专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种农产品智能物流存储装置及其使用方法-CN202310579914.7在审
  • 翁旭;刘赟;姜伟;江春回;荆佳平;赵福平;夏士桀 - 南通炎黄物流有限公司
  • 2023-05-23 - 2023-07-28 - B65D25/02
  • 本发明涉及农产品物流存储技术领域,具体为一种农产品智能物流存储装置及其使用方法,包括:农产品存储箱体,所述农产品存储箱体的底部安装有位移滑轮,所述农产品存储箱体的内部安装有农产品放置箱,且农产品放置箱的内壁架设有分隔置物板。本发明通过农产品保鲜组件的设计,使其农产品保鲜组件作为单独的冷源存储室,与其农产品存储箱体内部农产品并无直接接触,实现农产品与冷源分离的目的,既能很好地保持农产品的冷藏保鲜效果,又能避免因冰块随时间慢慢融化后对农产品进行浸泡而产生变质现象,同时融化后的冰水通过水泵输送至雾化喷头管上的喷头,对其农产品放置箱内部的农产品进行雾化喷洒,实现自动对农产品进行喷水保鲜的效果。
  • 一种农产品智能物流存储装置及其使用方法
  • [发明专利]晶舟组件和半导体工艺设备-CN202310272846.X在审
  • 周振溪;闫志顺;侯鹏飞;赵福平;杨来宝;郑建宇;李补忠 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2023-03-20 - 2023-06-09 - C23C16/458
  • 本发明提供一种晶舟组件,包括多个晶舟,至少一个晶舟的出舟侧底部具有前导电舟脚,至少一个晶舟的入舟侧底部具有后导电舟脚,前导电舟脚的顶部具有接触凸起,后导电舟脚的底部具有接触凹槽,相邻两个晶舟中位于出舟侧的晶舟进入工艺腔室中时,其后导电舟脚的接触凹槽能够与位于入舟侧的晶舟的前导电舟脚的接触凸起接触,以将相邻两个晶舟电连接。本发明通过后导电舟脚与前导电舟脚搭接的方式将相邻晶舟电连接,无需在工艺腔室的开口处设置电极,保证了半导体工艺效果,且前导电舟脚及后导电舟脚可随晶舟取出并单独进行清洁维护,在对晶舟进行维护时无需停机,提高了半导体工艺设备的维护效率,保证了机台产能。本发明还提供一种半导体工艺设备。
  • 组件半导体工艺设备
  • [实用新型]一种卤肉的蒸煮设备-CN202223466722.5有效
  • 赵福平;孙厚伟;王艺盼;周芳 - 山东福藤食品有限公司
  • 2022-12-26 - 2023-04-28 - A23P30/00
  • 本实用新型公开了一种卤肉的蒸煮设备,所述蒸煮锅顶部安装有顶盖,所述蒸煮锅内开设有U形预留腔体,所述蒸煮锅底部安装有电磁加热底座,所述U形预留腔体内部上方安装有保温层,所述保温层右侧上方开设有蒸汽入口,所述保温层左侧上方外侧安装有泄压阀,蒸煮锅下方左侧安装有进水装置,且进水装置与内部U形预留腔体下方相连接,并可控制U形预留腔体内水位高度,所述U形预留腔体内通过进水装置进入一定量的水,通过底部电磁加热底座加热产生蒸汽,并通过蒸汽入口处进入保温层内,通过蒸汽加热蒸煮锅内部食材。本实用新型设计合理,使用简单方便,通过电磁加热将腔体内水转回成水蒸气对内部食材加热,并且腔体内的水可通过进水装置自动填充。
  • 一种卤肉设备
  • [发明专利]漏率检测方法及半导体工艺设备-CN202211438988.0在审
  • 任志豪;杨浩;赵福平;曹景阳 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2022-11-17 - 2023-04-18 - G01M3/26
  • 本发明提供了一种漏率检测方法及半导体工艺设备,涉及漏率检测技术领域,该漏率检测方法包括:获取处于密闭状态下的反应腔室在预设时长内的压力数据集;其中,压力数据集为预设频率下采集到的压力值集合;对压力数据集进行滤波处理,得到压力滤波数据;对压力滤波数据进行曲线拟合得到拟合函数;基于拟合函数确定单位时长的压力增大值,基于单位时长的压力增大值确定反应腔室的漏率。本发明可以滤除压力数据集中波动范围较大的异常数据点,避免异常数据点导致漏率波动较大,降低了误报警概率,保障了设备的生产效率,降低了人员维护成本;同时可以使同一容器每次工艺时的漏率检测相对稳定,提升了漏率检测的准确率。
  • 检测方法半导体工艺设备

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