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[发明专利]信息处理方法、信息处理系统以及信息处理装置-CN202210902284.8在审
发明人：石川武志;上田阳一郎;安藤健 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： H04N21/431 文献下载
摘要：本公开提供一种信息处理方法、信息处理系统以及信息处理装置。信息处理方法包含：获取由第1移动体收录的收录内容、表示对收录内容进行收录的期间的第1移动体的位置的第1位置信息的步骤；将第1位置信息与收录内容建立关联并存储的步骤；和基于第2移动体的位置与第1位置信息表示的第1移动体的位置之间的距离，将收录内容部分地或者整体地发送给第2移动体的步骤。
信息处理方法系统以及装置

[发明专利]安装元器件检查装置、包括该安装元器件检查装置的元器件安装设备、以及安装元器件检查方法-CN201010118640.4有效
发明人： 上田阳一郎 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2010-01-28 - 公布日： 2010-08-18 - 主分类号： G01R31/308 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种在安装元器件的检查中、能快速引入适当的元器件库的安装元器件检查装置。安装元器件检查装置包括：元器件库，元器件库保存用于对检查对象的元器件进行检查的可更新的检查用信息；检查处理部，检查处理部使用元器件库来检查检查对象的元器件；适合率获取部，适合率获取部根据由检查处理部进行的检查的结果，获取表示检查用信息是否适合由检查处理部进行的检查的程度的适合率；以及判定部，判定部从更新前的检查用信息和更新后的检查用信息中选定适合率高的检查用信息。并且，元器件库可以保存更新前后的检查用信息，检查处理部使用保存在元器件库的更新前后的检查用信息来进行检查，若由判定部进行选定，则使用由判定部选定的检查用信息来进行检查。
安装元器件检查装置包括设备以及方法

[发明专利]超声波测量方法和装置-CN200880000125.7有效
发明人：小松真介;上田阳一郎 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2008-03-26 - 公布日： 2009-09-23 - 主分类号： G01N29/44 文献下载
摘要：通过从合格品的观测对象物(2)的波形信号生成的模板数据和从未测量的观测对象物得到的波形信号的比较，来校正观测对象物上产生的时间相位差，并进一步检测与模板数据的差异。作为第1阶段，通过使用了所生成的模板数据的长区间模板数据来对未测量的观测对象物进行好坏判断(步骤S31～S33)，校正时间相位差(步骤S34)。接着，作为第2阶段，根据以时间轴分割后的短区间模板数据与同样分割后的观测对象物的波形信号来进行好坏判断(步骤S35、S36)。由此，校正观测对象物(合格品和不合格品)间产生的时间相位差，并可通过与合格品的波形信号的比较来进行高精度的好坏判断。
超声波测量方法装置

[发明专利]超声波测定方法、电子部件制造方法及半导体封装-CN200810190886.5有效
发明人：小松真介;上田阳一郎 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2008-12-25 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： G01N29/11 文献下载
摘要：本发明提供一种超声波测定方法、电子部件制造方法及半导体封装。能分别接收在测定对象物内的多个界面上反射的超声波的波形信号，基于接收到的波形信号的振幅，检测测定对象物内部的基准界面上的反射波的波形信号，以基准界面上的反射波的波形信号为基础，评价测定对象界面的接合状态。
超声波测定方法电子部件制造半导体封装

[发明专利]超声波探伤方法和超声波探伤装置-CN200680011066.4无效
发明人：桂浩章;上田阳一郎;后川和也 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-06-12 - 公布日： 2008-04-02 - 主分类号： G01N29/28 文献下载
摘要：将检查对象(6)放置在与放置超声波传播介质(2)并用高分子膜(1)密封开口部的介质槽(10)分开的、与介质槽的高分子膜相对并形成开口的检查对象放置容器本体(12)中，用介质槽(10)的高分子膜(1)覆盖检查对象放置容器本体(12)的开口，同时对由框体(14)和高分子膜(1)及检查对象(6)形成的测定环境空间(17)进行减压，使高分子膜(1)紧贴在检查对象(6)上，从超声波探头(8)通过超声波传播介质(2)和高分子膜(1)向检查对象(6)发射超声波，来进行探伤检查。
超声波探伤方法装置

[发明专利]超声波探伤方法和超声波探伤装置-CN200680001305.8有效
发明人：桂浩章;上田阳一郎;后川和也 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-01-11 - 公布日： 2007-11-07 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：用高分子膜(2)封住介质槽(1)的底面开口并密封(a)，对介质槽(1)的内部(4)减压并使高分子膜(2)吸附在介质槽(1)的底部(b)，一面对介质槽(1)的内部(4)减压，一面注入超声波传导介质(5)，使得至少浸渍超声波探头(3)的前端(c)，在使检查对象(6)和介质槽(1)相对移动并使检查对象(6)和上述高分子膜(2)接触的状态下，向介质槽(1)的内部施加更大的压力(d)，用超声波探头(3)来接收从所述超声波探头(3)发送并由检查对象反射的超声波来进行检查，从而能够容易地进行生产工序中的高分子膜(2)的更换，而且对于检查对象即使没有检查对象和其周围的空间，也能够进行很好的检查。
超声波探伤方法装置

[发明专利]基准位置决定方法及装置、印刷方法及装置、安装及处理方法-CN200510091500.1无效
发明人：西胁健太郎;上田阳一郎;深江崇行 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2005-08-18 - 公布日： 2006-02-22 - 主分类号： H05K3/32 文献下载
摘要：在印刷装置中，根据图象取得组件取得的图象，由标记位置取得部取得被输送用托盘保持的多个FPC上设置的4个对象标记的各自的位置。在错位标记特定部中，求出4个对象标记的相对的位置关系，与成为基准的位置关系进行比较，从而特定产生了错位的对象标记。然后，在基准位置决定部中，根据从4个对象标记中除去产生了错位的对象标记后的多个对象标记，求出对输送用托盘上的多个FPC而言的基准位置。这样，可以高精度地决定在印刷组件中进行印刷之际的基准位置。
基准位置决定方法装置印刷安装处理

[发明专利]IC零件的突起检查装置和突起检查方法、其突起形成方法-CN200510074082.5无效
发明人：深江崇行;上田阳一郎;鸟越哲史郎 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2005-05-31 - 公布日： 2005-12-07 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：向IC零件的突起形成面照射单一方向的光，取得上述IC零件的第1全部图像，照射来自相对突起形成面倾斜的各个方向的光，取得第2全部图像，从上述第1全部图像中分别取得第1突起检查用图像，同时，从上述第2全部图像中分别取得第2突起检查用图像，并根据第2突起检查用图像，检查突起形成位置，同时，根据上述各个第1突起检查用图像，检查突起头顶部的压坏程度。由此，实现高精度且有效的突起的检查。
ic 零件突起检查装置方法形成

[发明专利]元件安装管理方法、安装检查装置及安装系统-CN03110470.3无效
发明人： 上田阳一郎;市原胜;佐藤大资;高野健 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2003-04-14 - 公布日： 2003-10-29 - 主分类号： H01L21/58 文献下载
摘要：一种元件安装管理方法，所述元件安装管理方法系利用小型元件安装装置(12)，将芯片元件安装在赋予基板上的糊浆状焊料上，并用安装检查装置(13)检查安装状态。在此安装系统中，在安装检查装置(13)对不存在芯片元件的情况进行确认的场合，首先，确认在焊料上是否存在芯片元件的安装痕，并对确认结果和成为缺陷品的芯片元件进行安装的安装喷嘴(452)进行特别指定。然后，将确认结果向小型元件安装装置(12)的控制器(41)进行发送，根据确认结果、控制器(41)从数据库(431)选择取得处理信息，且显示在显示器(451)上。
元件安装管理方法检查装置系统

[发明专利]三维测量装置和三维测量方法-CN97118078.4无效
发明人：王生和弘;辻村昌治;上田阳一郎 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 1997-08-09 - 公布日： 2001-08-08 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：三维测量装置，其包括在控制扫描操作的同时用光束对物体的凸凹表面进行扫描的光束扫描单元，和在扫描操作的过程中接收由凸凹表面反射的反射光束并由此测量物体凸凹表面高度信息的检测单元，其中防止了在控制光束扫描操作期因产生的噪声而引发的噪声信息作为来自检测单元的高度信息被发送。
三维测量装置测量方法

[发明专利]二氢吡啶衍生物及其制备方法-CN93117098.2无效
发明人：伊藤清隆;赤松秀和;井上庆三;尾野村治;滨谷武;上田阳一郎;江角公男 -专利权人：藤泽药品工业株式会社;大世吕化学工业株式会社
申请日： 1993-07-28 - 公布日： 1994-06-08 - 主分类号： C07D211/90 文献下载
摘要：本发明提供了式(1)二氢吡啶化合物及其酸加成盐。本发明还包括制备上述化合物的方法，含有它们的药物组合物，以及作为药物的应用和治疗人或动物高血压的方法。
二氢吡啶衍生物及其制备方法

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