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[发明专利]器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质-CN202011636005.5在审
发明人：洪佳婷;敖资通;芦子哲;柳春美;贺晓光;严围 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2020-12-31 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，所述方法包括：以第一恒流电流对待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据第一器件亮度变化信息，判断待测试器件是否达到在第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大第一恒流电流的值，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以第二恒流电流对待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本申请实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件既得到充分的通电，又减少对器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。
器件寿命测试方法设备终端设备可读存储介质

[发明专利]器件寿命测试方法、设备、终端设备和系统-CN202011638936.9在审
发明人：洪佳婷;敖资通;芦子哲;柳春美;贺晓光;严围 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2020-12-31 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和系统，所述方法包括：以第一恒流电流对待测器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取待测试器件的第一器件亮度变化信息，第一器件亮度变化信息为第一恒流电流下的器件亮度变化信息；根据第一器件亮度变化信息，增大第一恒流电流，直至增大后的电流等于第二恒流电流，其中，第一恒流电流增大的速率与亮度变化的速率负相关；以第二恒流电流对待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本申请实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件既得到充分的通电，又减少对器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。
器件寿命测试方法设备终端设备系统

[发明专利]一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置及方法-CN202011583554.0在审
发明人：柳春美;芦子哲;洪佳婷;贺晓光;严围 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置及方法，其中，所述装置包括用于放置顶发射型发光器件的底座，以及设置在所述底座上的半球形腔体，所述半球形腔体内部两条相互垂直的经线的交点处设置有光电二极管，且同一条经线上所述交点处的两侧对称设置有若干个光电二极管。通过本发明提供的装置可以获得顶发射型发光器件的准确的发光立体角，将本发明测得的发光立体角参数输入到积分球，便可以准确测试该顶发射型发光器件的光强和亮度等相关光学参数，这对于顶发射型发光器件的研究具有重要意义。
一种测量发射发光器件立体角装置方法

[发明专利]一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备-CN202011221551.2在审
发明人：贺晓光;芦子哲;洪佳婷;柳春美;严围 -专利权人：武汉国创科光电装备有限公司
申请日： 2020-11-05 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请适用于发光二极管技术领域，提供了一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备，所述方法包括：获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。通过上述方法，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。
一种发光器件寿命测试方法装置终端设备

[发明专利]量子点发光二极管测试装置及其校准方法-CN202010977322.7在审
发明人：柳春美;洪佳婷;芦子哲;贺晓光;严围 -专利权人：武汉国创科光电装备有限公司
申请日： 2020-09-16 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及电子器件测试设备技术领域，提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法，上述量子点发光二极管测试装置包括用于放置量子点发光二极管的座体，盖设于座体上的盖体，设置于盖体上的多个调节件，以及设于盖体与座体之间并且用于安装探测器件的安装板，安装板与各调节件相连接，各调节件分别用于驱动安装板朝靠近或远离量子点发光二极管的方向移动，上述量子点发光二极管测试装置中的安装板可进行平行度调节，从而有效消除因制造精度低而引起不同的量子点发光二极管测试装置中的探测器件与量子点发光二极管的相对位置的差异，保证不同的量子点发光二极管测试装置的一致性，以确保量子点发光二极管性能测试的准确性。
量子发光二极管测试装置及其校准方法

[实用新型]一种发光器件的测试盒-CN202023284795.3有效
发明人：柳春美;芦子哲;洪佳婷;贺晓光;严围 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种发光器件的测试盒，用于测试底发射型发光器件，其包括测试盒主体以及与所述测试盒主体上下两端分别转动连接的测试盒上盖和测试盒底盖；所述测试盒底盖用于放置待测的底发射型发光器件，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有用于对所述底发射行发光器件发出的光进行汇聚的凸透镜；所述测试盒上盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。本实用新型通过所述凸透镜对底发射型发光器件发出的光进行汇聚然后再到达到所述光电二极管上，这样就增大了光电二极管对底发射型发光器件发出的光的收集，从而获得准确的底发射型发光器件的性能测试数据。
一种发光器件测试

[实用新型]一种发光器件的寿命测试盒-CN202023286323.1有效
发明人：柳春美;芦子哲;贺晓光;洪佳婷;严围 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种发光器件的寿命测试盒，其包括测试盒主体以及与所述测试盒主体转动连接的测试盒盖，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有从下至上依次层叠的温控片和过渡板，所述过渡板上设置有热敏电阻，所述测试盒盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。本实用新型提供的寿命测试盒具有灵敏度高、响应速度快、温控效果好以及保温效果强的特点，能够高效准确地测量发光器件的寿命。
一种发光器件寿命测试

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