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- [发明专利]观察装置-CN201680050985.6在审
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上原诚
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株式会社目白67
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2016-06-23
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2018-04-17
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G02B17/08
- 本发明解决在椭圆偏振计等观察装置中，由等倍反射式成像光学系统成像的像的像差变大的问题。椭圆偏振计(100)具备成像光学系统(30)，该成像光学系统(30)用于使来自物体表面(S)的反射光的光束成像于受光面(40)。成像光学系统(30)包括凹面主镜(32)、凸面副镜(34)以及抽出式平面镜(36)。成像光学系统(30)由等倍反射式成像光学系统构成，该等倍反射式成像光学系统能够使来自物体表面(S)的反射光的光束按照凹面主镜(32)、凸面副镜(34)、凹面主镜(32)的顺序反射之后，经由抽出式平面镜(36)而成像于受光面(40)。凸面副镜(34)为背面镜。
- 观察装置
- [发明专利]观察装置-CN201580075384.6在审
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上原诚
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株式会社目白67
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2015-07-17
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2017-09-26
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G02B17/08
- 本发明提供的观察装置，能够以10微米以下的分辨率并且超过45度的较大倾斜角来观察例如24.6×24.6mm左右的物体面。观察装置(10)具备感光面(20)和使来自物体面S的光在感光面(20)成像的成像光学系统(30)。成像光学系统(30)包括凹面主镜(32)、副镜(34)以及引出平面镜(36)。来自物体面(S)的光的光束按照凹面主镜(32)、凸面副镜(34)、凹面主镜(32)的顺序反射后，经由引出平面镜(36)而在感光面(20)成像。观察装置(10)具备第一倾转单元，其能够使从物体面(S)朝向凹面主镜(32)的光的光轴(L1)与物体面(S)的垂线(N1)所成的角度(α)变化；第二倾转单元，其能够使从引出平面镜(36)朝向感光面(20)的光的光轴(L2)与感光面(20)的垂线(N2)所成的角度(β)变化。
- 观察装置
- [实用新型]形状测定装置-CN201520431706.3有效
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吉田太郎;上原诚
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株式会社V技术
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2015-06-19
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2015-12-02
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G01B11/24
- 本实用新型提供一种形状测定装置，其通过简单的结构而以维持高分辨的状态加大景深，所述形状测定装置包括：照明光学系统，其包含能够调节从光源射出的光的量的照明系统光圈，并且在被测物一侧为远心；以及成像光学系统，其包含成像系统光圈，所述成像系统光圈使被测物和接受由该被测物投影的图像的受光面成光学共轭的关系，并且所述成像系统光圈与照明系统光圈成共轭关系，所述成像系统光圈在该被测物一侧为远心；照明系统光圈和成像系统光圈中的至少一者具备可变机构。
- 形状测定装置
- [实用新型]形状测量装置-CN201420204535.6有效
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吉田太郎;大渊一人;上原诚
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株式会社V技术
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2014-04-24
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2014-09-17
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G01B11/25
- 本实用新型的形状测量装置通过提高光源光的受光效率，不提高光源输出，而确保所希望的受光量。形状测量装置(1)具备向被测量物体(W)的设置面(2)投射光的投光部(3)和接收由投光部(3)投射的光的受光部(4)，通过受光部(4)的输出来测量被测量物体的形状和尺寸，其中，投光部(3)具备光源(10)、入射从光源(10)射出的光的杆积分器(11)、以及具有能够取入从杆积分器(11)的光射出面(11A)射出的全光束的开口数和视场而且至少在被测量物体侧呈远心状态的投光光学系统(20)，受光部(4)具备接收被测量物体的投影影像的拍摄元件(12)和使设置面(2)与拍摄元件(12)的受光面成为共轭关系的物体侧远心受光光学系统(30)，投光光学系统(20)内部的开口光圈(22)与受光光学系统(30)内部的开口光圈(33)处于共轭关系。
- 形状测量装置
- [发明专利]印刷电路布线板的制造方法-CN02813200.9无效
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上原诚
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目白精準股份有限公司
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2002-07-03
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2004-08-18
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H05K3/06
- 本发明涉及能制得可多级叠层的印刷线路板的极薄的印刷电路布线板的制造方法，其特征在于，包含以下步骤：即A.准备厚度为50μm～300μm的硅晶片(20)；B.将该硅晶片(20)安装在只能保持硅晶片(20)的边缘部的夹具(10)上，用薄膜覆盖该硅晶片(20)的整个表面，并将该硅晶片(20)固定于该夹具(10)上；C.使该薄膜形成图案，并使硅晶片(20)的正面和背面露出；D.在该露出的硅晶片(20)的规定位置上形成通孔，同时在具有该通孔的硅晶片(20)的露出面上形成金属薄膜；和E.使该金属薄膜形成图案，接着进行蚀刻，获得规定的导体图案。
- 印刷电路布线制造方法
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