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- [发明专利]一种晶体管老化测试箱-CN202210360619.8在审
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曹佶;赵宝忠;林向前
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-04-07
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2023-10-24
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G01R31/26
- 本发明公开了一种晶体管老化测试箱,包括机架和设置在所述机架上的控制组件、用于调节测试信号的插接面板、电源组件和设置在所述机架外部的测试组件,所述插接面板、所述测试组件和所述电源组件均与所述控制组件电性连接,所述测试组件包括多个支撑台和设置在所述支撑台上的水冷板,所述支撑台包括操作箱和设置在所述操作箱上的第一接口组和调节开关,所述第一接口组与所述控制组件电性连接,所述水冷板设置在所述操作箱的上端,所述水冷板上设置有多个老化板和用于插接晶体管的安装孔,所述老化板与所述第一接口组电性连接,待测晶体管通过所述安装孔分别与所述老化板和所述插接面板信号连接。其很容易给晶体管散热,且节约电能。
- 一种晶体管老化测试
- [发明专利]一种晶体管测试仪-CN202210234988.2在审
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曹佶;梅山赛;李帅韬
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-03-11
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2023-09-19
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G01R31/26
- 本发明公开了一种晶体管测试仪,包括机柜、操作台、烘箱、老化架、驱动架和工控机,操作台设置在机柜的上端上,烘箱、驱动架和工控机均设置在机柜内,烘箱与机柜滑动连接,老化架设置在所述烘箱内,老化架与烘箱滑动连接;老化架包括一个老化板、两个导轨板和多个相互平行的凸型板,两个导轨板分别垂直固定在多个凸型板的两端,老化板与两个导轨板滑动连接,老化板与烘箱电性插接连接;驱动架包括驱动板、总线安装板、底板和两个固定板,两个固定板分别设置在底板的两端,总线安装板固定在两个固定板之间,总线安装板与工控机电性连接,驱动板与两个固定板滑动连接,驱动板与总线安装板电性插接。其体积较小,且操作方便。
- 一种晶体管测试仪
- [发明专利]一种多模式老化测试箱-CN202210155101.0在审
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曹佶;梅山珊;李帅韬
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-02-21
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2023-08-29
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G01R31/26
- 本发明公开了一种多模式老化测试箱,包括箱体及设置在所述箱体内的老化组件、电源、驱动组件、控制组件和多个电风门组件,老化组件与所述驱动组件电性连接,电源固定在所述老化组件的上端;电风门组件包括通风箱和电推杆,风机板设置在所述通风体的进风口上,转动板设置在通风体的出风口上,光轴穿过所述通风体,转动板与光轴转动连接,电推杆包括伸缩杆,伸缩杆与转动板固定连接,风机板上设置有多个第一风机,第一风机与控制组件电性连接,老化组件包括老化架和多个均水平地设置在老化架内壁上的第一老化板,多个电风门组件一一相对地设置在老化架的外壁上。其能减小各老化板之间的热干扰,也能实现多温度模式测试半导体芯片的功能。
- 一种模式老化测试
- [发明专利]一种电容高温测试装置-CN202210091706.8在审
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曹佶;梅山赛;徐晓鹏
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-01-26
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2023-08-04
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G01R31/00
- 本发明公开了一种电容高温测试装置,包括机架、烘箱、驱动组件和控制组件,所述机架包括相互连通的第一框架、第二框架和第三框架,所述控制组件设置在所述第一框架内,所述驱动组件设置在所述第二框架内,所述烘箱设置在所述第三框架内,所述控制组件与所述驱动组件电性连接,烘箱包括腔体、散热组件和设置在腔体内的老化组件,老化组件与所述驱动组件电性连接,散热组件包括风扇、出气管和与外部连通的排气管,所述风扇设置在所述腔体内,风扇与老化组件相对设置,排气管设置在所述腔体上,排气管通过出气管与腔体连通,控制组件包括工控机,工控机分别与驱动组件、风扇电性连接。其能减小电容高温测试装置的体积。
- 一种电容高温测试装置
- [发明专利]一种半导体安全测试柜-CN202210091757.0在审
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曹佶;梅山赛;周泽文
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-01-26
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2023-08-04
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G01R31/28
- 本发明公开了一种半导体安全测试柜,包括柜体及设置在柜体内的控制单元、驱动单元和烘箱,烘箱通过驱动单元与控制单元电性连接;驱动单元包括驱动板架、保险丝架和第一连接板,驱动板架包括驱动板和两个第一侧框,两个第一侧框设置在第一连接板的上端,驱动板与第一侧框滑动连接,驱动板与控制单元电性连接;保险丝架包括两个第二侧框和具有多个保险丝的保险丝板,两个第二侧框设置在第一连接板的上端,保险丝板与第二侧框滑动连接,保险丝板与驱动板一一信号连接;烘箱包括箱体和设置在箱体内的加湿器和多个老化板,老化板通过保险丝板与驱动板一一电性连接,加湿器与控制单元电性连接。其能测试半导体器件的抗湿性,且安全性高。
- 一种半导体安全测试
- [发明专利]一种微波管测试装置-CN202310718269.2在审
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曹佶;林向前;赵宝忠
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浙江杭可仪器有限公司
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2023-06-16
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2023-07-18
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G01R31/00
- 本发明公开了一种微波管测试装置,包括柜体、信号源、多个测试组件和一个具有检波作用的控制组件,控制组件和多个测试组件均设置在柜体内,信号源设置在柜体上,多个测试组件均与一个信号源电性连接,测试组件包括驱动箱和设置在驱动箱一侧的多个温控单元,温控单元包括第一散热筒、第一风机和导热板,导热板安装在第一散热筒的上端,第一风机的出风口与第一散热筒的进风口相对设置;驱动箱包括多个风道、具有功率分配功能的驱动板和靠近导热板的多个微波输出端头,控制组件和信号源分别与多个驱动板电性连接,多个微波输出端头均与一个驱动板电性连接,风道设置在驱动板的下端,第一散热筒与风道一一相通。其能节省体积,且测试效率高。
- 一种微波测试装置
- [发明专利]一种高压测试电容装置-CN202310588793.2在审
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曹佶;朱开开;周泽文
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浙江杭可仪器有限公司
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2023-05-24
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2023-06-23
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G01R31/12
- 本发明公开了一种高压测试电容装置,包括底柜、控制组件、测试组件和驱动组件,测试组件包括老化箱、用于输出高电压的集成电源、老化架和与老化架滑动连接的多个老化盒,驱动组件包括驱动箱、驱动架和与驱动架滑动连接的多个驱动盒,控制组件、老化箱和驱动箱均分别设置在底柜的上端,集成电源设置在底柜内,老化盒包括多个用于安装待测电容的测试件,测试件包括装载有油的绝缘容器和用于施加高压的放电器,放电器插入绝缘容器内,所述驱动盒内设置有驱动板,放电器与集成电源电性连接,驱动板分别与集成电源和控制组件电性连接。其能测试电容的耐高压性能,且安全性高。
- 一种高压测试电容装置
- [发明专利]一种电源自动测试柜-CN202111527131.1在审
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曹佶;于建阁;吴伟男
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浙江杭可仪器有限公司
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2021-12-14
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2023-06-16
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G01R31/40
- 本发明公开了一种电源自动测试柜,包括机柜以及设置在机柜内的可编程直流负载、电源分析仪、数字万用表、电阻控制箱、工控机、电源控制器和可编程电源,可编程直流负载、电阻控制箱、数字万用表和可编程电源均与工控机电性连接,可编程直流负载、电阻控制箱、电源控制器和可编程电源均与电源分析仪电性连接;电源控制器包括电源盒以及设置在电源盒内的电源控制板、继电器和电流传感器,电流传感器通过继电器与所述电源控制板电性连接,可编程电源包括可编程直流电源和可编程交流电源,可编程直流电源和所述可编程交流电源均与电流传感器电性连接,电流传感器与工控机电性连接。其能实现电源的自动化测试,而使测试非常方便。
- 一种电源自动测试
- [发明专利]一种交流转直流电源-CN202111527898.4在审
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曹佶;胡艳伟;徐林峰
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浙江杭可仪器有限公司
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2021-12-14
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2023-06-16
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H02M7/00
- 本发明公开了一种交流转直流电源,包括盒体和设置在所述盒体内的多个电源模组,电源模组包括交流转直流板和设置在交流转直流板上的主控板;交流转直流板包括整流桥、线性稳压电路和buck降压电路,buck降压电路包括N型MOS管Q1、N型MOS管Q2和电感L,线性稳压电路包括P型MOS管Q3,整流桥的输出端与所述MOS管Q1的漏极D1电性连接,MOS管Q1的源极S1和MOS管Q2的漏极D2均与所述电感L的一端电性连接,MOS管Q2的源极S2接地,电感L的另一端与所述MOS管Q3的源极S3电性连接;主控板包括PWM电路和驱动电路,驱动电路分别与所述MOS管Q1的栅极G1和MOS管Q2的栅极G2电性连接。其能降低交流转直流电源的电能损耗。
- 一种流转直流电源
- [发明专利]一种选择性电容测试装置-CN202211661590.3有效
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曹佶;王昀;朱开开
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浙江杭可仪器有限公司
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2022-12-23
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2023-06-02
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G01R31/12
- 本发明公开了一种选择性电容测试装置,包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件,控制组件包括主控机,老化箱包括老化架和设置在老化架上的多个老化板,信号箱包括背板和设置在背板上的选择机构,背板上还设置有第一插槽,第一插槽内设置有第一绝缘板,选择机构与主控机电性连接;第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板,顶层板上设置有多个第一穿孔,中心层板上设置有第二穿孔,底层板上设置有第一开孔,连接座固定在第一开孔内,连接座包括多个第一信号针,第一信号针的一端与老化板信号连接,第一信号针的另一端依次穿过第二穿孔和第一穿孔,选择机构选择性地与第一穿孔电性连接。其可以防止信号针放电烧坏装置。
- 一种选择性电容测试装置
- [发明专利]一种老化测试结构-CN202111316960.5在审
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曹佶;赵锴;张海
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浙江杭可仪器有限公司
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2021-11-09
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2023-05-12
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G01R31/00
- 本发明公开了一种老化测试结构,其包括驱动组件、老化组件和连接单元,所述驱动组件包括驱动板架和与所述驱动板架水平滑动连接的多个驱动板,所述老化组件包括老化板架和与所述老化板架水平滑动连接的多个老化板,所述驱动板通过所述连接单元与所述老化板电性连接;所述连接单元包括转接盒和与所述驱动板垂直连接的转接板,所述转接盒包括耐温绝缘盒和设置在所述耐温绝缘盒内的信号板,所述信号板的一端设置有用于信号连接所述老化板的金手指,所述信号板的另一端设置有用于信号连接所述转接板的第一连接器,所述信号板通过所述第一连接器与所述转接板信号连接。其能很好地防止驱动板被烧坏。
- 一种老化测试结构
- [发明专利]一种LED灯板的测试装置-CN202111047644.2在审
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曹佶;赵宝忠;林向前
-
浙江杭可仪器有限公司
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2021-09-08
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2023-03-10
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G01R31/28
- 本发明公开了一种LED灯板的测试装置,包括控制单元和测试单元,所述控制单元包括控制箱和设置在所述控制箱内的用于产生测试信号的驱动柜,所述测试单元包括烘箱和设置在所述烘箱内的测试组件,所述测试组件与所述驱动柜信号连接;所述测试组件包括多个水冷板、多个信号板和多个用于安装待测LED灯板的安装框,多个水冷板间隔设置在所述烘箱的内侧壁上,所述安装框与所述水冷板滑动连接,所述安装框通过所述信号板与所述驱动柜信号连接,当所述安装框与所述水冷板滑动连接时,所述安装框与所述信号板插接,其能很方便地对LED灯板的耐热性能进行测试。
- 一种led测试装置
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