专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]输出存储电路在自刷新模式的信息的电路及其相关方法-CN201710796491.9在审
  • 夏浚;陈和颖;张正男 - 钰创科技股份有限公司
  • 2017-09-06 - 2018-03-13 - G11C11/406
  • 本发明公开了一种输出存储电路在自刷新模式的信息的电路及其相关方法。所述电路包含驱动器。所述驱动器耦接于所述存储电路内的自刷新控制电路和自刷新地址计数器,用于当自刷新模式信号和测试模式信号启用且所述存储电路进入所述自刷新模式时,驱动所述存储电路内的多个衬垫输出对应所述自刷新模式信号的多个内部信号的信息,以及输出所述存储电路内对应所述多个内部信号的多条字线的地址的信息,其中所述多条字线的每一字线对应所述多个内部信号的一内部信号。因此,相较于现有技术,测试者将较容易根据所述多个内部信号的信息和所述多条字线的地址的信息,排除所述存储电路的故障。
  • 输出存储电路刷新模式信息及其相关方法
  • [发明专利]增加芯片测试效率的装置及其方法-CN201110079825.3有效
  • 刘士晖;洪森富;陈和颖 - 钰创科技股份有限公司
  • 2011-03-31 - 2011-09-28 - G11C29/56
  • 本发明提供一种增加芯片测试效率的装置,包含一式样产生器、一读取单元、一逻辑运算器及一判断单元。该式样产生器用以对一存储器芯片内的每一记忆存储区块区域写入一逻辑电位;该读取单元用以读取该记忆存储区块区域内所有记忆存储单元储存的逻辑电位;该逻辑运算器用以对该记忆存储区块区域内所有记忆存储单元储存的逻辑电位执行一第一逻辑运算,以产生一对应于该记忆存储区块区域的第一逻辑运算结果,以及对多个第一逻辑运算结果执行一第二逻辑运算,以产生一对应于该存储器芯片的第二逻辑运算结果;及该判断单元根据该第二逻辑运算结果,判断该存储器芯片是否合格。
  • 增加芯片测试效率装置及其方法
  • [发明专利]转换装置-CN201010112438.0无效
  • 夏浚;施正宗;陈和颖 - 钰创科技股份有限公司
  • 2010-02-10 - 2010-07-07 - H02M3/155
  • 一种转换装置,其具有一第一输入端、一第二输入端与一输出端,该转换装置包含有一第一电路与一第二电路。该第一电路是耦接第一输入端与输出端,用以依据第一输入端接收的一第一输入讯号来决定是否对该输出端充电,以产生一输出讯号。而第二电路是耦接该第二输入端与该输出端,用以依据第二输入端接收的一第二输入讯号,决定是否对该输出端放电,以产生该输出讯号。可仅通过差动讯号之上升缘或下降缘,来控制单端输出讯号,进而达成改善讯号品质的功效。
  • 转换装置
  • [发明专利]修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法-CN200810172056.X有效
  • 夏浚;丁子仁;陈和颖 - 钰创科技股份有限公司
  • 2008-10-28 - 2009-04-15 - G11C29/44
  • 本发明是有关于一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法,其主要结构包括有一编程接口、一模式暂存器、一控制信号产生器、一熔丝单元、一主存储阵列及一冗余存储阵列,其中编程接口包括有复数个接脚,并由存储模块的一标准接口中所选定而成,编程接口用于输入复数个编程指令及编程数据,当缺陷存储晶胞出现于主存储阵列时,模式暂存器将根据编程指令而进入一编程模式,并依此编程熔丝单元,如此冗余存储阵列的冗余存储晶胞将可用于取代缺陷存储晶胞,藉此,熔丝单元可通过标准接口直接进行编程程序,以有效的减少修补时间及降低成本。
  • 修补缺陷存储晶胞模块及其方法

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