专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]热载流子效应退化性能的评估方法-CN202110004222.0在审
  • 胡健;吕康;熊阳 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-01-04 - 2022-07-08 - G01R31/26
  • 本发明实施例提供一种热载流子效应退化性能的评估方法,包括:提供字线和字线驱动器;对所述字线执行电性测试;对电性测试合格的样品执行特性测试,获得第一性能参数;向所述字线驱动器的输入端输入交流信号,以通过所述字线驱动器控制所述字线反复开关;对所述字线执行所述电性测试;对电性测试合格的样品执行所述特性测试,获得第二性能参数,并根据所述第一性能参数和所述第二性能参数评估所述字线驱动器的热载流子效应退化性能。本发明实施例有利于准确获取字线驱动器的热载流子效应退化性能。
  • 载流子效应退化性能评估方法
  • [发明专利]测试机台及测试方法-CN202011519537.0在审
  • 吕康;熊阳;胡健 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-12-21 - 2022-06-21 - G01R1/04
  • 本发明实施例提供一种测试机台及测试方法,测试机台包括:多组焊垫组和多个源测量单元,每一所述焊垫组具有一应力焊垫,所述应力焊垫用于连接待测元件,所述源测量单元用于通过所述应力焊垫向所述待测元件发送输入信号并测量所述待测元件的输出信号,以获取所述待测元件的性能参数;其中,至少两组所述焊垫组的应力焊垫可同时与对应的所述源测量单元连接。本发明实施例有利于提高测试效率。
  • 测试机台方法
  • [发明专利]一种罐箱落成组装及检测装置-CN202210199479.0在审
  • 尹雪峰;鲁贞华;张存武;王婷;杨帅;吕康;胡跃明 - 中车长江车辆有限公司
  • 2022-03-01 - 2022-06-14 - G01B5/00
  • 本发明属于罐式集装箱装配技术领域,公开了一种罐箱落成组装及检测装置,包括:底架组成、轨道组成、下部移动平台、底角件定位夹紧组件、底角件测量组件、顶角件定位夹紧组件、顶角件测量组件、上部平台架、走行升降滚轮架以及中心线定位组件;轨道组成设置在底架组成上;下部移动平台滑动地设置在轨道组成上,底角件定位夹紧组件以及底角件测量组件设置在下部移动平台上;上部平台架设置在下部移动平台上,且顶角件定位夹紧组件和顶角件测量组件设置在上部平台架上;中心线定位组件和走行升降滚轮架设置在底架组成上。本发明提供的罐箱落成组装及检测装置能够改善罐式集装箱装配工装的通用性,并提升ISO尺寸检测的精度,可靠性和操作便捷性。
  • 一种落成组装检测装置
  • [实用新型]一种便于维修的停车场地感安装结构-CN202122420871.7有效
  • 吕康 - 湖北通灏科技有限公司
  • 2021-10-08 - 2022-06-07 - G08G1/042
  • 本实用新型公开了一种便于维修的停车场地感安装结构,包括混凝土基体,所述混凝土基体开设有沟槽,所述沟槽的内部固定安装有线圈本体,所述线圈本体的下方固定安装有工形架,所述沟槽的上方固定安装有气囊。该装置的嵌入板嵌入连接在混凝土基体内,通过气囊膨胀卡在沟槽内部,实现了沟槽内部密封,一方面未使用任何金属材质,不会对地感线圈感应效果造成影响,另一方面将气囊放气可以取出嵌入板,在对地感线圈进行维修时方便拆卸,维修更方便,保证了沟槽内部密封,同时在工形架上设置干燥剂包吸附水蒸气,从而保证了沟槽内部干燥,避免地感线圈受潮,使得地感线圈工作更稳定。
  • 一种便于维修停车场地安装结构
  • [发明专利]半导体元件测试方法与半导体元件测试系统-CN201811632523.2有效
  • 吕康;胡健;熊阳 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2018-12-29 - 2022-04-26 - G01R31/26
  • 本公开提供一种用于预测PMOS元件NBTI寿命的半导体元件测试方法与半导体元件测试系统。半导体元件测试方法包括:提供多个相同的PMOS元件;在预设温度下对第n个所述PMOS元件的栅极多次施加时长不同的第n个预设负偏压,以获取多个预设负偏压下多个施压时长对应的所述PMOS元件的漏极饱和电流老化率;将多个所述漏极饱和电流老化率带入预设方程以确定所述预设方程的拟合结果,获取对应于施压值和施压时长的漏极饱和电流老化率变化曲线;根据所述漏极饱和电流老化率变化曲线确定所述PMOS元件在标准工作电压下漏极饱和电流老化率达到预设失效值时对应的时间。本公开提供的半导体元件测试方法可以提高测试PMOS元件NBTI寿命的效率和准确度。
  • 半导体元件测试方法系统
  • [实用新型]玉米种子加工密封性好的储存设备-CN202122863206.5有效
  • 岳建磊;董建霖;吕康 - 酒泉市嘉硕种业有限责任公司
  • 2021-11-22 - 2022-04-26 - B65D90/54
  • 本实用新型涉及储存技术领域,具体为玉米种子加工密封性好的储存设备,包括:罐体,包括储存仓,所述储存仓的顶端通过合页转动连接有盖板;密封机构,包括支撑板,所述储存仓的表面固定连接有支撑板,所述支撑板的内侧贯穿连接有螺杆,所述储存仓的顶端固定连接有密封圈。本实用新型在抵板和密封圈抵合时,实现抵板挤压气囊,进而在气囊的内部空气压缩下,便于对抵杆内进行充气,达到对抵杆在密封圈内体积的改变,进而实现密封圈和折叠板之间连接角度和形状的改变,从而实现密封圈和密封槽之间的紧密抵合连接,达到密封效果,在挡板和拉簧的连接下,有效隔绝储存物品进入连接杆内,影响通气杆通气的情况出现。
  • 玉米种子加工密封性储存设备
  • [发明专利]半导体元件测试方法与设备-CN201811635005.6有效
  • 胡健;熊阳;吕康 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2018-12-29 - 2022-04-15 - G01R31/26
  • 本公开提供一种半导体元件测试方法与设备。方法包括:提供一PMOS元件;在预设温度下对PMOS元件的栅极施加时长为Tm的预设负偏压Vn,在撤除预设负偏压后的N个预设时间点测量N个实测阈值电压偏移值,N个预设时间点包括数值最大的第一预设时间点,其中m∈[1,x],n∈[1,y],x、y、N分别是第一预设值、第二预设值、第三预设值根据N个实测阈值电压偏移值确定撤除预设负偏压后的第二预设时间点对应的阈值电压恢复值,第二预设时间点小于第四预设值;根据阈值电压恢复值和第一预设时间点对应的实测阈值电压偏移值确定时长为Tm的预设负偏压Vn对应的阈值电压偏移值ΔVthmn。本公开提供的半导体元件测试方法可以提高测量PMOS元件NBTI寿命的准确度。
  • 半导体元件测试方法设备
  • [实用新型]一种太阳能电池板单边锁紧装置-CN202122999895.2有效
  • 朱小军;吕康 - 江苏国强兴晟能源科技有限公司
  • 2021-12-01 - 2022-04-12 - H02S20/20
  • 本申请涉及一种太阳能电池板单边锁紧装置,包括支撑架,所述支撑架上安装有固定卡夹,所述固定卡夹包括支撑杆、第一固定块、第二固定块和锁紧件,所述第一固定块与第二固定块分别位于支撑杆的两侧,所述第二固定块与太阳能电池板抵接面形成有导向面,所述第一固定块和第二固定块分别与两块太阳能电池板的一条侧边抵接,所述锁紧件将支撑杆与支撑架连接。本申请分开对太阳能电池两边进行固定,尽量避免一次性安装太阳能电池板时因为太阳能电池板体积过大所带来的安装困难的问题。
  • 一种太阳能电池板单边装置
  • [实用新型]落体光心质心测量装置-CN202121500658.0有效
  • 余烨;胡翔;包福;吕康 - 湖北省计量测试技术研究院
  • 2021-07-02 - 2022-03-22 - G01V7/12
  • 本实用新型公开了一种落体光心质心测量装置,落体光心质心测量装置包括:真空导引,石英丝,阻尼系统,钨丝,落体单元,正交干涉仪,角度测量系统,振幅控制系统,真空系统;落体单元通过调节螺母可以改变质心位置,该单元包括:细调螺母,金属外壳,角锥棱镜,反射镜;阻尼系统用于抑制落体的非扭摆运动。本实用新型根据测量落体扭摆的位移以及角度高精度反演出落体光心与质心的偏差。
  • 落体光心质心测量装置

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