专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]对基板进行成膜的装置和对基板进行成膜的方法-CN202211005532.5在审
  • 高木俊夫;川口拓哉;堀田隼史;山崎英亮;山内孝哉 - 东京毅力科创株式会社
  • 2022-08-22 - 2023-03-03 - C23C16/455
  • 本发明提供一种对基板进行成膜的装置和对基板进行成膜的方法。配置到用于在真空气氛下向基板的表面供给反应气体而进行成膜处理的处理容器内的升降轴以从下表面支承着基板的载置台的状态以在上下方向上延伸的方式设置,穿过在处理容器设置的贯通口而与外部的升降机构连接起来。壳体覆盖升降轴的周围,盖构件以隔着间隙包围升降轴的方式配置。设置有以如下方式进行引导的引导构件:从吹扫气体供给部供给到壳体的吹扫气体在经由间隙向处理容器流入了之后,从朝向载置台的背面的方向逸散而流动。由此,吹扫气体从载置台逸散而流动,因此,载置台的温度在面内一致,改善成膜处理的面内均匀性。
  • 进行装置方法
  • [发明专利]金属膜的形成方法和成膜装置-CN201910505326.2有效
  • 若林哲;中込素子;山崎英亮 - 东京毅力科创株式会社
  • 2019-06-12 - 2022-08-23 - C23C16/50
  • 本发明提供一种金属膜的形成方法和成膜装置,能够对基板上形成的金属膜的膜厚的面内分布进行控制。本公开的一个方式的金属膜的形成方法包括以下工序:向用于收容基板的处理容器内供给含有金属原料气体和等离子体激励气体的第一气体以及含有还原气体和等离子体激励气体的第二气体,并通过等离子体CVD法来在所述基板上形成第一金属膜;以及在形成所述第一金属膜的工序之后,向所述处理容器内供给含有所述金属原料气体和所述等离子体激励气体的第三气体以及含有所述还原气体和所述等离子体激励气体的第四气体,并通过等离子体CVD法来在所述第一金属膜上形成第二金属膜。
  • 金属膜形成方法装置
  • [发明专利]成膜装置和其使用的气体排出部件-CN201710686260.2有效
  • 冈部真也;望月隆;山崎英亮;平松永泰;传宝一树 - 东京毅力科创株式会社
  • 2017-08-11 - 2019-11-29 - C23C16/455
  • 本发明提供一种在通过等离子体CVD成膜时,调整基板外周部的膜厚能够获得所期望的膜厚面内均匀性的技术。成膜装置(100)包括:用于收纳晶片(W)的处理容器(1);在处理容器(1)内载置晶片的基座(2);与载置在基座(2)的晶片W相对配置,将处理气体向基座(2)上的晶片(W)排出的喷淋头(10);在喷淋头(10)和基座(2)之间生成等离子体并激发处理气体的高频电源(41),利用由等离子体激发的处理气体在晶片(W)上形成规定的膜。喷淋头(10)具有与基座(2)相对的气体排出面(17),在气体排出面(17)形成有多个气体排出孔(15),气体排出面(17)中的形成有多个气体排出孔(15)的气体排出孔形成区域(18)比气体排出面(17)的与晶片(W)对应的区域小。
  • 装置使用气体排出部件
  • [发明专利]成膜方法和成膜装置-CN201110303097.X有效
  • 布重裕;山崎英亮 - 东京毅力科创株式会社
  • 2011-09-29 - 2012-05-02 - C23C16/452
  • 本发明提供一种成膜方法和成膜装置。其通过在反应速率控制区域引起成膜反应,即使是径深比大的接触孔也能够更薄地形成覆盖率良好的钛膜,降低接触孔的电阻。该成膜装置包括:基座(112),用于载置基板(W);簇射头(120),用于将处理气体供给到处理室(111)内;高频电源(143),用于以规定的功率将用于生成等离子体的高频电供给于簇射头;排气装置(152),用于对处理室内进行排气而使处理室内减压到规定的压力;控制部(190),其通过对还原气体的流量、处理室内的压力、高频电的功率中的任意一种条件进行改变,对上述反应速率控制区域进行控制,使得欲应用于钛膜的成膜处理中的成膜气体的流量进入成膜处理的反应速率控制区域。
  • 方法装置
  • [发明专利]成膜方法以及等离子体成膜装置-CN201010174521.0无效
  • 山崎英亮;小堆正人;布重裕 - 东京毅力科创株式会社
  • 2010-05-10 - 2010-11-10 - C23C16/513
  • 本发明提供成膜方法以及等离子体成膜装置。利用该成膜方法,即使形成在被处理体的表面的凹部的内径、宽度小,也能够提高薄膜成膜时的阶梯覆盖。在向可被抽真空的处理容器(22)内收容具有凹部(6)的绝缘层(4)被形成在表面的被处理体(W),并且向处理容器内供给包含钛的原料气体和还原气体,利用等离子体CVD法使气体反应而在被处理体上形成包含钛的薄膜的成膜方法中,以使反应为原料气体的反应决速的反应状态的方式设定原料气体和还原气体各自的流量。由此,即使形成在被处理体表面的凹部的内径和宽度变小、或者凹部的纵宽比变大,也能够提高薄膜成膜时的阶梯覆盖。
  • 方法以及等离子体装置
  • [发明专利]TaSiN膜的成膜方法-CN200780022995.X无效
  • 中村和仁;山崎英亮;河野有美子 - 东京毅力科创株式会社
  • 2007-06-21 - 2009-07-01 - H01L21/285
  • 在将基板配置在处理容器内,向上述处理容器导入具有Ta=N键的有机Ta化合物气体、含Si气体和含N气体,通过CVD形成TaSiN膜时,通过控制处理容器内含Si气体的分压、处理容器内的总压、成膜温度和含N气体分压中的至少一个,控制膜中Si的浓度。特别是使用SiH4气体作为含Si气体时,在规定的工艺条件下,利用所希望的膜中Si浓度能够表现为SiH4气体分压对数的一次函数,决定SiH4气体的分压。
  • tasin方法

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