专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN202211419576.2在审
  • 今井朋弘 - 瑞萨电子株式会社
  • 2022-11-14 - 2023-06-06 - H01L29/739
  • 本公开涉及一种半导体器件及其制造方法。层间绝缘膜包括在半导体层上形成的第一绝缘膜和在第一绝缘膜上形成的第二绝缘膜。第一绝缘膜是氧化硅膜,第二绝缘膜是BPSG膜。第二绝缘膜的厚度大于第一绝缘膜的厚度。接触孔由第一接触孔和第二接触孔形成。第一接触孔贯穿发射极区并且到达基极区。第二接触孔被形成在第一绝缘膜和第二绝缘膜中并且与第一接触孔连通。第二接触孔的开口宽度大于第一接触孔的开口宽度。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN202111028200.4在审
  • 中泽芳人;今井朋弘 - 瑞萨电子株式会社
  • 2021-09-02 - 2022-03-04 - H01L29/06
  • 本公开提供了一种半导体器件及其制造方法。根据一个实施例的一种半导体器件包括在硅衬底的背表面上具有p型集电极层和n型场截止层的IGBT。n型场截止层被选择性地设置在p型集电极层的上侧,使得n型场截止层的第一端部以预定距离与硅衬底的第一侧表面分开,并且在硅衬底的第一侧表面与n型场截止层的第一端部之间设置有n型漂移层。n型漂移层的杂质浓度低于n型场截止层的杂质浓度。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]半导体集成电路装置-CN201380019201.X有效
  • 今井朋弘;山路将晴 - 富士电机株式会社
  • 2013-08-02 - 2017-02-22 - H01L27/08
  • 在形成于p半导体衬底(1)上的n分离区域(2)形成构成高压侧驱动电路的MV‑PMOS(20)和MV‑NMOS(30)。MV‑NMOS(30)形成于n分离区域(2)内部的中间电位(Vs)的p分离区域(3)。在p半导体衬底(1)的表面层的、n分离区域(2)的外侧设置n外延区域(12),在其外侧设置地电位(GND)的pGND区域(41)。在高压侧驱动电路与pGND区域(41)之间的、p半导体衬底(1)与n外延区域(12)之间设置空洞(11),并设置贯穿n外延区域(12)到达空洞(11)的p扩散区域(13)。对p分离区域(3)施加中间电位(Vs)。由此,能够避免产生错误动作、损坏,并且能够缩小芯片尺寸。
  • 半导体集成电路装置

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