“待测物”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3708851个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]待测物采样装置-CN202220327445.0有效
发明人：刘海泉 -专利权人：上海源蓬生物科技有限公司
申请日： 2022-02-18 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01N1/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种待测物采样装置，包含：试剂管、底盖、取样模块、存液模块与存放支架；试剂管设置在存放支架上，试剂管的内腔中预置有溶液；底盖设置在试剂管的底部，底盖的外壁上设有第一摩擦凸起；取样模块连接试剂管与底盖，取样模块位于试剂管的内部，用于对外部的待测物进行取样；存液模块设置在试剂管的顶部。本实用新型解决了现有技术中使用者在获取待测物采样装置内部溶液的过程中容易对待测物采样装置内部溶液造成污染的缺陷，具有操作步骤简单、使用方便的特点。
待测物采样装置

[实用新型]待测物插拔装置-CN99201510.3无效
发明人：洪惇识;林坤泉 -专利权人：康舒科技股份有限公司
申请日： 1999-01-06 - 公布日： 2000-03-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种待测物插拔装置,其主要是于一基座上设置有一受压缸推动,且于一侧面上设置有检测板的推板,并于基座上设置有可用以限制定位待测物的固定块及限制块,如此可通过控制压缸来带动推板,来控制检测板与待测物上接脚与插槽间之插接与拔离,让待测物通过检测板进行检测,以此达到提高待测物检测作业的效率及准确性的效果。
待测物插拔装置

[发明专利]微型待测物载具-CN202111683719.6在审
发明人：吴俊霖;黄国玮 -专利权人：致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：一种微型待测物载具包含一载具本体、一推动件与一弹性元件。载具本体包含复数个相间设置的承载台，承载台用以承载一微型待测物。推动件受操作地自一限位位置移动至一松开位置，并包含一推动本体与复数个限位件。弹性元件设置于承载台与推动件之间，用以在推动件受操作地被推动至松开位置供微型待测物设置后，利用弹性恢复力使推动件复位至该限位位置，借以利用该些限位件对该些微型待测物加以限位。
微型待测物载具

[发明专利]多个待测物诊断输出-CN200880113288.6无效
发明人：安东尼·舒伯尔 -专利权人：先兆生物科学有限公司
申请日： 2008-09-12 - 公布日： 2010-11-03 - 主分类号： G01N33/48 文献下载
摘要：特别地，本发明提供一种根据对多个待测物或生物标记的分析来产生诊断输出的方法。
多个待测物诊断输出

[发明专利]量测待测物散射参数的方法-CN201110188745.1无效
发明人：文圣友 -专利权人：纬创资通股份有限公司
申请日： 2011-07-06 - 公布日： 2012-12-26 - 主分类号： G01R27/28 文献下载
摘要：本发明提供一种量测待测物散射参数的方法，可以在不需要使用转接校正器进行全双端口校正的情况下量测两端具有不同接头规格的待测物散射参数。本发明利用两次的单端口校正程序，建立两个误差模型，其中第一个误差模型包括网络分析仪的连接端口与接线的特性，第二个误差模型则还包括待测物的特性。所以，自第二个误差模型中移除第一个误差模型的参数后便可得到待测物的特性。
量测待测物散射参数方法

[发明专利]待测物重心确定的方法-CN201610557390.1在审
发明人：刘大为;田鸿翔;杨剑;李启明;李腾;田仲伟;马铭远 -专利权人：中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司
申请日： 2016-07-14 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： B66C13/16 文献下载
摘要：本发明提供了一种待测物重心确定的方法，该方法包括将待测物吊设在起吊机构上以使待测物处于第一位置，通过起吊机构与待测物确定过待测物的重心的第一平面；改变起吊机构在待测物上吊点的位置，以使待测物处于第二位置，通过起吊机构与待测物确定过重心的第二平面；改变吊点的位置，以使待测物处于第三位置，通过起吊机构与待测物确定过重心的第三平面；通过第一平面、第二平面和第三平面建立数学模型确定重心的位置。该重心确定方法可以用于确定任何形状的结构体的重心位置，该方法操作简单，省时省力，有效地降低了待测物确定重心位置的时长。
待测物重心确定方法

[发明专利]待测物的接触检查系统-CN200910131241.9有效
发明人：姜富元;陈昭旭;王耀南 -专利权人：中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2009-04-10 - 公布日： 2010-09-29 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种待测物的接触检查系统，该待测物是电性耦合在一漏电流测试电路，该接触检查系统包括一交流电源、一变压器、一整流电路以及一切换开关，该变压器的一次侧与该交流电源连接，变压器的二次侧与该漏电流测试电路连接，该整流电路的该输入端设有一电压量测点，该电压量测点是与该交流电源相连接，该切换开关具有一第一输入端、一第二输入端以及一输出端，其中该第一输入端是与该漏电流测试电路相连接，该第二输入端是与该整流电路的输出端相连接
待测物接触检查系统

[实用新型]加速待测物老化的设备-CN201320881164.0有效
发明人：郭钟亮;秦海岩 -专利权人：乐利士实业股份有限公司;北京鉴衡认证中心有限公司
申请日： 2013-12-24 - 公布日： 2014-07-02 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种加速待测物老化的设备。该加速待测物老化的设备包括一壳体、一光源、一温湿度控制装置及一散热装置。该散热装置用以降低该待测物的温度。
加速待测物老化设备

[发明专利]一种待测物中目标缺口的检测方法-CN202110742747.4在审
发明人：陈鲁;祖建成;马研忠;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种待测物中目标缺口的检测方法，包括：获取待测物的边缘的图像，待测物的边缘的图像中包括待测物边缘的各缺口的图像；根据待测物边缘的各缺口的图像，获取待测物边缘的各缺口与预设缺口的相似度；基于待测物边缘的各缺口与预设缺口的相似度，取待测物边缘的各缺口中与预设缺口的相似度最大的缺口作为目标缺口。可见，该检测方法不是只根据待测物边缘的位置的突变来确定目标缺口，而是根据待测物的边缘的图像获取待测物边缘的各缺口，基于待测物边缘的各缺口和预设缺口的相似度大小来确定目标缺口，从而大大提高所述目标缺口即为预设缺口的概率，减少在对待测物边缘的预设缺口位置进行检测时出现的误差，实现待测物精准定位。
一种待测物中目标缺口检测方法

[发明专利]检测待测物的试剂及其方法-CN200880015415.9有效
发明人： G·P·雷;G·S·阿加沃;S·M·P·雷杰;K·瑟卡拉;A·K·苏德;A·S·尼吉 -专利权人：国防研究与发展组织总干事;印度理学院
申请日： 2008-03-13 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： G01N33/569 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于检测样品中待测物的试剂以及制备所述试剂的方法。所述试剂包含肝素和被待测物配对物包被的基质。所述试剂的待测物配对物能够与所述待测物结合。本公开还提供一种通过用所述试剂接触所述样品并检测待测物-待测物配对物复合物的形成来检测样品中待测物的方法。本公开还提供一种用于检测样品中待测物的试剂盒。
检测待测物试剂及其方法

[发明专利]量测待测物长度的系统及方法-CN201310694088.7在审
发明人：陈吉宝 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2013-12-18 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：一种量测待测物长度的系统及方法，该方法包括：启动线速度传感器对电子装置的线速度进行量测；读取并记录线速度传感器感测的电子装置的线速度；当电子装置的线速度从零开始变化时，读取此时电子装置的第一系统时间；当电子装置的线速度降低为零时，读取此时电子装置的第二系统时间；根据所记录的电子装置线速度以及所读取的第一系统时间与第二系统时间，利用预设的计算公式计算出待测物的长度；在电子装置的显示屏幕上显示所计算得到的待测物的长度。利用本发明可以使用户利用电子装置随时随地方便地测量待测物的长度。
量测待测物长度系统方法

[发明专利]一种监理测量数据记录方法、系统及其存储介质-CN202010363943.6在审
发明人：黄海;左传学;倪小勇;王鸿;林杰;徐磊;李晓杰;瞿苗叶;张春杰;张凯;郑继生 -专利权人：宁波市交建工程监理咨询有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： G01C11/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种监理测量数据记录方法、系统及其存储介质，所述方法包括：移动采集图像；将图像中的物体与预设的待测物参考图像进行图像比对，将图像中与待测物参考图像匹配的物体作为目标待测物；根据目标待测物匹配的待测物参考图像，调取预设的待测参考物图像需测量的待测距离参数；根据待测距离参数对目标待测物进行距离测量，获取实际距离参数。具有自动记录目标待测物实际距离参数以提高监理工作效率的特点。
一种监理测量数据记录方法系统及其存储介质

[发明专利]一种曲面待测物表面瑕疵检测系统-CN201710078753.8在审
发明人：王人杰 -专利权人：由田新技股份有限公司
申请日： 2017-02-14 - 公布日： 2018-06-26 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种曲面待测物表面瑕疵检测系统，用以对该曲面待测物的表面进行检测，包含一待测物入料装置、一第一循环检测装置、以及一第二循环检测装置。该待测物入料装置用以传送该曲面待测物，以进行检测。该第一循环检测装置接收自该待测物入料装置的该曲面待测物，以进行该曲面待测物的上半部检测。该第二循环检测装置耦合至该第一循环检测装置，以进行该曲面待测物的下半部检测。
待测物循环检测入料装置瑕疵检测系统待测物表面检测装置接收装置耦合上半部下半部传送

[发明专利]静电放电测试方法及测试系统-CN201210225084.X有效
发明人：段龙辉;张秋贤 -专利权人：纬创资通股份有限公司
申请日： 2012-06-29 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：该静电放电测试方法，包括启动一待测物，其中该待测物与一水平板保持一预设距离；施加一第一放电电压予该待测物的一外露金属；每施加该第一放电电压予该外露金属后，判断该待测物的运作是否发生异常；当该待测物的运作发生异常时，处理该待测物，用以解决该待测物的结构所造成的异常，并再次施加该第一放电电压；当该待测物的运作未发生异常时，令该待测物接触该水平板，并执行一特定动作。
静电放电测试方法系统

[发明专利]利用多种拟合方式衔接标准曲线的待测物测定方法-CN201810752368.1有效
发明人：吴冬梅;赵燕秋;付国余 -专利权人：北京北分瑞利分析仪器（集团）有限责任公司
申请日： 2018-07-10 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用多种拟合方式衔接标准曲线的待测物测定方法，包括以下步骤：S1：选择n个包含待测物的标准样品A1～An；S2：对标准样品A1～An，使用对数拟合方法获取待测物的第一标准工作曲线；S3：对标准样品A1～An，使用多项式拟合方法获取待测物的第二标准工作曲线，该第二标准工作曲线的横坐标和纵坐标分别对应待测物浓度和光谱强度；S4：设定一待测物浓度转换值C；S5：生成待测物的“待测物浓度‑光谱强度”曲线L；S6：对于待测样品，按照步骤S2、步骤S3中对标准样品相同的处理步骤获取其中的待测物对应的光谱强度S；S7：从曲线L中读取光谱强度为S时对应的待测物浓度，并据此计算出待测物于待测样品中的含量。
利用多种拟合方式衔接标准曲线待测物测定方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条