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- [发明专利]一种激光打标方法-CN201610095616.0有效
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不公告发明人
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丁雪强
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2013-03-27
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2021-04-27
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B23K26/364
- 本发明涉及一种激光打标方法,包括以下步骤:第一步,设置半导体激光打标机的参数,然后再抛光银制品上进行第一次打标;第二步,修改激光打标机参数,并进行第二次打标。本发明所述的在白银表面增强扫描识别率的激光打标方法经过二次或二次以上的不同功率、不同频率、不同速度的叠加激光蚀刻,标记线段的不规则凹槽分布密度大幅度增加,达到70/MM以上,凹槽与凹槽存在重叠、交叉,大幅度提高了漫反射程度,标记的边缘更加清晰,使标记区域与非标记区的反射光线形成强烈的边缘对比,从而增强了白银表面的扫描识别率。
- 一种激光方法
- [发明专利]一种膜片飞秒激光刻痕方法-CN202011301861.5在审
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李明;江浩
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中国科学院西安光学精密机械研究所
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2020-11-19
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2021-03-16
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B23K26/364
- 本发明提供一种膜片飞秒激光刻痕方法,解决现有膜片的刻痕深度均匀性不好,导致膜片可靠性较差、容易引起误爆的问题。该方法包括:步骤一、设置飞秒激光器的参数,设置扫描振镜的扫描速度;步骤二、将刻痕槽的横截面等分为n层,得到n个刻痕图形;步骤三、将步骤二获取的n个刻痕图形导入扫描振镜的控制系统中;步骤四、装夹膜片;步骤五、开启飞秒激光器,扫描振镜依次扫描步骤三导入的n个刻痕图形,并进行扫描加工;步骤六、直至导入的n个刻痕图形加工完成,从而完成膜片刻痕槽的加工。该方法提升了膜片刻痕槽深的均匀性和膜片阀工作性能的可靠性,进而提升了膜片阀的破裂压力以及流量的一致性。
- 一种膜片激光刻痕方法
- [发明专利]一种激光加工芯片的方法及装置-CN201811607499.7有效
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侯煜;张喆;李曼;王然;李纪东;张紫辰
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北京中科镭特电子有限公司
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2018-12-27
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2021-03-05
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B23K26/364
- 本发明提供一种激光加工芯片的方法及装置,所述方法包括:移动待加工制冷型红外探测芯片中心至激光加工系统的振镜正下方,调整待加工制冷型红外探测芯片位置和角度以使沟槽与激光光斑入射面处于水平位置;依次经激光加工系统中的激光器、振镜、平场透镜加工一组相对两边缘上的沟槽;将放置制冷型红外探测芯片的工作台旋转运行90度;然后再依次经激光加工系统中的激光器、振镜、平场透镜加工另一组相对两边缘上的沟槽;其中,两组相对两边缘上的沟槽设置于制冷型红外探测芯片的像元层与相对两边缘之间并形成一闭合环形沟槽。本发明能够通过对振镜控制分时复用为原则,一次性加工两条相对的沟槽。针对每条沟槽断续加工为基础,在保证加工效率的情况下,有效的减少热累积。
- 一种激光加工芯片方法装置
- [发明专利]激光光线的检查方法-CN201710413237.6有效
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荒川太朗
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株式会社迪思科
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2017-06-05
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2021-01-29
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B23K26/364
- 提供激光光线的检查方法,准确地对光学系统的光轴与激光光线的光轴的偏移进行检查。该激光光线的检查方法包含如下步骤:准备步骤(S1),将检查用板状物和支承基材隔着树脂层层叠而准备被加工物单元,该树脂层在被照射透过检查用板状物的波长的激光光线时熔融;改质层形成步骤(S2),使检查用板状物露出而将被加工物单元保持在卡盘工作台的保持面上,按照将激光光线从检查用板状物的露出面会聚在检查用板状物的内部的方式进行照射而在检查用板状物的内部形成改质层;以及检查步骤(S3),在实施了改质层形成步骤之后,对因透过了检查用板状物的激光光线而形成于树脂层的熔融痕的状态进行检查。
- 激光光线检查方法
- [实用新型]一种加工金属模具的激光蚀刻打点设备-CN202020469632.3有效
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郭先德
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苏州川普光电有限公司
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2020-04-02
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2021-01-12
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B23K26/364
- 本实用新型公开了一种加工金属模具的激光蚀刻打点设备,包括底架、竖板、托板、X轴直线导轨、Y轴直线导轨和Z轴直线导轨,Y轴直线导轨设于底架上,托板设于Y轴直线导轨的滑块上,X轴直线导轨安装在托板上,X轴直线导轨的滑块上设有加工平台,底架两侧设有侧架,侧架顶部设有横梁,横梁两端各连接一侧架,竖板竖直固定在横梁正面,Z轴直线导轨安装在竖板正面,Z轴直线导轨的滑块上设有固定架,固定架上水平安装有可拆卸式激光器,激光器的输出端连接有振镜。本实用新型优点在于:结构设计合理,可以通过更换激光器使用不同光源来加工不同材料,使用简单,降低了成本,同时通过三轴移动进行拼接加工,加大了加工幅面。
- 一种加工金属模具激光蚀刻打点设备
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