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[发明专利]一种全谱信息保留的多次反射飞行时间质谱-CN201711204462.5有效
发明人：陈平;蒋吉春;韩笑笑;周丽娟;李海洋 -专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
申请日： 2017-11-27 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明提供一种全谱信息保留的多次反射飞行时间质谱。在多次反射飞行时间质谱原理的基础上，利用离子门选择开关操控离子飞行轨迹。离子门处于无电场状态时，该时间段对应的离子进入多次反射通道获得高分辨质谱；离子门处于高电场时，该时间段内对应的离子进入另一个通道，经过一次反射后在另一探测器上获得质谱图。这样在单次分析中不仅得到了目标质量数离子的高分辨质谱信息，同时保留测量了全部离子的质谱信息。
一种信息保留多次反射飞行时间

[发明专利]用于成像的改进的离子镜和离子光学透镜-CN201680065428.1有效
发明人：约翰·布莱恩·霍伊;阿纳托利·凡尔纳奇科夫;米哈伊尔·亚沃尔;基思·理查森 -专利权人：英国质谱公司;莱克公司
申请日： 2016-11-21 - 公布日： 2020-08-18 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：公开了一种离子镜，其包括：离子入口电极部段(62)，其在离子镜的离子入口处；能量聚焦电极部段(66)，其用于将离子沿纵轴朝向所述离子入口反射回去；以及空间聚焦电极部段(64)，其布置在离子入口电极部段(62)和能量聚焦电极部段(66)之间，用于对离子进行空间聚焦。提供了一个或多个DC电压源以向离子入口电极部段(62)施加DC电位，该DC电位介于向空间聚焦电极部段(64)施加的DC电位和向能量聚焦电极部段(66)施加的DC电位中间。离子镜还包括：(i)至少一个第一过渡电极(68)，其布置在离子入口电极部段(62)和空间聚焦电极部段(64)之间，其中所述一个或多个DC电压源配置成向所述至少一个第一过渡电极施加DC电位，该DC电位介于向离子入口电极部段(62)施加的DC电位与向空间聚焦电极部段(64)施加的DC电位中间；和(ii)至少一个第二过渡电极(69)，其布置在所述能量聚焦电极部段(66)和所述空间聚焦电极部段(64)之间，其中所述一个或多个DC电压源配置成向所述至少一个第二过渡电极(69)施加DC电位，该DC电位介于向空间聚焦电极部段(64)施加的DC电位和向离子入口电极部段(62)施加的DC电位中间。
用于成像改进离子光学透镜

[实用新型]一种小型基质辅助激光解析直线式飞行时间质谱仪-CN202020301264.1有效
发明人：谭代健;林霞;张将乐 -专利权人：厦门汉可真空仪器有限公司
申请日： 2020-03-12 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：一种小型基质辅助激光解析直线式飞行时间质谱仪，涉及质谱仪技术领域。离子加速器、聚焦透镜和离子信号探测器从下到上依次安装于真空腔体内，溅射激光源和CCD相机位于离子加速器的侧上方；离子加速器包括依次设置的第一电极片、第二电极片和第三电极片，第一电极片位于底层，第一电极片上设有样品槽，样品靶装于样品槽内，第二电极片设有供激光和CCD相机透光的大圆孔，以及供离子传输的小圆孔，第三电极片接地；CCD相机观测并选择溅射位置，溅射激光源产生激光并进入真空腔体照射到样品靶上，使样品分子离子化，离子通过离子加速器和聚焦透镜到达离子信号探测器。紧凑小巧，结构简单，操作方便，对所检测到的离子有非常高的分辨率。
一种小型基质辅助激光解析直线飞行时间质谱仪

[发明专利]成像质谱仪-CN201680066671.5有效
发明人：约翰·布莱恩·霍伊;阿纳托利·凡尔纳奇科夫;米哈伊尔·亚沃尔;基思·理查森;詹森·维尔德古斯 -专利权人：英国质谱公司;莱克公司
申请日： 2016-11-16 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：公开一种飞行时间质谱仪，包括：离子偏转器(305)，被配置成在不同时间将离子偏转到第一位置阵列中的不同位置；位置敏感离子检测器(187)；以及离子光学器件(180)，被布置并且配置成将离子从所述第一位置阵列引导到位置敏感检测器(187)，从而将离子从所述第一位置阵列映射到位置敏感检测器(187)上的第二位置阵列；其中，所述离子光学器件包括至少一个离子镜，用于反射离子。
成像质谱仪

[发明专利]质谱仪和用于飞行时间质谱的方法-CN201810585692.9有效
发明人： H·斯图尔特;D·格林菲尔德;A·马卡洛夫 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2018-06-08 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：一种质谱仪包括：脉冲离子源，用于产生具有一定质量范围的离子脉冲；飞行时间质量分析仪，用于接收来自所述离子源的所述离子脉冲且对所述离子脉冲进行质量分析；和能量控制电极组合件，位于所述脉冲离子源与所述飞行时间质量分析仪之间，配置成接收来自所述脉冲离子源的所述离子脉冲且将时间相关电位施加到所述离子，由此在所述离子到达所述飞行时间质量分析仪之前根据其m/z控制所述离子的能量。离子的平均能量的质量相关差异可由于注入到飞行时间质量分析仪中而减小，此可改进离子传输和/或仪器分辨力。
质谱仪用于飞行时间方法

[发明专利]具有减速级的多反射质谱仪-CN201711058532.0有效
发明人： H·斯图尔特;D·格林菲尔德;A·马卡洛夫 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2017-11-01 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：一种多反射质谱仪，其包括在X方向上间隔开且彼此对置的两个离子镜，每一镜大体上沿着漂移方向Y伸长，X方向正交于漂移方向Y，以及离子注入器，离子注入器用于与X方向成倾斜角度将离子作为离子束注入到离子镜之间的空间中，其中沿着在漂移方向Y上离子镜的长度的第一部分，离子镜以第一收敛程度收敛，且沿着在漂移方向Y上离子镜的长度的第二部分，离子镜以第二收敛程度收敛或者平行，离子镜的长度的所述第一部分比所述第二部分更接近离子注入器，且第一收敛程度大于第二收敛程度。通过修改沿着长度的初始部分由收敛镜产生的返回伪电位而在方向+Y上的注入后漂移速度的初始较高减少允许通过长度的所述第二部分的在方向X上的增加数目的振荡。
具有减速反射质谱仪

[发明专利]一种用于质谱中的光学成像质量分析方法-CN201810656052.2有效
发明人：裘一;杜树新;许艺青;楼洪海 -专利权人：杭州海知慧环境科技有限公司
申请日： 2018-06-23 - 公布日： 2020-05-29 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于质谱中的光学成像质量分析方法，所述方法采用飞行时间空间分类的手段，结合二次电子和光子的转化，并对光子进行光学成像分析处理，实现简单可靠的质量分析方法；对于一个已知离子质谱谱图N＝S(m，e)，纵轴为不同质荷比离子对应的离子量，横轴为离子的质荷比，所述质量分析方法通过四个步骤，实现光学对质荷比的分析。本发明相比传统的飞行时间，本发明的离子的初始飞行距离(100mm)远远小于传统飞行时间(1000mm)所需的空间。其对离子的空间解析是通过光学成像实现。在1mm级别内，光学的空间分辨率，远远大于各种电子信号探测器的时域分辨率(皮秒级别)；通过改变光路的设计，直接调整透镜焦距的比例，实现调整光子空间位置的的分辨率和视野宽度，从而简单有效提高质荷比的分辨率。
一种用于中的光学成像质量分析方法

[发明专利]时间切片离子速度成像装置及成像方法-CN201911423916.7在审
发明人：茆锐;张群;陈旸 -专利权人：常州工学院
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种时间切片离子速度成像装置，包括：离子透镜、离子飞行管及离子探测器，其中，离子飞行管置于离子透镜的离子出射端及离子探测器之间；离子透镜中包括：31块相互平行设置的不锈钢电极片及多根连杆，多根连杆依次穿设31块电极片中相应位置的通孔将其固定；且每两个电极片之间焊接一电阻，靠近离子飞行管一侧的4块电极片之间的电阻两端均并联一可调电阻；每块电极片开设有一用于速度聚焦的通孔，且各电极块的通孔中心位于同一轴线上；离子探测器中包括两块相互平行设置的微通道板及一荧光屏。该离子透镜可以很好地实现速度聚焦，大大提高了速度分辨率，进而精确地测量解离产物的内态分布。
时间切片离子速度成像装置方法

[发明专利]用于飞行时间质谱仪的金属镀层氧化铝陶瓷电极片-CN201811222588.X有效
发明人：聂宗秀;李玉泽;袁震;占铃鹏;熊彩侨;刘会会 -专利权人：中国科学院化学研究所
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于飞行时间质谱仪的电极片，属于离子光学器件制作技术领域。解决了现有技术中的电极片厚度较大、机械尺寸加工不准确一致、电极片不平整以及任意两个电极片之间的间距不够小等技术问题；本发明提供了一种用于飞行时间质谱仪的电极片，包括氧化铝陶瓷和金属镀层；氧化铝陶瓷为95氧化铝陶瓷或99氧化铝陶瓷；金属镀层涂覆于氧化铝陶瓷表面和侧沿；95氧化铝陶瓷和99氧化铝陶瓷是指氧化铝的质量百分含量为95％和99％。本发明提供的电极片具有较薄的厚度、较高的平整度以及较好的机械尺寸准确性，并且成本较低，能够用于飞行时间质谱仪的制作，有利于形成均匀的梯度电场。
用于飞行时间质谱仪金属镀层氧化铝陶瓷电极

[发明专利]一种产生单电荷态的混合气体团簇离子束的方法和装置-CN201811165407.4有效
发明人：亚历山大·托斯托古佐夫;瓦西里·帕里诺维奇;曾晓梅;左文彬;付德君 -专利权人：武汉大学
申请日： 2018-10-08 - 公布日： 2020-02-14 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明提供了一种产生单电荷态的混合气体团簇离子束的方法，首先产生掺杂离子和中性团簇，然后在电场中相互作用产生单电荷态的混合气体团簇离子束。本发明同时提供了一种产生单电荷态的混合气体团簇离子束的装置，包括电解质溶液储蓄池，所述电解质溶液储蓄池连接有环形狭缝发射器，距环形狭缝发射器的孔口一侧设置有环形引出电极，环形狭缝发射器的孔口另一侧设有金属喷嘴，环形狭缝发射器的孔口与喷嘴之间设有光阑，电解质溶液储蓄池和引出电极分别与第一高压电源和第二高压电源连接。本发明在没有使用任何其他装置电离产生团簇离子的情况下获得各种组分混合的单电荷气体团簇离子(正负离子均可产生)，能应用于现代微纳电子学领域。
团簇发射器单电荷态环形狭缝混合气体离子束电解质溶液储蓄池孔口高压电源引出电极气体团簇离子方法和装置电场掺杂离子金属喷嘴纳电子学其他装置正负离子组分混合喷嘴单电荷电离光阑离子应用

[发明专利]电压施加方法、电压施加装置以及飞行时间质谱分析装置-CN201680083763.4有效
发明人：大城朝是 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-03-18 - 公布日： 2020-02-11 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：在使用电压施加装置向与电极连接部连接的电极(243、246、244A、244B、247)施加电压时，以向所述电极施加规定的极性及大小的电压的方式决定多个电源各自的输出电压的极性及大小，基于所述多个电源的输出电压的极性，以使所述多个电源中的至少一个电源(P)的输出电压的极性维持与其它电源不同的状态的方式将所述多个电源的输出电压的极性一个一个地切换，由此切换所有的所述电源的输出电压的极性，其中，电压施加装置具有：电极电路，其是由多个所述电极连接部以使电阻(R1、R3、R5)介于相邻的电极连接部之间的方式串联连接而成的；以及所述电源(P1、P2、P3、P4)，其分别与所述电极电路的两端及至少一个中间位置连接，输出正负两种极性的电压。
电源输出电压电极连接部电压施加装置电极电路电极飞行时间质谱电压施加方式决定分析装置施加电压施加装置使用电压正负两种电阻施加输出

[发明专利]一种双离子源双通道质谱仪-CN201810821364.4在审
发明人：丁利;清江;蒋伟;王季诚 -专利权人：宁波海歌电器有限公司
申请日： 2018-07-24 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种双离子源双通道质谱仪，包括双边离子源，双通道传输系统，双通道飞行时间质量分析器，以及真空隔离腔体；该质谱仪具备同时获取两种离子源的质谱数据的能力，两个通道的离子并行分布，互不干扰，无需切换或更换离子源，缩短了不同类型样品分析的时间，节约了成本，而且获取的两组数据能够非常方便的进行比对分析，提高了仪器快速准确分析的能力。
离子源双通道质谱仪飞行时间质量分析器双通道传输比对分析互不干扰样品分析真空隔离质谱数据两组腔体离子并行节约分析

[发明专利]一种双通道飞行时间质量分析器-CN201810822073.7在审
发明人：丁利;清江;蒋伟;王季诚 -专利权人：宁波海歌电器有限公司
申请日： 2018-07-24 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种双通道飞行时间质量分析器，包括双通道加速器、无场飞行区、双通道反射器、双检测器；所述双通道飞行时间质量分析器有两组并行分布的离子通道，其各组通道的中心轴均在同一平面上，两个通道并行分布，互不干扰。装置采用双通道设计，将现有技术中的加速区、飞行区和反射区结构合为一体，满足与不同离子源相对接的需求，实现飞行时间质量分析的同步性，进而实现同时获得两组分析数据，缩短了样品分析的成本和时间。
双通道飞行时间质量分析器飞行区两组并行分析数据合为一体互不干扰离子通道双检测器样品分析质量分析反射器反射区加速器加速区离子源同步性中心轴无场飞行

[发明专利]一种提高飞行时间质谱仪灵敏度的方法-CN201810803690.2有效
发明人：敖小强;魏文;李杰 -专利权人：北京雪迪龙科技股份有限公司
申请日： 2018-07-20 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明提供一种提高飞行时间质谱仪灵敏度的方法。所述方法包括：采用飞行时间质谱仪测试样品里的目标物质，捕捉并判定所述目标物质对应的离子数的目标峰；计算各所述目标峰不受干扰的提取脉冲间隔时间的可能取值，生成间隔时间列表；从所述间隔时间列表中选择间隔时间进行目标峰数据的采集分析，缓存未被干扰的所述目标峰数据；累加所述缓存未被干扰的所述目标峰数据得到数据结果，根据所述数据结果绘制质谱图。本发明系统结构简单、可靠性高、成本低；有效避免离子富集产生的质量分辨率下降的问题，提高了飞行时间质谱仪的灵敏度。
目标峰飞行时间质谱仪灵敏度缓存目标物质数据结果质量分辨率测试样品离子富集脉冲间隔累加质谱图离子判定捕捉采集绘制分析

[发明专利]质谱分析装置-CN201580083656.7有效
发明人：西口克;奥村大辅 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2015-08-06 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明的质谱分析装置具备配置于中真空区域的碰撞室(16)、聚焦电极(18)、加速电极(19)、作为静电透镜的前级离子透镜系统(20)、用于分离中真空区域与高真空区域的分隔壁(22)、配置于高真空区域的离子输送光学系统(23)。利用聚焦电极(18)使由于在碰撞室(16)的出口电极(16a)与加速电极(19)之间形成的加速电场而被引出并加速的离子聚焦于微小的离子通过开口(19a)。加速电极(19)阻止气体流，因此减少离子在加速电极(19)的后方与气体颗粒接触的机会。另外，加速电场对离子赋予大的动能，因此离子即使与气体颗粒接触也不会耗散。通过了离子通过开口(19a)的离子被前级离子透镜系统(20)聚焦于分隔壁(22)的离子通过孔(22a)。通过了离子通过孔(22a)的离子被后级离子输送光学系统(23)减速并进行束成形，具有适度的能量地入射至正交加速部(24)。
离子加速电极质谱分析装置光学系统加速电场聚焦电极离子输送离子透镜气体颗粒真空区域高真空碰撞室通过孔前级隔壁开口聚焦出口电极静电透镜加速部气体流成形动能耗散配置入射正交减速赋予