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- [实用新型]一种微型半导体产品加工清洁台-CN202122375356.1有效
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杜浩晨;安浩
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-09-29
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2022-07-05
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B25H1/16
- 本实用新型公开了一种微型半导体产品加工清洁台,包括倾斜调节装置、半接触式运送装置、回收槽调节装置和手臂放置区调节装置。本实用新型属于半导体产品加工设备技术领域,具体是指一种微型半导体产品加工清洁台,为了解决既能够运输半导体材料,又不会将电路板移动至工作区域外的设计目标,通过改变对电路板起防掉落作用的装置的面积,实现对电路板的有效限位,通过对桌台水平、垂直和倾斜多个方向上的调整,构建更加适合多种人体倚靠的工作桌台,在保证工作桌台清洁的同时,也实现了减缓人体身体压力的功能,有效解决了目前市场上现有的半导体产品加工设备效率低下,且自身结构复杂,维护较为不便的问题。
- 一种微型半导体产品加工清洁
- [实用新型]一种碳化硅半导体封装检测装置-CN202122731533.5有效
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杜浩晨
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-11-09
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2022-04-05
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G01N21/88
- 本实用新型公开的属于检测装置技术领域,具体为一种碳化硅半导体封装检测装置,包括底座、活动台和显微镜,所述底座顶部放置有所述活动台,所述活动台顶部垂直方向设置有气缸,所述气缸的输出端顶部设置有支撑架。该实用新型,微型电动推杆缓慢推动夹板,使得待检测的半导体封装被夹持固定在夹板之间,通过显微镜对其进行观测外表有误裂缝,污垢等,启动第二伺服电机带动夹板转动,方便检测其反面;而通过气缸可调节半导体封装整体的高度。当一个半导体封装在检测时,可以将另一个半导体封装安装在另一个夹板上,并通过第一伺服电机驱动丝杆转动,从而左右调节多个活动台在底座上方的位置,提高了装载和检测半导体封装的效率。
- 一种碳化硅半导体封装检测装置
- [实用新型]一种碳化硅生产用碳化硅块破碎装置-CN202122657061.3有效
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杜浩晨;罗景涛
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-11-02
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2022-03-22
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B02C4/08
- 本实用新型公开了一种碳化硅生产用碳化硅块破碎装置,包括破碎收集机构、入料封闭调节机构、破碎驱动机构、安装曲臂、破碎容器、出料口、入料侧边挡板、破碎辊一和破碎辊二。本实用新型属于碳化硅破碎技术领域,具体是一种碳化硅生产用碳化硅块破碎装置,通过设置破碎收集机构大大改善了碳化硅块破碎后的收集和取出步骤的便捷性,通过设置破碎驱动机构提高了碳化硅块破碎的效果,通过设置入料封闭调节机构有效防止碳化硅块破碎时发生入料口进入异物的状况,提高了碳化硅生产用碳化硅块破碎装置的工作效率,提升了碳化硅生产用碳化硅块破碎装置的自动化程度,提高了碳化硅生产用碳化硅块破碎装置的使用体验。
- 一种碳化硅生产破碎装置
- [发明专利]一种碳化硅动静态测试一体机-CN202111373271.8有效
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杜浩晨
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-11-19
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2022-03-01
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G01R31/26
- 本发明属于半导体测试设备技术领域,具体涉及一种碳化硅动静态测试一体机,包括测试设备主体和进样装置,所述进样装置包括立柱,所述立柱顶部转动连接有活动柱,所述活动柱铺设有导线,所述导线与所述碳化硅器件接口端连接的一端连接有导电金属柱,所述导电金属柱固定在活动柱底部;所述立柱的侧方设有固定架,所述固定架上安装有样品存储箱、样品传送装置、高度调节装置、样品回收箱和控制器。本发明开发出了与碳化硅测试设备配套使用的可连续测试的、适用于动静态结合测试的进样装置,不仅可将待检的所有碳化硅器件连续性测试,还可模拟碳化硅器件的静态使用过程和动态使用过程的位置变化,准确度更高。
- 一种碳化硅静态测试一体机
- [发明专利]一种防带电空载的半导体检测供电装置-CN202110978139.3有效
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杜浩晨
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-08-25
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2021-11-09
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H02J1/00
- 本发明公开了一种防带电空载的半导体检测供电装置。降压电路分别连接第一开关电路的控制端和输入端,第一开关电路的输出端连接储能电路;储能电路连接于继电器的常开触点,负载接入电路连接于继电器的开关触点,第二开关电路的控制端连接于继电器的常闭触点;第二开关电路的输入端连接降压电路,第二开关电路的输出端连接第三开关电路的控制端;第三开关电路的输入端连接降压电路,输出端连接继电器的继电器线包。降压电路包括电流产生单元、电流等效单元、一级降压单元,和至少一组次级降压单元,一级降压单元和各次级降压单元均包括多级压降模块。第二开关电路采用光耦合器。本装置能够实现无负载无电压,可灵活配置压降幅度和低压信号路数。
- 一种带电空载半导体检测供电装置
- [发明专利]一种碳化硅动态检测设备-CN202110677477.3有效
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杜浩晨
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-06-18
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2021-11-02
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G01R31/26
- 本发明属于半导体检测设备技术领域,具体涉及一种碳化硅动态检测设备,该设备包括检测设备主体和进样装置,所述进样装置包括立架和外壳,所述立架上铺设有与碳化硅器件端口以及检测设备主体接线端口连接的导线,所述导线的用于插入上述端口的一端采用导电金属柱,所述外壳的顶部设有穿接口;所述外壳内设有样品存储箱、样品传送装置、样品收集箱和控制器,所述样品传送装置位于所述导电金属柱和所述样品存储箱之间,所述样品传送装置用于将碳化硅器件传送至适宜的位置。本发明开发出了与碳化硅检测设备配套使用的可连续检测的进样装置,可将待检的所有碳化硅器件连续性测试,比传统的逐个器件测试过程大大提高了速度,节约人力。
- 一种碳化硅动态检测设备
- [实用新型]一种半导体检测用辅助装置-CN202120277488.8有效
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杜浩晨;王光辉
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-02-01
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2021-09-24
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G01R1/04
- 本实用新型涉及半导体技术领域,且公开了一种半导体检测用辅助装置,包括安装板,所述安装板的顶部开设有安装孔,所述安装孔的内壁活动连接有固定螺丝,所述固定螺丝的外壁活动连接有防脱垫,所述防脱垫的正面开设有穿插孔,所述安装板的顶部固定连接有放置座,所述安装板的顶部固定连接有固定板,所述固定板的正面开设有活动孔。该半导体检测用辅助装置,达到了该半导体检测用辅助装置便于操作的目的,解决了一般的检测用辅助装置不便于操作的问题,使人们在使用的过程中操作更加快捷,进一步节省了大量的时间,一定程度上提高了人们的工作效率,从而满足了人们的使用需求,使人们在使用该半导体检测用辅助装置的过程中更加的顺心。
- 一种半导体检测辅助装置
- [实用新型]一种半导体检测用工作台-CN202120277694.9有效
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杜浩晨;王光辉
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陕西开尔文测控技术有限公司
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2021-02-01
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2021-09-24
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G01R1/04
- 本实用新型涉及半导体技术领域,且公开了一种半导体检测用工作台,包括支撑台,所述支撑台的底部固定连接有固定支腿,所述支撑台的一侧开设有收纳槽,所述收纳槽的内壁活动连接有收纳盒,所述收纳盒的一侧固定连接有握把,所述支撑台的顶部固定连接有防护板。该半导体检测用工作台,达到了该半导体检测用工作台固定效果好的目的,解决了一般的检测用工作台固定效果不是很好的问题,有效避免人们在对半导体检测的过程中仪器发生移动的现象,一定程度上保障了半导体检测的进度,同时给人们的工作带来了便利,进一步提高了人们的工作效率,从而满足了人们的使用需求,使人们在使用该半导体检测用工作台的过程中更加的省心。
- 一种半导体检测用工
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