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[实用新型]一种拆装治具-CN202320586543.0有效
发明人：陈树钊;康茂;黄仁发;陈伟明;彭宇杰;单忠频 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2023-03-22 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B25B27/14 文献下载
摘要：本实用新型涉及分料头装配领域，并公开了一种拆装治具，其包括呈柱体状的治具主体、两个设置在治具主体上表面的凸起、以及开设在治具主体上表面中心处的定位槽，两个所述凸起的轴线与治具主体的轴线形成共面，所述定位槽位于两个凸起之间，每个凸起的侧壁上形成一个抽拉切口。治具主体上的两个凸起插入的施力槽中，拧动治具主体就能带动旋盖松开或锁紧，当要取下旋盖和玻璃管时，使两个凸起的抽拉切口被旋盖的盖板部卡入，最后工作人员往远离分料头的方向拉动治具主体，使得两个凸起的头部能够向外推动旋盖脱离安装板，继而将分类头中的玻璃管连同旋盖脱离分料头。
一种拆装

[发明专利]一种分料头的玻璃管拆装结构-CN202310284401.3有效
发明人：单忠频;陈树钊;陈志敏;康茂;林荣冲;黄昌浩 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2023-03-22 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本发明涉及LED分光机技术领域，并公开了一种分料头的玻璃管拆装结构，其包括安装板、落料传感器、固定块、旋盖、以及玻璃管，所述固定块用于将落料传感器固定在安装板上，所述安装板上设有用于对旋盖提供转动阻力的弹性锁定机构，所述旋盖的底面开设有一个与玻璃管连通的出料孔和两个以上环绕出料孔设置的施力槽；本发明提供的分料头的玻璃管拆装结构创新性在落料传感器的下方设置安装板和旋盖，通过旋盖直接对玻璃管进行承托支撑，玻璃管通过安装板上与旋盖配合的拆装口进入或离开分料头，只需拆除旋盖就能连同拆卸玻璃管，无需对整个分料头进行拆解，操作简便，大大缩短了维护清理的时间。
一种分料头玻璃管拆装结构

[实用新型]一种半导体元器件供料输送线-CN202222482240.2有效
发明人：陈伟明;陈树钊;康茂;单忠频;黄仁发;黄昌浩;薛克瑞;温炜杰 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本实用新型属于半导体元件输送技术领域，具体涉及一种半导体元器件供料输送线，半导体元器件供料输送线通过设置元器件分发机构和多轨道供料机构，元器件分发机构可以分别与多个元器件输送轨道对接实现向每个送料工位输送半导体元件，便于多个半导体元件同时供料进行产品检测，产品检测效率高。
一种半导体元器件供料输送

[实用新型]一种半导体元器件分类收集机构-CN202222482236.6有效
发明人：陈树钊;康茂;陈伟明;单忠频;黄仁发;黄昌浩;薛克瑞;温炜杰 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体元器件分类收集机构，包括底架、设置在底架上且沿横向延伸的送料轨道、设置在送料轨道前方的吹气机构、设置在送料轨道后方且能够与送料轨道对接的移动料管组件，所述移动料管组件包括竖架、可滑动地设置在竖架上的分类滑架、以及用于驱动分类滑架上下移动的升降机构。通过自动控制升降机构调整分类滑架的高度，使和元器件性能级别相对应的等级层升降至与送料轨道的衔接处，等待等级层中的料管接收元器件；然后通过吹气机构推动元器件沿送料轨道和限位盖板所形成的导引轨迹移动，使元器件自动收集至对应的料管中。
一种半导体元器件分类收集机构

[实用新型]一种半导体元器件下料机构-CN202222482239.X有效
发明人：康茂;单忠频;陈树钊;陈伟明;陈志敏;丁鑫锐;郭琼生;周圣军;缪来虎 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体检测技术领域，并提供一种半导体元器件下料机构；其包括底架、设置在底架上的接料轨道、下料轨道、托板组件、储管组件以及送管机构；下料轨道与接料轨道衔接并位于接料轨道的下游，接料轨道上设有朝向下料轨道延伸方向的吹气头；下料轨道上设有多个沿下料轨道长度方向排布的推料气槽，通过吹气头自动将接料轨道上的半导体元件吹进下料轨道中，然后下料轨道上的推料气槽产生推料气流，推料气流推动半导体元件进入料管中，结构巧妙，自动化程度高。另外，通过挡料机构、侧推机构以及送管机构的相互配合，实现自动更换满料的料管的功能。
一种半导体元器件机构

[实用新型]一种半导体元器件上料装置-CN202222483319.7有效
发明人：单忠频;康茂;陈树钊;陈志敏;郭琼生;周圣军;丁鑫锐;黄昌浩 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： B65G47/82 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体性能检测设备领域，并提供了一种半导体元器件上料装置，导体元件上料装置包括机架、托管平台、料管移送机构、进料轨道、翻摆平台、压管组件、以及推管机构；能够自动对多根料管进行逐一上料，通过料管移送机构自动对翻摆平台和托管平台逐一传送料管，然后利用压管组件将料管压紧在翻摆平台后，翻摆驱动机构驱动翻摆平台和料管摆动倾斜，使料管的头端与进料轨道形成对接，料管中的半导体元件在重力作用下自动滑出料管，最后在进料轨道的导引下进入高压测试装置中。
一种半导体元器件装置

[发明专利]一种半导体元器件测试工艺及测试机构-CN202211135969.0在审
发明人：康茂;单忠频;陈伟明;陈树钊;黄仁发;黄昌浩;缪来虎;薛克瑞;彭宇杰;郭琼生 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体元器件测试工艺及测试机构，包括第一转盘运料机构和第二转盘运料机构；第一转盘运料机构包括主转盘、设置在主转盘上方的升降盘、用于驱动主转盘分度转动且驱动升降盘升降的第一驱动装置；所述第二转盘运料机构包括设置在主转盘一旁的副盘和用于驱动副盘分度转动的第二驱动装置，所述副盘的其中一个分度区设置有性能测试站。本发明提供的半导体元器件测试机构只将一个性能测试站设置在副盘上，利用副盘静止时间长的优点，只需对半导体元件进行一次装夹，就能一次性完成所有测试项目，无需对测试项目进行分拆，不仅设置测试仪的数量可以减少一半，大大降低设备成本；还可避免因多次装夹半导体元件的引脚造成良品率降低的问题。
一种半导体元器件测试工艺机构

[发明专利]一种半导体元器件高低压测试分选机-CN202211135289.9有效
发明人：单忠频;陈伟明;康茂;缪来虎;周圣军;丁鑫锐;陈树钊;薛克瑞;郭琼生;黄仁发 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-13 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及元器件性能测试技术领域，并公开了一种半导体元器件高低压测试分选机，其包括上料机构、高压测试机构、分拣机构、高压不合格回收机构、供料机构、主转盘运料机构、副盘运料机构、低压测试站、打标装置、分类收集机构以及下料机构，一站式自动完成半导体元件的输送、高压测试且分类、低压测试且分类下料、以及镭射打标，提高了测试产能。另外，通过将一个低压测试站设置在副盘运料机构上，利用副盘运料机构静止时间长的优点，半导体元件进行一次装夹的情况下，就能一次性完成所有低压测试项目，不仅减少低压测试仪的设置数量；还可避免因多次装夹半导体元件的引脚造成良品率降低的问题。
一种半导体元器件低压测试分选

[发明专利]一种半导体元器件高压测试分选输送线-CN202211135954.4在审
发明人：陈树钊;单忠频;陈伟明;陈志敏;康茂;薛克瑞;缪来虎;黄昌浩;彭宇杰;温炜杰 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明的半导体元器件高压测试分选输送线，接料机构在水平位置时接收装载有若干半导体元件的料管后，通过翻摆驱动机构驱动与自动落料机构对接，使多个半导体元件沿倾斜布置落料通道自动滑落至元器件高压测试机构内，实现多个半导体元件进行高压测试，元器件测试效率高，而且元器件分拣机构对各组别的半导体元件完成分拣后，以轨道输送的方式输出半导体元件，较好避免半导体元件输出时发生位置偏移，使用效果好。
一种半导体元器件高压测试分选输送

[发明专利]一种转盘运料装置-CN202211136278.2在审
发明人：陈伟明;康茂;陈树钊;单忠频;薛克瑞;周圣军;丁鑫锐;郭琼生;缪来虎;陈志敏 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： B65G47/91 文献下载
摘要：本发明涉及半导体检测技术领域，并公开了一种转盘运料装置，包括工作台、凸轮分割器、驱动机构，所述凸轮分割器的升降轴的顶端固接有升降盘，所述凸轮分割器的转轴上套接有转盘，本发明提供的转盘运料装置巧妙地将转盘和升降盘分开设置，转盘和升降盘在凸轮分割器控制下周期性运转，转盘带动抓取机构分度转动实现工件搬运，则升降盘带动压杆组件下降，从而驱动转盘上的抓取机构和半导体元件下降；控制系统可以根据工件的检测结果，控制拉杆限位机构对压杆组件进行下降限制，从而使升降盘下降时压杆组件保持静止，抓取机构中的第一吸取组件或第二吸取组件上的半导体元件可以保持原有高度，不会下降。
一种转盘装置

[实用新型]一种半导体元件自动上料测试装置-CN202121434223.0有效
发明人：单忠频;陈树钊;周圣军;缪来虎;薛克瑞;胡红坡;康茂 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： B65G47/90 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体元件自动上料测试装置，第一推车、第二推车、工作台、设置在工作台上的元件搬运机构、料盘y轴传送机构以及若干个测试治具，所述料盘y轴传送机构具有料盘进给工位、取料工位以及料盘回收工位，所述取料工位的下方设置有取料顶升机构，所述料盘进给工位的下方设有第一料盘z轴升降机构，所述料盘回收工位的下方设有第二料盘z轴升降机构，第一料盘z轴升降机构与第一料盘x轴传送机构衔接，第二料盘z轴升降机构与第二料盘x轴传送机构衔接。本实用新型提供的半导体元件自动上料测试装置，自动化地完成料盘卸下转移以及空料盘码垛回收工序，消除人工搬运半导体元件带来的问题，提高生产效率。
一种半导体元件自动测试装置

[发明专利]半导体元件平移式测试打码编带一体机-CN202110714277.0有效
发明人：单忠频;薛克瑞;周圣军;缪来虎;胡红坡;陈树钊;康茂 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体元件平移式测试打码编带一体机，包括工作台、依次从左往右设置在工作台上的上料过渡测试治具、长时间测试区、下料过渡测试治具，所述长时间测试区上以矩形阵列的排布方式设置有多个长时间测试治具；所述上料过渡测试治具与长时间测试治具通过上料开夹机械手衔接，下料过渡测试治具通过下料开夹机械手衔接，渡测试治具的上游设置有元件搬运装置，下料过渡测试治具的下游依次设有打标装置以及编带包装装置。本发明提供的半导体元件平移式测试打码编带一体机全自动化地完成半导体元件的上料装配、质量检测、打标以及编带包装，实现了半导体器件的一站式生产后处理，大幅度提高了检测和包装的效率和智能化。
半导体元件平移测试打码编带一体机

[实用新型]半导体元件长时间测试装置-CN202121434121.9有效
发明人：单忠频;康茂;周圣军;缪来虎;薛克瑞;胡红坡;陈树钊 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体元件长时间测试装置，包括工作台、设置在工作台上的x轴滑移机构、设置在x轴滑移机构上的上料机构和下料机构；所述上料机构包括第一机架、设置在第一机架上的y轴滑移机构、设置在y轴滑移机构上的第二机架、设置在第二机架上的开夹组件和z轴滑移机构、设置在z轴滑移机构上的吸取机构；所述工作台上以矩形阵列的排布方式设置有多个测试治具。半导体元件长时间测试装置通过上料机构和下料机构自动化地完成半导体元件的自动装配测试和测后转移；元件夹紧器具有自动夹件功能，通过开夹组件自动控制元件夹紧器在张开装件状态和锁定夹件状态的切换，以便配合半导体元件的安装或卸载。
半导体元件长时间测试装置

[发明专利]一种半导体元件长时间测试装置及其测试方法-CN202110713195.4在审
发明人：单忠频;康茂;周圣军;缪来虎;薛克瑞;胡红坡;陈树钊 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体元件长时间测试装置及其测试方法，包括工作台、设置在工作台上的x轴滑移机构、设置在x轴滑移机构上的上料机构和下料机构；所述上料机构包括第一机架、设置在第一机架上的y轴滑移机构、设置在y轴滑移机构上的第二机架、设置在第二机架上的开夹组件和z轴滑移机构、设置在z轴滑移机构上的吸取机构；所述工作台上以矩形阵列的排布方式设置有多个测试治具。半导体元件长时间测试装置通过上料机构和下料机构自动化地完成半导体元件的自动装配测试和测后转移；元件夹紧器具有自动夹件功能，通过开夹组件自动控制元件夹紧器在张开装件状态和锁定夹件状态的切换，以便配合半导体元件的安装或卸载。
一种半导体元件长时间测试装置及其方法

[发明专利]一种半导体元件自动上料测试装置-CN202110713201.6在审
发明人：单忠频;陈树钊;周圣军;缪来虎;薛克瑞;胡红坡;康茂 -专利权人：广东歌得智能装备有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： B65G47/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体元件自动上料测试装置，第一推车、第二推车、工作台、设置在工作台上的元件搬运机构、料盘y轴传送机构以及若干个测试治具，所述料盘y轴传送机构具有料盘进给工位、取料工位以及料盘回收工位，所述取料工位的下方设置有取料顶升机构，所述料盘进给工位的下方设有第一料盘z轴升降机构，所述料盘回收工位的下方设有第二料盘z轴升降机构，第一料盘z轴升降机构与第一料盘x轴传送机构衔接，第二料盘z轴升降机构与第二料盘x轴传送机构衔接。本发明提供的半导体元件自动上料测试装置，自动化地完成料盘卸下转移以及空料盘码垛回收工序，消除人工搬运半导体元件带来的问题，提高生产效率。
一种半导体元件自动测试装置

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