专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数据库加密方法和数据库服务器-CN201510347270.4有效
  • 尹晶一;朴相永 - 株式会社特迈数据
  • 2015-06-19 - 2019-06-21 - G06F21/62
  • 根据本发明的实施例,本发明提供数据库加密方法和数据库服务器,所述数据库加密方法用于对存储于存储器中的数据表所包含的数据值进行加密并存储于永久存储介质。所述数据库加密方法包括如下步骤:基于存储于存储器中的数据表所包含的数据值生成加密数据值的步骤;至少部分基于所述数据值和所述数据值的位置信息生成与所述加密数据值匹配的哈希值的步骤;以及决定将所述加密数据值和所述哈希值记录于永久存储介质(persistent storage)的步骤。
  • 数据库加密方法服务器
  • [实用新型]基板厚度测量装置-CN201720227849.1有效
  • 成振宇;朴相永 - EO技术株式会社
  • 2017-03-08 - 2017-10-24 - B23K26/38
  • 本实用新型涉及一种基板厚度测量装置,具体涉及一种以如下内容为特征的基板厚度测量装置包括摄像装置、使发射自基板的测量光束成像的成像光学仪器以及移动所述成像光学仪器和所述基板中至少一个的传送装置;所述成像光学仪器是收集发射自基板第1面的测量光束中基板第1面图像成像于所述摄像装置上,并通过所述传送装置移动所述成像光学仪器和所述基板中至少一个之后,收集发射自基板第2面的测量光束中基板第2面图像成像于所述摄像装置上;依据所述成像光学仪器和所述基板中至少一个的移动距离和所述基板折射率测量所述基板第1面和第2面之间的厚度。
  • 厚度测量装置
  • [发明专利]发光元件及其制造方法-CN201410105968.0在审
  • 金泰根;朴相永 - 英迪股份有限公司
  • 2014-03-20 - 2014-10-01 - H01L33/38
  • 本发明提供一种能够提高发光效率的发光元件及其制造方法。这种发光元件包括p型半导体层、活性层、n型半导体层、p型电极及n型电极。所述活性层形成于所述p型半导体层的上表面。所述n型半导体层形成于所述活性层的上表面。所述p型电极向所述p型半导体层提供空穴。所述n型电极向所述n型半导体层提供电子,其中所述n型电极的底面为中央部凸出的形状。因此,所述n型电极的底面通过中央部凸出的形状,向侧部反射入射到n型电极的底面的光,被反射的光经过再反射,因此能够提高光提取效率。
  • 发光元件及其制造方法
  • [发明专利]分布式系统及其事务处理方法-CN201310349452.6无效
  • 林昍映;朴相永 - 株式会社特博睿
  • 2013-08-12 - 2014-04-16 - H04L29/08
  • 本发明涉及一种分布式系统的分布式事务优化方法及将事物优化的分布式系统,并且涉及在分布式系统中处理事务的方法,该分布式系统包括多个节点且各个节点具有副本。本发明的方法包括如下步骤:一个协调者节点向其副本发送所述事物的提交日志;所述协调者节点从所述副本接收对于所述提交日志的答复;所述协调者节点向所有参与者节点发送用于请求所述事物的提交的提交消息;各个所述参与者节点基于所述提交消息执行所述事物的提交。
  • 分布式系统及其事务处理方法

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