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- [发明专利]裸晶测试系统及其测试方法-CN202210938726.4在审
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洪嘉宏
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新唐科技股份有限公司
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2022-08-05
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2023-07-11
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G01R31/28
- 本公开提供一种裸晶测试系统及其测试方法。裸晶测试系统包括用以提供测试命令的控制装置与测试装置。测试装置包括具有温度补偿电阻串与校准电阻串的待测裸晶,测试装置依据测试命令进行频率测试操作。频率测试操作包括:在第一温度下,依序调整温度补偿电阻串为多个温度补偿电阻值,并依序调整校准电阻串来对待测裸晶进行输出频率校准,以产生多个校准电阻值;对多个温度补偿电阻值与多个校准电阻值进行插值运算;依序在第二温度与第三温度下依据多个经插值温度补偿电阻值与多个经插值校准电阻值进行输出频率测试以产生多个输出频率。
- 测试系统及其方法
- [发明专利]芯片检测方法及其检测载具-CN202211077473.2在审
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洪健哲
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新唐科技股份有限公司
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2022-09-05
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2023-07-11
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G01R31/28
- 本发明提供了一种芯片检测方法及其检测载具,该芯片检测方法包括下述步骤:首先,提供一检测载具,其中,该检测载具包括一载具本体、多个电检测头以及一检测单元,该载具本体上形成有一凹槽,所述多个电检测头耦接该检测单元,所述多个电检测头位于该凹槽之中,该检测单元设于该载具本体之上。接着,提供一待测芯片,其中,该待测芯片包括一第一表面、一第二表面以及多个电接点,该第一表面相反于该第二表面,所述多个电接点分布于该待测芯片的边缘。再,将该待测芯片置于该凹槽之中,所述多个电检测头分别直接抵接所述多个电接点,检测单元通过所述多个电检测头对该芯片进行检测。
- 芯片检测方法及其
- [发明专利]除错系统、微处理装置及除错方法-CN202211047181.4在审
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马纪哲
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新唐科技股份有限公司
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2022-08-29
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2023-07-11
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G05B19/042
- 本发明提供了一种除错系统、微处理装置及除错方法。除错系统包括一除错器和一目标装置。除错器可用以输出一输出信号。上述输出信号是一第一编码信号或一重置信号,且上述第一编码信号是由一第一数据信号和一第一时钟信号编码后所产生。目标装置包括一串列除错界面电路和一串列除错存取埠。串列除错界面电路耦接上述除错器,以接收上述输出信号。此外,串列除错界面电路可解码上述第一编码信号,以产生上述第一数据信号和上述第一时钟信号。串列除错存取埠耦接串列除错界面电路。串列除错存取埠从串列除错界面电路接收上述数据信号和上述时钟信号,以进行目标装置的除错。
- 除错系统处理装置方法
- [发明专利]控制装置及其操作方法-CN202210497327.9在审
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李柏谊;田志新
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新唐科技股份有限公司
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2022-05-09
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2023-07-11
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G05B19/042
- 本申请提供一种控制装置及其操作方法,所述控制装置包括检测单元、控制单元、存储单元、时钟源单元与多个信号传输单元。检测单元检测电压信号,以产生检测信号。控制单元耦检测单元,接收检测信号,并依据检测信号,产生指示旗标、电压信息、第一控制信号与多个第二控制信号至少其一。存储单元耦接控制单元,接收并存储指示旗标与电压信息。时钟源单元耦接控制单元,接收第一控制信号,并依据第一控制信号,产生第一时钟信号或第二时钟信号。多个信号传输单元耦接控制单元,接收第二控制信号,并依据第二控制信号,传输或不传输多个功能信号。
- 控制装置及其操作方法
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