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- [发明专利]元件错件检测方法和系统-CN201610887939.3有效
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李红匣
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广州视源电子科技股份有限公司
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2016-10-11
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2019-06-11
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G06T7/00
- 本发明涉及一种元件错件检测方法和系统，其中，方法包括以下步骤：获取待测元件在电路板上的原始图像，从所述原始图像中定位所述待测元件的特征区域图像；其中，所述特征区域图像包含所述待测元件的特征信息，所述特征信息用于对所述待测元件与其他元件进行区分；将所述特征区域图像中各个像素点的像素值分别与预存的特征区域模板图像中对应像素点的像素值进行比较，获取所述特征区域图像与所述特征区域模板图像的像素相似度；若所述像素相似度小于预设的相似度阈值，判定所述待测元件错件。上述元件错件检测方法和系统，实现了元件错件检测的自动化，能够有效提高检测效率和准确性。
- 元件检测方法系统
- [发明专利]元件反件检测方法和系统-CN201610561857.X有效
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李红匣
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广州视源电子科技股份有限公司
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2016-07-13
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2019-02-26
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G06T7/00
- 本发明涉及一种元件反件检测方法和系统，其中方法包括以下步骤：获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像；获取所述极性区域图像中像素值处于预选的像素值区间内的像素点的第一数量，将所述第一数量与预存的极性区域参考图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第一参考数量进行比较；获取所述极性对称区域图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二数量，将所述第二数量与所述极性区域参考图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二参考数量进行比较；若所述第一数量与所述第一参考数量的差值大于预设的第一差值阈值，且所述第二数量与所述第二参考数量的差值小于预设的第二差值阈值，判定所述待测元件反件。
- 元件检测方法系统
- [发明专利]元件反件检测方法和系统-CN201610556307.9有效
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李红匣
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广州视源电子科技股份有限公司
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2016-07-13
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2019-02-01
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G06T7/00
- 本发明涉及一种元件反件检测方法和系统，其中方法包括以下步骤：获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像；其中，极性区域为安装正确时所述待测元件的电极在所述电路板上的区域，极性对称区域为反件时所述电极在电路板上的区域；分别计算所述极性区域图像与预存的极性区域参考图像的第一颜色相似度，以及所述极性对称区域图像与所述极性区域参考图像的第二颜色相似度；若所述第一颜色相似度小于所述第二颜色相似度，判定所述待测元件反件。上述元件反件检测方法和系统无需大量的训练样本，只需要获取元件的极性区域和极性对称区域，操作简单，识别率高，检测效果较好。
- 元件检测方法系统
- [发明专利]一种图像检测方法和装置-CN201710076259.8在审
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李红匣
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广州视源电子科技股份有限公司
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2017-02-13
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2017-06-13
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G06T7/11
- 本发明实施例公开了一种图像检测方法和装置。其中，一种图像检测方法，包括获取待检测图像，从所述待检测图像中提取最大稳定极值MSER区域，其中，所述MSER区域为连通区域，过滤所述MSER区域，得到所述待检测图像中的文本区域。通过从待检测图像中提取MSER区域，以划分连通区域的方式提取MSER区域作为候选区域，再对提取到的MSER区域进行过滤筛选，最终得到待检测图像中的文本区域，区域划分有利于减少计算量、提高检测效率，同时提取MSER区域可减少图像背景的干扰，可提高在检测背景复杂的图像时的准确率。
- 一种图像检测方法装置
- [发明专利]一种元件错件检测方法和装置-CN201610906871.9在审
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李红匣
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广州视源电子科技股份有限公司
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2016-10-18
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2017-03-08
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G06T7/00
- 本发明公开了一种元件错件检测方法，包括输入待检测元件图像，其中，所述待检测元件图像包括所述待检测元件的印刷文字；获取所述待检测元件图像上每一像素点对应的笔画宽度值；根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，并计算所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度；当所述相似度小于预设阈值时，判断所述待检测元件为错件。相应地，本发明还提供一种元件错件检测装置。本发明所提供的元件错件检测方法和装置，能有效避免光照对检测元件文字时的干扰，提高元件错件检测结果的准确率。
- 一种元件检测方法装置
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