专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]单粒子翻转数据的实时分类标记方法及系统、设备-CN202011465432.1有效
  • 邓玉良;苏通;殷中云;唐越;杨彬;李昂阳;庄伟坚 - 深圳市国微电子有限公司
  • 2020-12-14 - 2023-10-10 - G06F5/06
  • 本发明提供了一种单粒子翻转数据的实时分类标记方法及系统、设备及存储介质,采用一级FIFO和二级FIFO,所述方法包括:判断芯片地址范围和一级FIFO的空满状态,对芯片对应地址的数据进行读取,将数据生成待标记的包文并依次存入所述一级FIFO;判断一级FIFO、二级FIFO的空满状态,将待标记的包文从一级FIFO搬移至二级FIFO;在搬移待标记的包文的过程中,若一级FIFO与二级FIFO的当前地址数据非同时正确或错误时,将二级FIFO中缓存的待标记的包文集中输出并完成类型标记。该方法可以实现试验数据的分类标记和统计,并完成对器件敏感电路模块的分析和重复试验确认,而无需试验后对全片的大量数据逐地址分析、统计,从而节省试验时间、提升单次试验的有效数据产出。
  • 粒子翻转数据实时分类标记方法系统设备
  • [发明专利]TSV测试方法及系统、设备及存储介质-CN202110404464.9有效
  • 朱晓锐;殷中云;邓玉良;郑伟坤;庄伟坚;李昂阳 - 深圳市国微电子有限公司
  • 2021-04-15 - 2022-11-11 - H01L21/66
  • 本发明提供了一种TSV测试方法及系统、设备及存储介质,包括:将i初始化为0,判断i是否大于或等于M,若否,则选择N层堆叠芯片中的一组TSV链并赋值为i+1,并对TSV链进行测试;检测1~N层的TSV链是否存在故障,若存在,则检测第P层到第P+1层的TSV链;若第P层到第P+1层的TSV链存在故障,则记录TSV链存在故障的位置,将TSV链存在故障的位置发送至控制器并进行记录,直至1~N层中每一层间均检测完成;当1~N层中每一层间均检测完成后,重复判断i是否大于或等于M,若是,则通过控制器修复所述存在故障的TSV。该方法可以定位到出现故障的TSV上,只对TSV链上出现故障的TSV进行修复,无故障的TSV则不需要修复,且可使用冗余的TSV替换有故障的TSV,不会占用冗余TSV的资源。
  • tsv测试方法系统设备存储介质

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