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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]具有太阳能电池组的发光元件检测机台及其检测方法-CN200880131190.3无效
发明人：曾一士 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-11-26 - 公布日： 2011-08-17 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：一种具有太阳能电池组的发光元件检测机台包括一个容纳具有多个待测发光元件(70)的发光组件(7)并分别致能发光元件使其发光的基座(30′)；一组将多个待测发光元件(70)批次输入/输出该基座的移动装置(32′)；包括至少一片太阳能电池的太阳能电池组(33′)。
具有太阳能电池组发光元件检测机台及其方法

[发明专利]一种光学元件保护方法以及光学元件贴膜设备-CN200910107125.3无效
发明人：陈瑞雄;陈志勇 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-04-24 - 公布日： 2010-10-27 - 主分类号： B65C1/02 文献下载
摘要：本发明适用于光学元件制造技术领域，提供了一种光学元件保护方法以及光学元件贴膜设备，该光学元件保护方法包含下列步骤：将复数个保护标签黏贴于转贴膜上以形成输送膜，接着，再将输送膜贴放于具有排列放置复数个光学元件的承载盘上，并以一预定角度撕起转贴膜，使保护标签脱离转贴膜而分别贴附于光学元件的镜头表面，最后收回已撕起的转贴膜并卷覆于收膜滚筒上。本发明提供的技术方案可以自动的将保护标签贴附于光学元件的镜头表面，利用PP转贴膜与排列放置复数个光学元件的承载盘相互配合，并以一预定角度撕起PP转贴膜，能快速、可靠的将PI保护标签转贴于复数个光学元件的镜头表面，以保护光学元件避免被碰触而损坏。
一种光学元件保护方法以及设备

[发明专利]输出阻抗测量方法及装置-CN200910133364.6有效
发明人：陈文钟;刘国成;邹明颖 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-04-07 - 公布日： 2010-10-13 - 主分类号： G01R27/08 文献下载
摘要：一种输出阻抗测量装置及方法，用以测量一待测主动元件的输出阻抗，其包含：一可控制电流单元，通过改变其内部元件的参数，进而控制流经过的一拉载电流信号的波形与大小；一信号处理单元，输出一控制信号，可控制电流单元依据控制信号改变内部元件的参数；一电流测量电路，用以测量拉载电流信号，并将拉载电流信号传送至信号处理单元；以及一电压测量电路，用以测量待测主动元件拉载前后的电压信号，并将该两笔电压信号传送至信号处理单元；信号处理单元利用拉载电流信号以及该两笔电压信号进行分析后，即可求得待测主动元件的输出阻抗值。
输出阻抗测量方法装置

[发明专利]待测物的接触检查系统-CN200910131241.9有效
发明人：姜富元;陈昭旭;王耀南 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-04-10 - 公布日： 2010-09-29 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种待测物的接触检查系统，该待测物是电性耦合在一漏电流测试电路，该接触检查系统包括一交流电源、一变压器、一整流电路以及一切换开关，该变压器的一次侧与该交流电源连接，变压器的二次侧与该漏电流测试电路连接，该整流电路的该输入端设有一电压量测点，该电压量测点是与该交流电源相连接，该切换开关具有一第一输入端、一第二输入端以及一输出端，其中该第一输入端是与该漏电流测试电路相连接，该第二输入端是与该整流电路的输出端相连接，该输出端是与该漏电流测试电路相连接。
待测物接触检查系统

[发明专利]抵触式分离设备-CN200910118173.2无效
发明人：林汉声;吴惠荣 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-03-11 - 公布日： 2010-09-15 - 主分类号： B65H3/08 文献下载
摘要：一种抵触式分离设备，利用容置装置收容层状堆栈的多个对象，所述对象例如为太阳能裸芯片基板或太阳能电池基板；通过撷取装置自层状堆栈的多个对象撷取中最上部的对象，再利用抵触部件向下抵触于撷取装置所撷取的对象的上表面；如此，可使被抵触的对象形变而与其下方相邻的对象加速相互分离，进而使撷取装置取出所述欲撷取的对象离开容置装置，并将其下方相邻的物件留滞于容置装置中；进一步，在分离的过程中对被抵触的对象施以震动，会有更快速、更有效的脱离效果。
抵触分离设备

[发明专利]自动化系统以及自动化系统中的分料置料设备-CN200810186584.0有效
发明人：林汉声 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-12-25 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： B07C5/38 文献下载
摘要：本发明涉及一种自动化系统以及高效率空间利用的分料置料设备，分料置料设备于该自动化系统中，用以将多个受检物分类置放，利用移动取放装置接收来自分料置料设备外部的分类指令，以获取主流道上的受检物，并对应分类指令以将受检物分类置放于适当置料盒承托架上的置料盒，置料盒包含有次流道上方的自动化置料盒，以及次流道旁的固定式置料盒，固定式置料盒、次流道、以及主流道依序并列，以节省设置空间，并且其动线设计方便操作人员的移动。
自动化系统以及中的分料置料设备

[发明专利]电路元件承载盘供输和堆叠系统-CN200810217559.4有效
发明人：陈建名 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-11-07 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本发明适用于检测技术领域，提供了一种电路元件承载盘供输和堆叠系统，用来堆叠置放复数个承载电路元件的承载盘，所述的承载盘包括：导引所述承载盘堆叠方向的堆叠辅助装置；将堆叠的承载盘沿所述堆叠方向升降的升降装置；对应所述堆叠辅助装置一特定位置设置，夹持承载盘堆叠中最上层承载盘脱离所述承载盘堆叠或者携带空承载盘至所述承载盘堆叠最上层的携行装置。本发明提供的技术方案使得承载盘补料时检测机台可以维持正常的运行，优化了作业流程，提高了作业效率。
电路元件承载盘供输堆叠系统

[发明专利]一种自动光学检测设备及其检测方法-CN200810177069.6无效
发明人：潘世耀;冯胜凯;王铭辉;简宏达 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-11-19 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种自动光学检测设备(Automated Optical Inspection；AOI)，用以检测一待测物的多个表面，该待测物可为一电子组件。该自动光学检测设备包含一光源装置，一影像感测装置，以及一光学结构件，其中，该光学结构件包含一基座与多个反射结构。当检测该多个表面的待测物时，将该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。
一种自动光学检测设备及其方法

[发明专利]中介光学感测装置及高精度半导体元件检测机台-CN200810172681.4无效
发明人：林汉声 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-11-07 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明揭示一种中介对位光学影像感测装置，供分别撷取位在其两相反侧面的一组受测物及一组检测装置的影像，且受测物及检测装置分别具有多个沿着一个对应中轴镜像对称的基准点，感测装置包括：一组将受测物与检测装置的光学影像转向并整合的光学整合器；及一组接收来自光学整合器的叠合影像、并辨识多个基准点的光学影像撷取器。将前述感测装置结合基座、输送装置、检测装置、处理装置与缓冲分类装置，结合为检测机台，且利用精密的测试承载盘容置多个受测物，非常适用于高精度半导体元件的自动检测，可大幅提升检测效率与品质。
中介光学装置高精度半导体元件检测机台

[发明专利]光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台-CN200810171699.2无效
发明人：蔡译庆;冯胜凯;施昱安;翁松佑;潘世耀 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-10-24 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明揭示一种光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台，光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于镜面并供连接至一个预定电路的接面；藉由自动化机台的基座、输送装置、携带装置与光学影像撷取装置的协调运作，进行检测步骤a)以单一方向取得多个光学影像撷取元件、并同步暴露所有多个批次受测的光学影像撷取元件的多个接面；b)检测多个批次受测光学影像撷取元件的多个接面；c)同步暴露多个批次受测光学影像撷取元件的多个镜面；及d)检测多个批次受测光学影像撷取元件的多个镜面。
光学影像撷取元件外观批次检测方法机台

[发明专利]具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法-CN200810167875.5无效
发明人：曾一士 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-10-15 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明是利用一组装配于机台基座的承载致能装置，承载并致能待测发光组件；再以一组移动装置驱动承载致能装置与感测装置，按对应被致能发光组件长度方向相对移动；使一组感测装置得以大范围依序接收发光组件的发光状态信息，并传送感测讯号。以此对照已知标准发光状态信息，检析发光组件的元件异常，从而获得一种简便、快速的具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法。
具有发光元件组件检测机台及其方法

[实用新型]具有静电放电装置的探针检测机台-CN200920148342.2有效
发明人：陈正雄;刘衍庆;曾家彬;林怡彦 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-04-03 - 公布日： 2010-05-26 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种具有静电放电装置的探针检测机台，以静电冲击并检测具有至少二个受测端的待测半导体元件的电气性能和静电耐受能力。它包括：基座；可提供高压静电冲击讯号至该待测半导体元件的至少二受测端的静电放电装置；对应该基座的探针检测装置，包括至少一个压力导接组件，其分别具有供电气接触而可供应预定致能讯号至该待测半导体元件至少一个受测端的金属探针；接收该待测半导体元件受该预定致能讯号时的输出资料的处理装置；及具有一对传输线，且该对传输线具有低于预定数值的阻抗值、使得该静电放电装置输出并传输至该探针检测装置的金属探针的高压静电冲击讯号阻尼振荡是低于预定范围的传输装置。
具有静电放电装置探针检测机台

[实用新型]双面电极半导体晶粒检测载具-CN200920144910.1无效
发明人：陈正雄;曾家彬 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-03-04 - 公布日： 2010-05-19 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型是关于一种双面电极半导体晶粒检测载具，应用于晶粒检测的检测机台包括一组检测载具、一组导电基座、一组针压组件及一组处理装置，利用形成于检测载具的导电承载部上的导电黏着层，供具有双面电极的半导体晶粒导电接触并附着其上，使切割分离的晶粒，藉由针压组件导接而进行测试分类。
双面电极半导体晶粒检测

[实用新型]一种具有可挠式拉门的检测机台-CN200920132343.8无效
发明人：曾家彬;陈正雄;曾昱闳 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-06-04 - 公布日： 2010-05-12 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型适用于检测技术领域，提供了一种具有可挠式拉门的检测机台，该检测机台具有一基座，在基座上方设有一测试区以及一设置于测试区上方、预留有一弧状开口的支撑座，其中，该检测机台还包括：分别设置于该支撑座两侧方向、并自该弧状开口的第一端向该弧状开口的第二端延伸的导轨组；嵌设于该导轨组中的拉门结构；以及牵引该拉门结构沿该导轨组来回移动，依其移动方向开启或关闭该弧状开口的转动轴。本实用新型提供的具有可挠式拉门的检测机台，将拉门结构收纳于检测机台内，更解决了现有技术中对开门占空间的缺点，检测人员不需要侧身避开即可开启拉门结构，节省了厂房的空间。
一种具有可挠式拉门检测机台

[实用新型]一种拨刷脱离设备-CN200920130616.5无效
发明人：林汉声;吴惠荣 -专利权人： 中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-04-10 - 公布日： 2010-05-12 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本实用新型适用于太阳能电池制造领域，提供了一种拨刷脱离设备，当取出层状堆叠的复数个对象中至少一对象时，用以将需取出对象与相邻对象分离，该拨刷脱离设备包含：收容层状堆叠的复数个对象的容置装置；撷取层状堆叠的复数个对象中最上部物件的撷取装置；以及，至少一使所述需撷取对象与其下方相邻对象相互分离的毛刷装置，该毛刷装置具有一刷毛部，该刷毛部可与所述需撷取对象边缘与其下方相邻对象边缘接触。本实用新型提供的技术方案能加快脱离相邻对象的速度以及减少破坏对象的可能，进而能提升生产效率、降低生产成本。
一种脱离设备

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