专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于突出特征点的图像对准-CN202280016904.6在审
  • 巫朝红;俞颂阳;P·M·桑卡 - 科磊股份有限公司
  • 2022-04-01 - 2023-10-13 - G06T7/33
  • 提供用于图像对准的方法及系统。一种方法包含通过将选定突出特征点检测方法应用到针对样品产生的至少一参考图像来选择三个或更多个突出特征点用于测试图像与参考图像对准。所述方法还包含检测测试图像及所述参考图像中的所述三个或更多个突出特征点及将所述测试图像中的所述经检测三个或更多个突出特征点对准到所述参考图像中的所述经检测三个或更多个突出特征点。所述方法进一步包含基于先前对准步骤的结果将所述测试图像的剩余部分对准到所述参考图像的剩余部分。
  • 基于突出特征图像对准
  • [发明专利]用于有效检测的低SNR扁平残留物/污点缺陷的频域增强-CN202080069657.7在审
  • 巫朝红;永·张 - 科磊股份有限公司
  • 2020-10-01 - 2022-05-13 - G06T7/00
  • 本发明公开一种检验系统。所述系统包含可与检验子系统通信地耦合的控制器,所述检验子系统经配置以接收来自样本的照射且产生图像数据。所述控制器包含一或多个处理器,其经配置以执行程序指令从而致使所述一或多个处理器:接收所述图像数据,其中所述图像数据包括至少一个图像;使用双三次内插或双线性内插对所述至少一个图像进行降低采样;使用傅里叶变换将所述至少一个图像从空间域变换到频域;从所述至少一个图像对高于阈值频率的频率进行滤波;使用逆傅里叶变换将所述至少一个图像从所述频域变换到所述空间域;及检测所述至少一个图像中的一或多个扁平图案缺陷。
  • 用于有效检测snr扁平残留物污点缺陷增强

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