专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果15个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [实用新型]一种激光器芯片测试用控温装置-CN202222738432.5有效
  • 姚昌余;罗长付 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-10-18 - 2023-08-29 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种激光器芯片测试用控温装置,涉及控温装置技术领域,包括:主装置,用于在激光器芯片测试过程中控制温度;控温钮,位于主装置一侧一端中部的顶端,且与主装置一侧一端中部的顶端旋转连接,所述控温钮的一端设有温度显示屏,所述温度显示屏的一侧与主装置一侧另一端的中部固定连接;安装机构,位于主装置两端的底端;散热机构,位于主装置内侧的顶端;所述安装机构包括安装卡块,所述安装卡块位于主装置两端的底端。本实用新型有益效果是:便于对装置进行安装固定,安装时无需辅助工具,安装时较为便捷快速和省时省力,便于调节驱动机构的角度,便于在使用时对装置内部的零件进行散热,有利于提高散热的效率。
  • 一种激光器芯片测试用控温装置
  • [实用新型]一种激光器芯片测试用自动取放设备-CN202320101353.5有效
  • 孙辉;姚昌余;赵晨 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2023-02-02 - 2023-06-06 - B65G49/05
  • 本实用新型公开了一种激光器芯片测试用自动取放设备,属于芯片测试设备技术领域,其包括安装板和料盘,所述安装板的上表面设有移动导轨和移动支撑组件,所述移动导轨的正面设有移动吸嘴组件,所述移动支撑组件的上表面对应移动吸嘴组件的位置设有置物盘。该激光器芯片测试用自动取放设备,通过设置第一活塞框、第一活塞板、第一活塞杆、第二活塞框、第二活塞板、接触板、第一限位板和第二限位板,接触板被挤压会控制第一活塞板向上移动,第一活塞框内气体转移至第二活塞框和第三活塞框内,实现第一限位板和第二限位板在料槽内移动,将料槽内芯片推动至拐角位置,实现对芯片位置的调整统一,保证后续芯片的吸取转移过程顺利精准进行。
  • 一种激光器芯片测试自动设备
  • [实用新型]一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备-CN202222386795.7有效
  • 孙辉;胡雪妮 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-09-05 - 2023-06-06 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备,涉及激光器芯片测试技术领域,包括:测试用支撑组件,用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑;活动组件,位于测试用支撑组件内部的顶端。本实用新型的有益效果是:由于拨动板后侧的弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增,即可使顺时针转动中的拨动板会缓缓对联动块产生向下的拨动力,使联动块携带联动块、限位块,沿着套筒前端的条形缺口缓缓向下移动,对抵压板和套杆对套筒产生的弹性势能的大小进行调整,将插杆经过相应的插孔塞至拨动板的左侧位置处,使铁块与磁块接触并磁吸连接,保证后续移动块上下位置调整后的稳定性,同时又能对套杆与套筒之间的伸缩范围进行调整。
  • 一种便于后期维护激光器芯片自动测试设备
  • [实用新型]一种激光器芯片的耐温性测试台-CN202223030935.3有效
  • 姚昌余;戚振洲 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-11-15 - 2023-06-06 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及测试台技术领域,尤其是一种激光器芯片的耐温性测试台,包括:测试台,用于对芯片进行测试;底座,固定于测试台的顶部;清理机构,位于测试台的顶部;所述清理机构包括空槽板,所述空槽板的内部转动设置有丝杆,所述空槽板的外壁固定安装有电机,有益效果在于:当竖杆移动的时候带动刮板在测试台的内部移动,测试台的内部设置有清水,清水会在测试台的内壁留下水垢,在清理的时候需要将测试台内的水从排杂槽排出,之后当刮板移动的时候杂质被刮除并从排杂槽排出,之后第一圆杆移动的时候带动第二圆杆移动,第二圆杆上的齿轮在齿条上,所以会带动第二圆杆旋转移动,之后通过刷毛有利于将测试台顶部的灰尘与杂质清理。
  • 一种激光器芯片耐温测试
  • [实用新型]一种半导体激光器芯片测试固定装置-CN202223339507.9有效
  • 丁晶晶;姚昌余;杨江峰 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-12-12 - 2023-05-23 - G01R31/26
  • 本实用新型公开了一种半导体激光器芯片测试固定装置,包括测试台、安装盒和气缸,所述测试台与气缸固接,所述测试台的一侧设置有第一夹板,所述测试台的内部设置有吸盘,所述吸盘的一侧通过螺杆与测试台螺合连接,所述安装盒的内部设置有弹簧和弹簧板,具体涉及半导体激光器芯片测试技术领域。该半导体激光器芯片测试固定装置,由于在弹簧板移动的过程中,弹簧板会压迫或者拉伸弹簧导致弹簧形变,致使弹簧长时间使用后会损坏,通过将螺栓从弹簧板和测试台中拧出后,使第一卡块与弹簧板和测试台脱离,然后将与第二卡块卡接的弹簧从安装盒中取出后更换新的弹簧继续使用,使得弹簧板可以正常使用,延长了装置的使用寿命。
  • 一种半导体激光器芯片测试固定装置
  • [实用新型]一种激光器芯片的可调型测试基准点支架-CN202223032344.X有效
  • 李黎菲;彭章洋 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-11-15 - 2023-03-24 - B25B11/00
  • 本实用新型公开了一种激光器芯片的可调型测试基准点支架,涉及激光器芯片测试技术领域,包括:芯片放置台板,用于对要检测的芯片进行托放;芯片夹箍推送机构,位于芯片放置台板的顶端;调高支撑机构,位于芯片放置台板的底端;所述芯片夹箍推送机构包括限位板块,所述限位板块位于芯片放置台板顶端的一端,且与芯片放置台板顶端的一端固定连接,所述限位板块的内侧滑动连接有推拉杆,所述推拉杆的一端固定连接有卡箍板。本实用新型有益效果是:便于对检测的芯片进行快速排料,便于对检测好的芯片进行排料收集,有利于提高排料的效率,便于对装置进行安装固定,安装固定时较为省时省力,便于调节装置的高度。
  • 一种激光器芯片可调测试基准点支架
  • [实用新型]一种用于激光器芯片的测试夹具-CN202222738429.3有效
  • 丁晶晶;彭章洋;李丽敏 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-10-18 - 2023-03-14 - B65G49/07
  • 本实用新型公开了一种用于激光器芯片的测试夹具,包括夹具座,所述夹具座的内部开设有芯片腔,所述夹具座的一侧设置有拨动装置,所述拨动装置内设有螺杆,所述螺杆的外圆周壁固接有拨片,具体涉及激光器芯片测试技术领域。该用于激光器芯片的测试夹具,在激光器芯片测试完毕后,通过转动带有防滑纹的旋钮,使得旋钮带动螺杆转动,由于螺杆与螺座螺合连接、且螺杆的一侧固接有延伸入拨动腔的拨片,因此通过轻微转动旋钮使螺杆带动拨片摆动、拨片摆动后将芯片腔内部的激光器芯片向上轻轻挑起,使得激光器芯片方便取出,在批量测试激光器芯片的过程中能减少激光器芯片的放置和拿取时间,有效提升激光器芯片的测试效率。
  • 一种用于激光器芯片测试夹具
  • [实用新型]一种简化的激光器芯片定位夹具-CN202222019157.1有效
  • 黄帅;范华君;李强 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-08-02 - 2023-01-20 - B65D25/10
  • 本实用新型公开了一种简化的激光器芯片定位夹具,包括夹具座和激光器芯片,所述夹具座的内部设置有弹簧,所述弹簧的一侧设置有挡板,所述弹簧的两端均固接有替换块,其中一个所述替换块与夹具座活动连接、另一个所述替换块与挡板活动连接,具体涉及激光器芯片夹具技术领域。该简化的激光器芯片定位夹具,由于弹簧通过替换块与夹具座和挡板活动连接,在取用和放置激光器芯片的过程中,弹簧伸缩导致损伤后可通过螺杆将弹簧与替换块分离、更换新的弹簧与替换块即可维持装置继续使用,有效提升了装置的使用寿命。
  • 一种简化激光器芯片定位夹具
  • [实用新型]一种激光器芯片自动测试设备-CN202222642988.4有效
  • 姚昌余 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-10-09 - 2023-01-20 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种激光器芯片自动测试设备,包括:基座,为本装置的主体平台,所述基座的上端设有防尘盖;所述基座的上表面通过铆钉固定安装有:晶圆放置台、高温检测台、常温检测台、检测机构、分类放置台、转运检测台,所述高温检测台设置在所述晶圆放置台的左侧,所述常温检测台设置在所述高温检测台的左侧,所述分类放置台设置在所述常温检测台的左侧,所述检测机构设于所述常温检测台与所述高温检测台的前端,所述检测机构共设置两组;该用于激光芯片的检测装置,能够利用三组检测平台,对激光芯片进行高温与常温下的检测,从而更准确的检测激光芯片的体质,同时也具有相当高的检测效率,能够满足大批量激光芯片的快速检测需求。
  • 一种激光器芯片自动测试设备
  • [实用新型]一种激光芯片用高温检测台-CN202222643590.2有效
  • 姚昌余;潘明英 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-10-09 - 2023-01-20 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种激光芯片用高温检测台,包括:活动基座,为本高温检测台的底座部分,所述活动基座的后端设有固定基座,所述活动基座上设有旋转驱动台,所述旋转驱动台的上端转动设置有加热放置台,固定基座的上端设有横向双杆气缸,所述横向双杆气缸的上端设有固定支架以及光谱探测支架,所述固定支架的上端设有光功率探测器,所述光功率探测器的探测端朝向加热放置台方向设置,所述光谱探测支架的上端设有光谱探测器,该用于激光芯片测试用的高温平台,能够对激光芯片进行高温存放,利用光功率探测器以及光功率探测器对芯片进行光学性能测试,从而对激光芯片进行进一步的稳定性测试,以分辨出芯片的品质优劣,提高探测效率。
  • 一种激光芯片高温检测
  • [发明专利]一种激光器芯片自动测试设备-CN202211226976.1在审
  • 姚昌余 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-10-09 - 2022-12-09 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种激光器芯片自动测试设备,包括:基座,为本装置的主体平台,所述基座的上端设有防尘盖;所述基座的上表面通过铆钉固定安装有:晶圆放置台、高温检测台、常温检测台、检测机构、分类放置台、转运检测台,所述高温检测台设置在所述晶圆放置台的左侧,所述常温检测台设置在所述高温检测台的左侧,所述分类放置台设置在所述常温检测台的左侧,所述检测机构设于所述常温检测台与所述高温检测台的前端,所述检测机构共设置两组;该用于激光芯片的检测装置,能够利用三组检测平台,对激光芯片进行高温与常温下的检测,从而更准确的检测激光芯片的体质,同时也具有相当高的检测效率,能够满足大批量激光芯片的快速检测需求。
  • 一种激光器芯片自动测试设备
  • [实用新型]一种用于激光器芯片焦距自动检测设备-CN202222352152.0有效
  • 姚昌余;屈阳 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-09-05 - 2022-12-02 - G01M11/02
  • 本实用新型公开了一种用于激光器芯片焦距自动检测设备,涉及激光器芯片焦距检测并调整技术领域,包括:检测组件,用于激光器芯片焦距检测所用设备;回弹组件,位于检测组件内部一侧的底端;放置组件,位于回弹组件的一侧且与回弹组件活动连接。本实用新型的有益效果是:由于第二拨动板右侧面的弧形面到第二拨动杆之间的距离从右到左依次递减,即可使顺时针转动中的第二拨动板对放置板产生向前的推动力,使放置板携带其侧面的限位块沿着限位槽的内部向前移动,实现对放置板前后左右的位置进行调整,解决由于其芯片体积较小不易聚焦的现象,直至放置板及其顶部放置的物件被调整至合适的位置,即可实现反向聚焦,降低了聚焦的难度。
  • 一种用于激光器芯片焦距自动检测设备
  • [实用新型]一种自动整理激光器管脚的装置-CN202222017386.X有效
  • 柳蕾;常进逸 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2022-08-02 - 2022-12-02 - H01S5/0233
  • 本实用新型公开了一种自动整理激光器管脚的装置,包括升降装置、第一驱动组件、第一拨叉机构、第二驱动组件、第二拨叉机构和阶梯型板,所述升降装置与所述阶梯型板固定连接,所述第一驱动组件横向设置在所述阶梯型板的低平面上,所述第一拨叉机构与所述第一驱动组件固定连接,所述第二驱动组件纵向设置在所述阶梯型板的高平面上,所述第二拨叉机构与所述第二驱动组件固定连接,所述第一拨叉机构和所述第二拨叉机构用于夹紧激光器管脚,通过第一驱动组件带动第一拨叉机构在阶梯型板的低平面上横向运动和第二驱动组件带动第二拨叉机构在阶梯型板的高平面上纵向运动,从而夹持激光器管脚,然后,升降装置带动阶梯型板向下运动,将激光器管脚捋直。
  • 一种自动整理激光器管脚装置
  • [发明专利]一种可测三种温度的芯片测试设备-CN201910977651.9有效
  • 吴靖宇;姚昌余;洪志鸿 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2019-10-15 - 2022-06-21 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种可测三种温度的芯片测试设备,包括固定箱,固定箱的顶部从左到右分别固定连接有耦合测试装置、检测箱体、气泵和控制处理器,检测箱体的内腔通过十字分隔架分别开设有低温腔、常温腔、高温腔和进料腔,本发明涉及芯片检测技术领域。该可测三种温度的芯片测试设备,在进行三种温度的检测时,通过预先在低温腔、常温腔和高温腔内设定温度,在检测时只需将芯片放置在圆转盘内的限位槽内,即可快速的依次对芯片进行低温状态、常温状态和高温状态下的检测,并且一次可以对多个芯片同时进行检测,无需等待芯片预热到设定的温度,并且通过保温措施降低了温度的损耗,检测更加快速,并且更加节能。
  • 一种可测三种温度芯片测试设备
  • [发明专利]一种检测芯片衬底厚度的台阶仪-CN201910977661.2有效
  • 丁晶晶;李黎菲 - 枝江亿硕半导体有限公司
  • 2019-10-15 - 2022-02-01 - G01B7/06
  • 本发明公开了一种检测芯片衬底厚度的台阶仪,包括固定底座,所述固定底座的顶部固定连接有支撑架,所述支撑架的顶部固定连接有控制装置,所述控制装置的底部固定连接有升降驱动装置,所述升降驱动装置输出轴的底端固定连接有检测模组,本发明涉及台阶仪技术领域。该检测芯片衬底厚度的台阶仪,当需要更换磨损的探测针头时,将螺纹杆旋接进螺纹槽内,通过刻度指示盘的转动,使得探测针头的伸出长度可视化,可以快速判断出探测针头的伸出长度,当刻度指示针指向预先记录好的刻度时,表示高度正常,并且通过转动螺纹杆可以快速的对探测针头的伸出长度进行校准,使得厚度检测的更加精准,使用起来更加方便快捷。
  • 一种检测芯片衬底厚度台阶

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top