台空间狭小的问题,在保证检测精度的基础上,降低硬件经济成本。
  • 一种镜头芯片引脚检测系统
  • [发明专利]基于单镜头的芯片引脚翘曲的3D检测方法及系统-CN202210194591.5在审
  • 郑飞;洪敬柱;何海双 - 合肥图迅电子科技有限公司
  • 2022-03-01 - 2022-06-03 - G01B11/16
  • 本发明公开了一种基于单镜头的芯片引脚翘曲的3D检测方法及系统,其中方法包括:通过光源组件、棱镜组件、相机组件和工控机搭建双目视觉检测模型,其中,相机组件包括一个相机和一个镜头;棱镜组件在光源组件开启时,将芯片引脚的第一侧和第二侧反射至镜头;相机采集镜头中的芯片引脚反射成像并将获得的芯片引脚图像发送给工控机,其中,芯片引脚图像包括芯片引脚第一侧图像和第二侧图像;工控机接收芯片引脚图像并进行处理,获得芯片引脚三维视图,并根据芯片引脚三维视图判断引脚是否翘曲。本发明利用单相机搭建的双目立体视觉系统进行检测,既能避免传统单目相机计算3D数据精度低,又解决现场空间狭小的问题,降低了硬件成本。
  • 基于镜头芯片引脚检测方法系统
  • [发明专利]基于微分变换的数控机床在机测量系统综合误差补偿方法-CN201910011892.8有效
  • 杨洪涛;李莉;陈邦晟;范禄源;张宇;何海双 - 安徽理工大学
  • 2019-01-07 - 2021-08-06 - G05B19/404
  • 本发明公布了一种基于微分变换的数控机床在机测量系统综合误差补偿方法,应用于在机测量误差补偿领域,包括对在机测量各运动部件的误差进行分析,并将误差等效成相对于理想矩阵的微分算子。为了实现利用机床本体的三轴运动补偿各项误差,将传统机床多体系统建模中刀具与工件运动链,简化成沿单一方向传递运动链,并计算各运动部件之间的矩阵关系,最终推导出在机测量系统的综合误差模型。利用矩阵之间的传递关系将各刚体误差等效成机床本体三轴的线性误差,利用三轴机床的联动,对测量系统的光栅热误差、示值误差、导轨系统的阿贝误差、测头系统的安装误差进行补偿。此种建模精度更高、更符合在机测量的实际工况,能够较好消除在机测量系统中多误差源的影响,提高在机测量系统的测量精度。
  • 基于微分变换数控机床测量系统综合误差补偿方法
  • [发明专利]一种基于菲涅尔透镜的聚光装置-CN201810907764.7有效
  • 张铈岱;何海双;庞勇军 - 安徽理工大学
  • 2018-08-10 - 2020-03-17 - F24S23/30
  • 本发明公开了一种基于菲涅尔透镜的聚光装置,由菲涅尔透镜、光电传感器、散热片、冷却管、循环泵、水箱、电机、传动装置、控制芯片等部件构成。整体装置固定于基础之上,根据各地区的纬度,与水平面形成特定的角度,仅菲涅尔透镜阵列按特定的速度做横向、纵向的两轴联动进行追日跟踪,始终保持阳光聚焦于单个或多个聚光目标物之上。底部的换热装置可将目标物因聚光而产生的热量传递给冷流体。该装置对基础的要求更加灵活,对传动和驱动装置的载荷大幅降低,可有效地提升追日跟踪精度,成本也可更加低廉,对施工、校准、后期维护都更加便捷。
  • 一种基于菲涅尔透镜聚光装置

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