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- [发明专利]一种烘箱及其老化测试装置-CN201911169896.5在审
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曹佶;田俊
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杭州可靠性仪器厂
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2019-11-26
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2021-06-11
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G01N25/00
- 本发明公开了一种烘箱，包括腔室、蒸发器和用于促进气体流动的通气组件，腔室包括具有空腔的腔壁和由腔壁围成的内腔，腔壁上具有进气口，蒸发器和通气组件均与腔壁连接，通气组件与空腔相通，蒸发器包括出风架、加热器和冷凝器，加热器和冷凝器均设置在所述空腔内，内腔通过出风架与所述空腔连通。本发明还公开了一种老化测试装置，包括上述的烘箱，还包括柜体、控制器、整机电源和集风罩，整机电源和烘箱均设置在柜体内，控制器和集风罩均设置在所述柜体上，通气组件、蒸发器和整机电源均与控制器电性连接，集风罩与通气组件连通。其能解决烘箱不能快速地给待烘物降温的问题。
- 一种烘箱及其老化测试装置
- [发明专利]一种老化测试装置-CN201910975914.2在审
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曹佶;赵宝忠
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杭州可靠性仪器厂
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2019-10-16
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2021-04-16
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G11C29/56
- 本发明公开了一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。
- 一种老化测试装置
- [实用新型]一种负载机箱及其电源测试柜-CN202020442864.X有效
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曹佶;陆剑波;朱开开
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杭州可靠性仪器厂
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2020-04-02
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2020-11-17
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G01R31/40
- 本实用新型公开了一种负载机箱，包括具有开口的盒体、电路背板、多个滑件和用于改变电阻的负载电路板，所述电路背板与所述开口相对设置，所述电路背板与所述盒体固定连接，多个滑件均固定于所述盒体的内壁上，所述负载电路板与所述滑件滑动连接，当所述负载电路板滑动到一定位置处与所述电路背板电性连接。其还公开了一种电源测试柜，包括上述任一项所述的负载机箱，还包括箱体、工控机和用于测试电源的测试机箱，所述负载机箱、所述测试机箱和所述工控机分别位于所述箱体内，所述测试机箱和所述负载机箱分别与所述工控机电性连接。其安装多个负载电路板非常方便，利于测试待测电源。
- 一种负载机箱及其电源测试
- [实用新型]一种烘箱及其老化测试装置-CN201922032499.5有效
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曹佶;田俊
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杭州可靠性仪器厂
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2019-11-26
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2020-09-15
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G01N25/00
- 本实用新型公开了一种烘箱，包括腔室、蒸发器和用于促进气体流动的通气组件，腔室包括具有空腔的腔壁和由腔壁围成的内腔，腔壁上具有进气口，蒸发器和通气组件均与腔壁连接，通气组件与空腔相通，蒸发器包括出风架、加热器和冷凝器，加热器和冷凝器均设置在所述空腔内，内腔通过出风架与所述空腔连通。本实用新型还公开了一种老化测试装置，包括上述的烘箱，还包括柜体、控制器、整机电源和集风罩，整机电源和烘箱均设置在柜体内，控制器和集风罩均设置在所述柜体上，通气组件、蒸发器和整机电源均与控制器电性连接，集风罩与通气组件连通。其能解决烘箱不能快速地给待烘物降温的问题。
- 一种烘箱及其老化测试装置
- [实用新型]摇板装载器-CN202020443850.X有效
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曹佶;吴福铭
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杭州可靠性仪器厂
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2020-04-02
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2020-09-15
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H05K13/04
- 本实用新型公开了一种摇板装载器，包括用于装载电子元件的装载盒和与所述装载盒滑动连接的导向隔板，所述装载盒包括筛板，所述筛板上设置有多个筛孔，所述导向隔板上设置有与多个筛孔相对应的多个穿孔，当所述导向隔板滑动到所述筛板的一端时，多个筛孔与多个穿孔一一连通；当所述导向隔板滑动到所述筛板的另一端时，所述导向隔板遮挡所述筛孔。其能方便和快速地安装微型电子元件。
- 装载
- [实用新型]一种老化测试装置-CN201921732281.4有效
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曹佶;赵宝忠
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杭州可靠性仪器厂
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2019-10-16
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2020-05-26
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G11C29/56
- 本实用新型公开了一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。
- 一种老化测试装置
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