专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有正交加速的多次反射飞行时间质谱仪-CN201711141044.6有效
  • A·N·沃恩特奇科夫;M·I·雅格;Y·卡·辛 - 莱克公司
  • 2006-10-11 - 2021-09-17 - H01J49/40
  • 本发明公开了一种具有正交加速的多次反射飞行时间质谱仪(MR‑TOF MS)(11),包括一对无网格离子镜(12)、漂移空间(13)、正交离子加速器(14)、可任选的偏转器(15)、离子检测器(16)、周期透镜组(17)、以及边缘偏转器(18)。为提高MR‑TOF MS中的由长飞行限定的低重复率的离子注入的占空比,可进行多路测量。输入的离子束和加速器可以基本取向为穿过MR‑TOF中的离子路径,同时通过倾斜加速器以及使离子束转向相同角度对离子束的初始速度进行补偿。可通过离子导向器对轴向离子速度进行调制来对离子束进行时间压缩。可通过将离子束捕获在静电阱中来提高离子在加速器中的驻留时间。在加速器中具有延长驻留时间的设备对灵敏度和分辨率均进行了提高。
  • 具有正交加速多次反射飞行时间质谱仪
  • [发明专利]飞行时间质谱仪和质谱分析方法-CN202110184243.5在审
  • H·斯图尔特;D·格林菲尔德;A·马卡洛夫 - 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
  • 2021-02-10 - 2021-09-03 - H01J49/40
  • 一种飞行时间(ToF)质谱仪,包括:脉冲离子注入器,用于形成沿离子路径行进的离子束;检测器,用于检测离子束中的离子,所述离子根据其m/z值间或到达检测器;离子聚焦装置,位于所述离子注入器与所述检测器之间,用于沿与离子路径正交的至少一个方向聚焦离子束;以及可变电压源,用于向所述离子聚焦装置供应至少一个可变电压,所述可变电压取决于离子束中的离子的至少一个种类的离子的电荷状态和/或量。提供了对应的质谱分析方法。电荷状态和/或离子量可以从预扫描中获取或预测。基于离子束中的离子的至少一个种类的离子的电荷状态和/或量的光谱仪的调谐可以在飞行中进行。
  • 飞行时间质谱仪谱分析方法
  • [发明专利]一种飞行时间质谱中的离子质量筛选装置-CN201811425517.X有效
  • 花磊;陈平;李庆运;李海洋 - 中国科学院大连化学物理研究所
  • 2018-11-27 - 2021-07-20 - H01J49/40
  • 本发明涉及质谱分析仪器,具体的说是一种飞行时间质谱中的离子质量筛选装置,包括质量分析器,质量分析器包括真空腔体、位于真空腔体中的无场飞行区、栅网电极、微通道板和法拉第盘;于栅网电极的2块金属栅网之间的区域内设置有离子质量筛选电极;于离子质量筛选电极所有相邻的板式结构电极上分别施加极性相反、脉宽相同、时序同步的脉冲电压U1和U2。本发明的飞行时间质谱中离子质量筛选装置可对到达微通道板离子探测器的离子质量实现选择性的过滤,消除高强度离子背景离子及反应试剂离子对微通道板检测器的干扰,不仅可以有效增大仪器的动态范围、提高检测灵敏度,而且能够大大提高微通道板离子探测器的使用寿命。
  • 一种飞行时间中的离子质量筛选装置
  • [发明专利]飞行时间质谱分析装置-CN201680088672.X有效
  • 水谷司朗 - 株式会社岛津制作所
  • 2016-08-22 - 2021-06-18 - H01J49/40
  • 加速电压产生部(7)利用开关部(74)对由高电压电源部(75)生成的直流高电压进行导通/截止驱动,来生成对挤压电极(11)施加的高电压脉冲。从控制部(6)经由初级侧驱动部(71)、变压器(72)、次级侧驱动部(73)对开关部(74)供给驱动用脉冲信号。初级电压控制部(61)从温度传感器(77)接受加速电压产生部(7)的周围温度的测量结果,控制初级侧电源部(76)以根据该温度对初级侧电压进行变更。由此,调整对变压器(72)的初级绕组两端施加的施加电压。当周围温度变化时,开关部(74)的MOSFET等的特性变化,高电压脉冲的上升/下降的定时产生偏差,但通过对上述初级侧电压的调整,能够使MOSFET的栅极电压的上升斜坡的斜率变化,来校正高电压脉冲的上升/下降的定时的偏差。其结果,能够不取决于周围温度地实现高的质量精度。
  • 飞行时间谱分析装置
  • [实用新型]飞行时间质谱仪检测室-CN202022513562.X有效
  • 王新娟;肖洋;王琛;阚丽萍 - 肖洋
  • 2020-11-04 - 2021-04-23 - H01J49/40
  • 本实用新型属于挥发性有机物分析检测领域,具体涉及一种飞行时间质谱仪检测室。包括位于上部的加速电场区、位于中部的无场漂移区和位于下部的反射区,加速电场区通过无场漂移区与反射区连通,在加速电场区内部设有四块极板,四块极板由上到下依次为底板、提取极板、中间极板和加速电极板,在无场漂移区内设置XY偏转板,反射区内设有三组反射器和检测器。本实用新型能够提高仪器分辨率、检测器的灵敏度,降低杂散离子对离子飞行的影响,离子利用率高。
  • 飞行时间质谱仪检测
  • [实用新型]飞行时间质谱仪反应室-CN202022513565.3有效
  • 肖洋;王新娟;马珊;韩伟 - 肖洋
  • 2020-11-04 - 2021-04-23 - H01J49/40
  • 本实用新型涉及一种分析检测仪器,具体涉及一种飞行时间质谱仪反应室。第一差分真空腔和反应管之间通过第一小孔连通,反应管和第二差分真空腔之间通过第二小孔连通,第二差分真空腔和离子传输区之间通过第三小孔连通,离子传输区和检测区之间通过差动导流孔连通,离子传输区内设有单透镜,单透镜由三组左右放置的电极构成,每组电极由上下相对的两片电极构成。本实用新型能够明显提高VOCs气体样品测定的准确度、灵敏度;经该反应室后离子碎片少,质谱背景噪声低,灵敏度高,测定范围广。
  • 飞行时间质谱仪反应
  • [发明专利]用于减少高丰度离子的动态离子过滤器-CN201980044465.8在审
  • 罗兰·莱曼 - 耶拿分析仪器股份公司
  • 2019-06-13 - 2021-04-20 - H01J49/40
  • 本发明涉及一种用于从离子束(2)中过滤出至少一个选定离子(m1、m3)的设备(1),包括:用于创建电场以使离子束(2)的离子沿着预定长度(d)的飞行路径加速的单元(3),以及可控制的离子光学系统(4),该可控制的离子光学系统将该飞行路径(d)划定在一个方向上,并且用于使该选定离子(m1、m3)从该离子束(2)的飞行路径(F)偏转。该设备(1)还设计成根据选定离子(m1、m3)沿着飞行路径(d)的飞行时间(t1、t3)来控制离子光学系统(4)。本发明还涉及一种具有根据本发明的设备(1)的质谱仪(10),并且涉及一种用于从离子束(2)中过滤出至少一个选定离子(m1、m3)的方法。
  • 用于减少高丰度离子动态过滤器
  • [发明专利]用于减少高丰度离子的动态离子过滤器-CN201980044636.7在审
  • 罗兰·莱曼 - 耶拿分析仪器股份公司
  • 2019-06-13 - 2021-04-20 - H01J49/40
  • 本发明涉及一种用于从离子束(1)中过滤出至少一个选定离子(m3、m1/z1、m3/z3、m5/z5)的方法,尤其是计算机实施方法。该方法包括以下方法步骤:‑确定具有选定离子质量(m1)、选定电荷(z1)和/或选定质荷比(m1/z1)的选定离子(m1);‑确定具有可预定离子(m2、m3)的至少一个可预定区域(B1),这些可预定离子的离子质量(m2、m3)、电荷(z2、z3)和/或质荷比(m2/z2、m3/z3)大于或小于选定离子(m1)的选定离子质量(m1)、选定电荷(z1)和/或选定质荷比(m1/z1);‑使得离子束(1)的可预定区域(B1)沿着离子束(1)的轨迹(F)隔离;以及检测可预定区域(B1)内的可预定离子(m2、m3)。此外,本发明涉及一种被配置为执行根据本发明方法的计算机程序,并且涉及一种具有根据本发明的计算机程序的计算机程序产品。
  • 用于减少高丰度离子动态过滤器
  • [发明专利]基于反射和检测的离子迁移谱结构-CN202011582650.3在审
  • 张黎;李文君;李鹏 - 中国人民公安大学;苏州微木智能系统有限公司
  • 2020-12-28 - 2021-04-20 - H01J49/40
  • 本发明涉及一种基于反射和检测的离子迁移谱结构,其包括迁移件和探测区,迁移件包括位于电离源处的输入电极板、位于探测区处的输出电极板,所述输入电极板和输出电极板之间设置有多个反射电极板组,所述输入电极板、反射电极板组和输出电极板呈波浪状排布,所述输入电极板、反射电极板组和输出电极板之间为迁移区,所述电离源区电离出的离子进入到所述输入电极板内,并在反射电极板组的作用下,将离子反射到输出电极板直至输入到探测区内进行检测,本发明具有在不显著增加设备长度的情况下提高分辨率,从而使设备的检测能够更强。
  • 基于反射检测离子迁移结构

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