专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种表面增强拉曼散射基底以及制备方法-CN202110436134.8有效
  • 侯玉欣;马庆;罗向东;余洋;陈明 - 江苏度微光学科技有限公司
  • 2021-04-22 - 2022-12-06 - G02B5/02
  • 本发明公开了一种表面增强拉曼散射基底以及这种基底的制备方法。先在柔性高分子基底上生长一层金纳米薄膜,通过双向机械拉伸的方法使得金薄膜随着高分子的伸长产生规则均匀的裂纹。随后,将具有拉伸微结构的金薄膜转移到干净的玻璃基底上并在其上面生长一层均匀致密的SnSe2纳米片。这样的结构结合了传统金属SERS基底具有的优点,即金属尖端有热点,增强了局域电场;又结合了半导体SERS基底的优点,能够避免金属SERS基底吸附能力弱而团聚导致表面不均匀,此外二维材料SnSe2的比表面积大,结构具有限光作用,能将光限制在结构内。本发明结合了半导体SERS基底以及传统金属基底的优势,具有增强拉曼散射的作用。
  • 一种表面增强散射基底以及制备方法
  • [发明专利]一种柔性聚合物随机激光器及其制备方法-CN202110437606.1在审
  • 胡明珠;马庆;罗向东;余洋;陈明;杨春雷 - 江苏度微光学科技有限公司
  • 2021-04-22 - 2021-08-31 - H01S3/02
  • 本发明提出了一种柔性聚合物随机激光器及其制备方法,属于激光器技术领域。激光器包括柔性聚合物基底、置于所述柔性聚合物基底上的金纳米方块阵列层、以及置于所述金纳米方块阵列层上的PMMA/染料膜;所述的金纳米方块阵列层是通过将金纳米薄膜进行横、纵向拉伸得到的具有均匀裂纹的结构。该制备方法利用了金纳米方块阵列的强烈的散射特性和表面等离子共振(SPR)效应,从而提高PMMA/染料聚合物膜层/金纳米方块阵列层/柔性聚合物基底层结构的光增益。该激光器采用柔性基底,工艺简单,有源波导对光放大的辐射进行了约束,可提高光子散射的平均自由程;有源层/金纳米方块层的界面提供了反馈机制。
  • 一种柔性聚合物随机激光器及其制备方法
  • [发明专利]一种基于SnSe2-CN202110436121.0在审
  • 陈志勇;马庆;罗向东;余洋;陈明;杨春雷;童佩斐;李国啸 - 江苏度微光学科技有限公司
  • 2021-04-22 - 2021-08-24 - B81B7/04
  • 本发明提出了一种基于SnSe2半导体的多功能智能传感器及其制备方法,属于多功能传感器领域。包括基底、第一区域传感器、第二区域传感器和第三区域传感器;所述的基底为半Mo金属‑半玻璃结构,第一区域传感器和第二区域传感器位于基底上的Mo金属层上,与Mo金属薄膜接通,分别为光电传感器和甲烷气体传感器;第三区域传感器位于基底上的玻璃位置,为压力传感器。本发明利用了SnSex二维材料在同一个基底上生长及多功能优势,使一个传感器能同时测量多个参数,这种多功能传感器不但体积小、功能强,而且采集的信息集中,便于处理,对于未来半导体集成技术都有深远的意义与影响。
  • 一种基于snsebasesub
  • [实用新型]适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试系统-CN202022759281.2有效
  • 马庆;匡翠方;罗向东;余洋 - 江苏度微光学科技有限公司
  • 2020-11-25 - 2021-08-06 - G01N21/64
  • 本实用新型提出了一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试系统,属于显微光谱成像领域。包括样品杆、转接腔、相机、照明光源、第一光学模块、第二光学模块、激光器和光谱仪;所述的样品杆为中空结构,样品杆一端连接三维位移台,样品杆另一端通过转接腔与第一光学模块连接;所述样品杆的内部还安装有显微物镜,显微物镜的物方朝向样品台一侧。本实用新型将自由空间光路引入到样品杆中,解决了传统光纤的热胀冷缩引起的失焦问题,进一步利用显微成像系统,解决了光纤样本杆中的盲扫问题,可以在光谱检测的同时进行实时的显微成像,对样品的光谱测量位置进行精确定位,得到光谱和样品表面位置的对应关系。
  • 适用于低温磁场环境显微光谱成像测试系统

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