专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种面密度检测装置-CN202221701748.0有效
  • 马天行;杨振波;陈光濠;黄允强;朱思奇;吴洁;卢天华 - 杭州安脉盛智能技术有限公司
  • 2022-07-04 - 2023-01-17 - G01N23/083
  • 本实用新型提供了一种面密度检测装置,所述面密度检测装置包括发射器、接收器、均匀板、准直器组件,所述发射器和所述接收器相对设置,所述均匀板设于所述发射器和接收器之间且三者均沿水平方向设置,所述准直器组件设置在所述发射器端,用于准直所述发射器发射的入射射线,检测时待检极片放置在所述均匀板的正上方或正下方且与所述均匀板平行。本实用新型通过设置准直器组件和均匀板,可有效增加入射射线穿透待测极片和均匀板后的衰减量,减少穿透射线测量误差对计算结果的影响,提高检测效率和检测精度。
  • 一种密度检测装置
  • [实用新型]一种坚果类加工X射线异物检测设备-CN202221370612.6有效
  • 范士武 - 滋美世家(广东)食品科技有限公司
  • 2022-06-03 - 2022-12-30 - G01N23/083
  • 本实用新型公开了一种坚果类加工X射线异物检测设备,支撑架一侧外壁固定安装有电机,电机输出端贯穿支撑架转动连接有传送带,支撑架上端一侧固定连接有检测箱,检测箱上端内壁设置有X射线发射器,检测箱一侧设置有防泄漏帘,防泄漏帘数量为两个,支撑架靠近传送带一侧内壁设置有X射线检测器,本实用新型具有以下优点:通过第二伸缩杆调节限位板,以此便于使坚果包装袋顺序经过限位板至检测箱中,通过X射线发射器和X射线检测器对坚果包装里的异物进行检测,当检测到异物时,通过控制器使第一伸缩杆推动推板,从而使推板推动传送带上的存有异物的坚果包装,通过吸尘口和刮板对传送带表面灰尘进行清理。
  • 一种坚果加工射线异物检测设备
  • [实用新型]一种可对射线发生器防护的X射线模拟探伤装置-CN202221956770.X有效
  • 刘军华 - 南京茗橙智能装备有限公司
  • 2022-07-27 - 2022-12-27 - G01N23/083
  • 本实用新型涉及X射线检测设备技术领域,尤其为一种可对射线发生器防护的X射线模拟探伤装置,包括射线发生器和X射线探伤机,所述射线发生器内部左右两侧滑动连接有风扇,所述风扇外侧上下两侧固定连接有延伸固定板,所述射线发生器左右两端的中间前后两侧固定连接有固定杆,所述固定杆另一端固定连接有干冰放置箱;本实用新型中,通过设置的风扇、干冰放置箱和输风管,使得装置可以对射线发生器内发热的电子元件进行快速散热,延长射线发生器的使用时间,同时对射线发生器的温度进行防护,以解决射线发生器自带的风扇散热效果不明显的问题,非常实用。
  • 一种射线发生器防护模拟探伤装置
  • [发明专利]一种智能型自动化的物品传输检测设备-CN202210791781.5在审
  • 杨玉亮 - 深圳市优达智控技术有限公司
  • 2022-07-07 - 2022-11-22 - G01N23/083
  • 本发明提供了一种智能型自动化的物品传输检测设备,包括传送机构、检测机构,检测机构与传送机构连接,传送机构包括结构架、传送带,传送带设置于结构架之间,结构架与传送带滑动连接;检测机构包括红外线检测机构、X射线检测机构、超声波检测装置,红外线检测机构、X射线检测机构、超声波检测装置与结构架连接,利用不同反射信号传递到探头的时间差,可以检查到构件内部的缺陷,代替人工需要敲击金属制品上的检测工序,避免敲击检测带来的损坏,红外线检测机构、X射线检测机构、超声波检测装置可以采用三种不同的检测方式,用户可以根据产品需要启动任意一种或多种达到全面、高效的检测。
  • 一种智能型自动化物品传输检测设备
  • [发明专利]用于检查半导体晶片的X光检查设备-CN202210444516.X在审
  • 约翰·廷吉;威廉·T·瓦尔克;凯特·斯图尔特 - 诺信公司
  • 2015-04-03 - 2022-09-06 - G01N23/083
  • 本发明涉及用于检查半导体晶片的X光检查设备。x光检查系统包括:柜,所述柜包括x光源、用于支撑将被检查的样品的样品支撑件,以及x光检测器;和鼓风机,所述鼓风机被构造成迫使空气通过所述柜内在所述样品支撑件之上的空气进口进入所述柜,其中所述鼓风机和所述柜被构造成迫使来自所述空气进口的空气经过所述样品支撑件通过所述柜,到达所述柜内在所述样品支撑件之下的空气出口。所述柜可以被构造成提供x光屏蔽件。能够在洁净室环境中使用这种类型的x光系统,以检查诸如半导体晶片的物品。
  • 用于检查半导体晶片设备
  • [发明专利]一种用于显示和定位X光射线成像范围的装置及方法-CN202210572707.4在审
  • 张全红 - 苏州一目万相科技有限公司
  • 2022-05-25 - 2022-08-26 - G01N23/083
  • 本发明公开了一种用于显示和定位X光射线成像范围的装置及方法,包括:探测器、可见光源、被测物体和射线源,所述被测物体位于探测器与射线源之间,所述探测器背面或者边缘设置有安装架,所述安装架上设置有位于探测器边缘外侧的销座,所述销座上可翻转的设置有可见光源固定座,所述可见光源设置在可见光源固定座中并指向射线源的射线源焦点。通过上述方式,本发明所述的用于显示和定位X光射线成像范围的装置及方法,特别设计了多个指向射线源焦点的可见光源,多个可见光源的光线可以在被测物体上围成有效成像区域,方便进行探测器、被测物体和射线源的间距及位置调整,直观可视,无需反复曝光确认,工作效率高。
  • 一种用于显示定位射线成像范围装置方法

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