专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]处理器的缓存工作机制的测试方法、装置、设备及介质-CN202311174747.4在审
  • 郑楚育;邓晓宇;何伟;唐丹;包云岗 - 北京开源芯片研究院
  • 2023-09-12 - 2023-10-27 - G06F11/22
  • 本申请提供了一种处理器的缓存工作机制的测试方法、装置、设备及介质,涉及处理器测试技术领域,包括:获取处理器的缓存工作机制信息;根据缓存工作机制信息,对预设的初始测试程序进行配置,获得用于测试处理器的缓存的工作机制的测试程序;测试程序具有多个缓存测试模式;通过测试程序,针对每个缓存测试模式,生成与处理器的至少部分线程一一对应的线程地址,线程地址满足缓存测试模式;通过测试程序,按照每个缓存测试模式对应的线程地址,测试缓存的工作机制,获得测试结果,以实现对处理器缓存的工作机制测试,且适应线程使用缓存的多种场景,降低了线程使用缓存场景的仿真时间,解决了在先技术中仿真时间长的问题。
  • 处理器缓存工作机制测试方法装置设备介质
  • [发明专利]一种访存方法、装置、电子设备及可读存储介质-CN202311181085.3在审
  • 马建露;王华强;王凯帆;陈键;唐丹;包云岗 - 北京开源芯片研究院
  • 2023-09-13 - 2023-10-20 - G06F12/0877
  • 本发明实施例提供一种访存方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域,该方法包括:获取待执行的段访问内存指令;将所述段访问内存指令拆分为N个合并访存操作;根据所述段访问内存指令的访存基地址将每个合并访存操作划分为至少一个向量访存操作,并确定每个向量访存操作的访存地址;一个向量访存操作用于访问一次内存;按照内存地址对齐的方式对所述访存地址对应的内存空间进行访存,得到目标数据;根据所述访存基地址的非对齐偏移和所述目标数据在目的寄存器中的数据回填地址,将所述目标数据加载至所述目的寄存器中。本发明实施例减少了段访问内存指令的访存次数,有利于降低访存延迟和功耗,提升了处理器性能。
  • 一种方法装置电子设备可读存储介质
  • [发明专利]一种访存方法、处理器、电子设备及可读存储介质-CN202311176283.0在审
  • 马建露;王华强;王凯帆;陈键;唐丹;包云岗 - 北京开源芯片研究院
  • 2023-09-13 - 2023-10-20 - G06F9/50
  • 本发明实施例提供一种访存方法、处理器、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域,该方法包括:获取待执行的索引访存指令和所述索引访存指令的第一参数和第二参数;根据预设的映射规则确定所述第一参数对应的第一数值N1和所述第二参数对应的第二数值N2;根据所述第一数值和所述第二数值,将所述索引访存指令拆分为至少一个微操作;以元素为粒度对所述微操作进行拆分处理,得到所述微操作对应的子操作;根据所述第一数值、所述第二数值和所述微操作对应的各项子操作,确定所述索引访存指令的元素索引值;基于所述元素索引值执行访存操作。本发明实施例能够降低选择复杂度,有利于提升处理器的访存性能。
  • 一种方法处理器电子设备可读存储介质
  • [发明专利]系统级芯片的设计方法、系统、电子设备及存储介质-CN202310854225.2有效
  • 包云岗;任睿;董璐;李秋香;彭卓 - 北京开源芯片研究院
  • 2023-07-12 - 2023-09-12 - G06F30/32
  • 本发明实施例提供一种系统级芯片的设计方法、系统、电子设备及存储介质,涉及计算机技术领域。其中的方法包括:应用层获取用户在人机交互界面中输入的第一操作信息,并将所述第一操作信息发送至所述处理层;处理层利用预先训练的自然语言处理模型对所述第一操作信息进行处理,得到SoC推荐信息,并将所述SoC推荐信息发送至所述应用层;所述应用层接收所述用户针对所述SoC推荐信息的第二操作信息,并将所述第二操作信息发送至所述处理层;所述处理层根据所述第二操作信息生成目标SoC代码。本发明实施例可以基于用户需求自动生成SoC代码,简化了SoC芯片的设计步骤,降低了SoC芯片的设计难度,提升了设计效率。
  • 系统芯片设计方法电子设备存储介质
  • [发明专利]一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质-CN202310934163.6在审
  • 石侃;翁伟杰;张子卿;蔡礼嘉;包云岗 - 北京开源芯片研究院
  • 2023-07-27 - 2023-08-29 - G06F30/331
  • 本发明实施例提供一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:获取设计文件,所述设计文件包括被测设计和断言语句;所述断言语句用于验证所述被测设计是否满足测试条件;将所述断言语句转化为断言电路,所述断言电路为寄存器转换级电路;基于所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表;根据所述目标网表将所述被测设计和所述断言电路配置到集成电路芯片中;运行所述集成电路芯片,并监测所述被测设计的断言结果;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。本发明实施例可以利用断言电路来揭示被测设计内部状态和潜在问题,解决了FPGA仿真缺乏设计细节的低级可见性的问题。
  • 一种电路验证方法装置电子设备可读存储介质

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