专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]非易失性存储器的数据刷新-CN200980150591.8有效
  • 尼玛·穆赫莱斯 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2009-09-30 - 2011-11-16 - G11C16/34
  • 公开了用于刷新非易失性存储器设备中的数据的技术,该刷新足够频繁,足以克服错误的或遭破坏的数据比特,但不会太频繁而干扰存储器存取或导致存储器单元负担过重。一个实施例包括:基于设备中第一组非易失性存储器元件中的数据的条件,确定执行对该第一组非易失性存储器元件中所存储数据的刷新;根据相对于最近一次对所述第一组非易失性存储器元件进行了编程的时间于何时对该设备中的第二组非易失性存储器元件进行了最近一次编程,确定应当对该第二组非易失性存储器元件进行刷新程序;以及对所述第二组非易失性存储器元件执行所述刷新程序。
  • 非易失性存储器数据刷新
  • [发明专利]非易失性存储的可变编程-CN201010276484.4有效
  • 尼玛·穆赫莱斯 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2008-02-13 - 2011-04-06 - G11C16/02
  • 在擦除多个非易失性存储元件之后,执行软编程过程以使所述非易失性存储元件的擦除阈值分布紧密。在所述软编程过程期间,系统识别第一组的所述非易失性存储元件完成所述软编程所需的编程脉冲的数目及除最后一组之外的所有组的非易失性存储元件完成软编程所需的编程脉冲的数目。所述两个数目用于表征所述非易失性存储元件的所述阈值分布。所述阈值分布的此表征及所述编程脉冲的步长大小用来限制随后编程期间所使用的检验脉冲的数目。
  • 非易失性存储可变编程
  • [发明专利]基于阈值电压分布的动态检验-CN200880005137.9有效
  • 尼玛·穆赫莱斯 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2008-02-13 - 2010-03-31 - G11C11/56
  • 在擦除多个非易失性存储元件之后,执行软编程过程以使所述非易失性存储元件的擦除阈值分布紧密。在所述软编程过程期间,系统识别第一组的所述非易失性存储元件完成所述软编程所需的编程脉冲的数目及除最后一组之外的所有组的非易失性存储元件完成软编程所需的编程脉冲的数目。所述两个数目用于表征所述非易失性存储元件的所述阈值分布。所述阈值分布的此表征及所述编程脉冲的步长大小用来限制随后编程期间所使用的检验脉冲的数目。
  • 基于阈值电压分布动态检验
  • [发明专利]对浮动栅极耦合具有补偿的非易失性存储装置的读取操作-CN200780007206.5有效
  • 尼玛·穆赫莱斯 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2007-02-27 - 2009-03-25 - G11C16/26
  • 由于基于相邻浮动栅极(或其它相邻电荷存储元件)中所存储的电荷的电场耦合,可能发生非易失性存储器单元的浮动栅极(或其它电荷存储元件)上所存储的表观电荷的移位。所述问题最显著发生于已在不同时间编程的若干组相邻存储器单元之间。为了解决此耦合,针对特定存储器单元的读取过程将向相邻存储器单元提供补偿,以便减小所述相邻存储器单元对所述特定存储器单元具有的耦合效应。为此,将读取电压施加至选定存储器单元的字线,将第二通过电压施加至与所述选定存储器单元相邻的存储器单元的字线,且将第一通过电压施加至其它字线。在读取所述选定存储器单元之前,读取所述相邻存储器单元的状态,且根据此状态,设定所述第二通过电压。
  • 浮动栅极耦合具有补偿非易失性存储装置读取操作
  • [发明专利]非易失性存储器的体效应读出方法-CN200680049490.8有效
  • 尼玛·穆赫莱斯;杰弗里·W·卢策 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2006-12-21 - 2009-01-21 - G11C11/56
  • 本发明提供一种用于读出存储器单元的方案。通过被选定存储器单元的沟道使被选定存储器单元放电到地电平,接着将电压电平置于传统源极上且将另一电压电平置于控制栅极上,并允许单元位线充电。所述存储器单元的所述位线会接着充电,直到所述位线电压高得足以切断任何进一步的单元导通。所述位线电压的上升将按视所述单元的数据状态而定的速率并上升到视所述数据状态而定的电平,且接着当所述位线达到足够高的电平以致达到电流会本质上切断的体效应受影响存储器单元阈值时,所述单元会关闭。特定实施例执行多个此类读出子操作,每一子操作采用不同的控制栅极电压,但在每一操作中通过经由先前已放电单元的源极对所述先前已放电单元充电而读出多个状态。
  • 非易失性存储器效应读出方法
  • [发明专利]升压以控制非易失性存储器的编程-CN200580019388.9有效
  • 丹尼尔·古特曼;尼玛·穆赫莱斯;方玉品 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2005-04-20 - 2007-05-30 - G11C16/10
  • 本发明揭示一种用于以较高精确度编程非易失性存储器的系统。在一个实施例中,所述系统包含:将一升压信号的一第一相位施加到一NAND串集合的一个或一个以上未选定字线;在施加所述升压信号的所述第一相位的同时,将一编程电平施加到所述NAND串的选定位线;和在施加所述升压信号的所述第一相位的同时,将一抑制电平施加到所述NAND串的未选定位线。随后,将所述升压信号的一第二相位施加到所述一个或一个以上未选定字线,且通过将所述抑制电平施加到所述选定位线来改变所述选定位线上的信号,使得与所述选定位线关联的NAND串将由所述升压信号的所述第二相位升压。将一编程电压信号施加到一选定字线以便编程连接到所述选定字线的存储元件。
  • 升压控制非易失性存储器编程

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