专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]晶片边缘轮廓测试仪-CN202122878540.8有效
  • 许琴;张立安;余求俊;白超;王志雄;苏文霞;冯小娟;潘金平 - 浙江海纳半导体有限公司
  • 2021-11-23 - 2022-05-10 - G01B11/24
  • 本实用新型公开了晶片边缘轮廓测试仪,属于检测设备技术领域,包括底座,所述底座顶部的一侧设有可移动物料固定组件,所述底座的顶部且位于可移动物料固定组件的一侧设有采像组件,所述采像组件通过升降组件与底座连接在一起,所述采像组件包括两组支撑臂和一组主相机,每组所述支撑臂顶部的两侧均轴承支撑有支撑杆,所述支撑杆的顶部固定安装有支架;本实用新型通过采像组件的设置,采像组件采用一组主相机可四组副相机配合使用,可以全方位多角度对待测试晶片进行图像采集,通过可移动物料固定组件的设置,可以对晶片进行固定,同时可对晶片与采像组件的距离进行调节,以便于采像组件对晶片进行图像采集。
  • 晶片边缘轮廓测试仪
  • [实用新型]显微镜架-CN202122177585.2有效
  • 余俊军;张立安;吴晓琦;郑明;高海军;杨国梁;程洪波;胡恩华;金裕隆;潘金平 - 浙江海纳半导体有限公司
  • 2021-09-09 - 2022-01-25 - G02B21/24
  • 本实用新型涉及显微镜架技术领域,且公开了一种显微镜架,包括底板,所述底板的顶部设置有硅片架,所述底板的顶部固定连接有连杆,所述连杆的顶端与硅片架的底部固定连接,所述硅片架的内部开设有定位孔。该显微镜架,通过底板、硅片架、连杆、定位孔、定位钉和弧形槽之间的相互配合,只需要改变定位钉的位置便可以切换不同尺寸的硅片,并且使放置在硅片架上的不同尺寸硅片的观察点位于同一高度,达到了便于快速完成显微镜架调节工作和保证不同尺寸硅片的观察点高度不变的效果,解决了现有显微镜架在盛放不同尺寸硅片时,调节步骤较为繁琐和显微镜架在切换不同尺寸的硅片后,硅片观察点高度会发生变化,从而导致焦距变化的问题。
  • 显微镜架
  • [实用新型]一种硅片研磨机用测厚装置-CN202120153614.9有效
  • 沈益军;吴雄杰;张立安;潘金平;饶伟星;肖世豪;苏文霞;梁奎;冯小娟;孟柱;余天威 - 浙江海纳半导体有限公司
  • 2021-01-20 - 2021-10-29 - B24B7/22
  • 本实用新型涉及硅片加工技术领域,且公开了一种硅片研磨机用测厚装置,包括打磨机台面,所述打磨机台面顶部设置有下磨盘,所述下磨盘顶部设有上磨盘,所述上磨盘上开设有圆孔,所述圆孔内部设有圆板,所述圆板通过轴承与圆孔活动连接,所述圆板顶部边缘固定套接有蜗轮,所述蜗轮一侧设置有操作装置,所述圆板上开设有安装孔,所述安装孔设置在圆板表面靠近边缘处,所述圆板顶部设有固定板,所述固定板顶面开设有限位槽。该硅片研磨机用测厚装置,通过拧动旋钮可以带动蜗杆转动,进而通过蜗轮带动圆板转动,有利于调节电极的位置,进而匹配不同规格硅片中心的运动轨迹,提高了适用性,调节精度高,操作方便。
  • 一种硅片研磨机用测厚装置

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