专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种数字化无线电收发器信号处理器-CN202321263762.1有效
  • 王琪琪;左文霞;罗招银;顾艳明 - 深圳市瑞迅通信息技术有限公司
  • 2023-05-24 - 2023-09-05 - H04B1/38
  • 本实用新型提供一种数字化无线电收发器信号处理器,涉及无线电设备技术领域,包括处理器主体和接线端口,处理器主体顶面截面为圆形,处理器主体表面圆周开设有接线端口,处理器主体顶面设有安装连接螺槽,安装连接螺槽底面中心位置设有显示圆台,处理器主体底面设有螺纹支撑座,螺纹支撑座外壁和安装连接螺槽内壁均设有螺纹,处理器主体顶面边缘处设有硅胶防护环,硅胶防护环表面开设有接口定位槽,圆形结构的处理器主体表面设置多个方向的接线端口进行信号连接,使相邻线路之间不会发生交叉,硅胶防护环对不使用时的接线端口进行防尘处理,并通过硅胶防护环对整个处理器主体进行外部防护,结构简单,有效防止处理器表面损伤,防尘效果好。
  • 一种数字化无线电收发信号处理器
  • [发明专利]阵列基板及其制造方法和显示装置-CN202010192614.X在审
  • 左文霞;李方泽 - 上海和辉光电有限公司
  • 2020-03-18 - 2021-09-24 - H01L27/12
  • 本申请提供一种阵列基板及其制造方法和显示装置,其中,阵列基板包括:显示区域以及围绕于显示区域的非显示区域;非显示区域设置有多条数据走线和多条扫描走线,多条扫描走线与多条数据走线相互绝缘,且具有至少一个交叠区域;其中,与扫描走线交叠设置的数据走线包括第一线段和第二线段,第二线段位于数据走线与扫描走线的交叠区域,第二线段的一端通过第一跳线结构与显示区域的数据线电性连接,第二线段的另一端通过第二跳线结构与第一线段的其中一端电性连接,第一线段的另一端与数据驱动电路连接。在本申请提供的阵列基板及其制造方法和显示装置中,通过在数据走线与扫描走线的交叠区域采用转接孔跳线设计,实现ESD的有效防护。
  • 阵列及其制造方法显示装置
  • [发明专利]薄膜晶体管电气特性测量方法-CN201410010137.5有效
  • 彭军;李原欣;董杭;左文霞 - 上海和辉光电有限公司
  • 2014-01-09 - 2018-07-31 - G09G3/00
  • 公开了一种薄膜晶体管电气特性测量方法,包括:用激光对显示器面板中邻近待测像素中的薄膜晶体管源极的数据线和邻近待测像素中薄膜晶体管栅极的栅线进行切割;用第一测试元件组探针和第二测试元件组探针分别扎入所述数据线和所述栅线的切开截面,并用第三测试元件组探针扎入所述待测像素中薄膜晶体管的漏极;通过向所述第一测试元件组探针、所述第二测试元件组探针或所述第三测试元件组探针施加所需电压,来测量所述薄膜晶体管的电气特性。采用本申请提供的测量方法,能够准确呈现面板中像素内TFT的电气特性,而且,能够准确定位薄膜晶体管本身的异常。
  • 薄膜晶体管电气特性测量方法
  • [发明专利]显示器面板TEG测试组件及其形成方法和测试方法-CN201410052301.9有效
  • 左文霞;董杭;高志豪;严进嵘 - 上海和辉光电有限公司
  • 2014-02-14 - 2018-04-10 - G02F1/13
  • 一种显示器面板TEG测试组件,包括多个测试焊盘,依次设置在显示器面板上;以及多条金属引线,被设置为相互电性隔离且与多个测试焊盘一一对应,使得从每个测试焊盘引出一条金属引线,其中从第一测试焊盘引出的第一条金属引线与从第三测试焊盘引出的第三条金属连接以形成第一测试键,从第二测试焊盘引出的第一条金属引线与从第五测试焊盘引出的第五条金属连接以形成第二测试键,而从第三测试焊盘引出的第三条金属引线与从第六测试焊盘引出的第六条金属连接以形成第三测试键,以及第一测试键与第二测试键交叉,且第二测试键与第三测试键交叉。本发明减少了测试焊盘和金属引线在面板上的占用面积,提高了玻璃利用率,增加了测试键的监控项目。
  • 显示器面板teg测试组件及其形成方法
  • [发明专利]制造IGZO层和TFT的方法-CN201310281940.8有效
  • 黄家琦;许民庆;蔡学明;左文霞 - 上海和辉光电有限公司
  • 2013-07-05 - 2017-05-03 - H01L21/336
  • 本发明提供一种制造IGZO层和TFT的方法,包括(1)沉积IGZO层,并在所述IGZO层上形成表面氧保护层;(2)对IGZO层进行光致抗蚀剂涂布,并对所述光致抗蚀剂进行曝光和显影处理,以形成光致抗蚀剂图案;以及(3)对IGZO层进行蚀刻,之后进行去光致抗蚀剂处理。本发明的制造IGZO层和TFT的方法通过形成氧保护层,有效地阻挡H原子对IGZO层的影响,避免H原子将IGZO层由半导体转变为导体,从而提高IGZO层和TFT的稳定性,降低由于器件长时间连续使用而产生的阈值电压负向偏压。
  • 制造igzotft方法
  • [实用新型]热退火设备-CN201420744922.9有效
  • 柯其勇;商金栋;左文霞 - 上海和辉光电有限公司
  • 2014-12-02 - 2015-04-01 - H01L21/324
  • 本实用新型涉及一种热退火设备,用于对非晶硅薄膜进行热退火处理,包括依序分隔形成的预热室、退火室、以及冷却室,所述退火室内包括温度依序降低的多个工作腔,所述预热室的温度低于多个所述工作腔中与所述预热室相邻的工作腔的温度,所述冷却室的温度低于多个所述工作腔中与所述冷却室相邻的工作腔的温度。采用在退火室前设置预热室,在热退火过程中,使得玻璃基板的温度逐渐上升到最高温度,且在退火室内设置温度依序降低的工作腔,实现玻璃基板的温度逐渐下降,避免玻璃基板进入制程就急速升温到最高制程温度,可降低气泡、膜裂等不良现象的产生。采用温度逐渐下降,可以有效降低玻璃基板和膜层的收缩、变形引起的问题。
  • 退火设备
  • [发明专利]AMOLED结构及其制作方法-CN201410321194.5在审
  • 左文霞;高印;柯其勇 - 上海和辉光电有限公司
  • 2014-07-07 - 2014-10-08 - H01L51/52
  • 本发明提供一种用于改善OLED膜层断裂问题的AMOLED结构及其制作方法。本发明一种AMOLED结构,包括TFT电路层、设于所述TFT电路层之上的像素层、设于所述像素层之上的OLED层;所述像素层包括第一像素层、以及第二像素层;所述第一像素层设于所述TFT电路层之上,并于两侧形成有第一斜坡面;所述第二像素层设于所述第一像素层之上,并于两侧形成有第二斜坡面;所述OLED层包覆于所述TFT电路层、所述第一像素层以及所述第二像素层。采用上述结构可有效解决OLED层膜层断裂的问题。
  • amoled结构及其制作方法
  • [发明专利]AMOLED的像素测试电路-CN201410261107.1有效
  • 董杭;孙鲁男;左文霞;柯其勇 - 上海和辉光电有限公司
  • 2014-06-12 - 2014-09-10 - G09G3/32
  • 本发明提供一种AMOLED的像素测试电路,其包括像素驱动模块和与非逻辑电路模块;在上述像素驱动电路连接有电源端、数据信号端、当前扫描信号端、前排扫描信号端、预设电压端、发光控制信号输入端以及输出端;上述与非逻辑电路模块以上述像素驱动模块的发光控制信号输入端的信号和当前扫描信号输入端的信号作为输入信号,上述与非逻辑电路模块的输出端连接到上述像素驱动模块的前排扫描信号输入端。根据本发明的AMOLED的像素测试电路,在利用TEG量测机台进行量测时,不需要量测前排扫描信号输入端的信号,因此减少了量测时所需要的独立探针数。
  • amoled像素测试电路
  • [发明专利]一种鉴定白酒重要风味物质的方法-CN201210559147.5无效
  • 吴建峰;左文霞;孙莹;徐岩;杨艳 - 江苏今世缘酒业股份有限公司
  • 2012-12-21 - 2013-04-03 - G01N30/02
  • 本发明公开了一种鉴定白酒重要风味物质的方法,先用去离子水将待测酒样稀释到最终酒精含量12-14%vol,然后用顶空固相微萃取富集样品中风味化合物,再运用全二维气相色谱-飞行时间质谱联用测定,同步结合嗅觉检测器进行嗅觉闻香鉴定对白酒重要风味物质进行定性分析,然后通过标准曲线内标法对已确认的白酒重要风味物质进行定量分析。本发明建立了一套快速全面剖析白酒的风味化合物中的关键香气、特征香气与重要香气化合物的方法,建立了白酒风味化合物的定性定量方法与感觉结合的技术体系,以及评价体系,进一步提供了剖析了白酒的微量成分的神秘面纱一个有效工具。
  • 一种鉴定白酒重要风味物质方法

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