[发明专利]产品缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质

说明书

本发明实施例提供一种产品缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质。方法包括：通过第一界面显示第一模板图像中的目标缺陷在多个颜色通道下的显示效果图像，第一模板图像中包含目标产品，目标缺陷为目标产品上的缺陷，多个颜色通道中的每个颜色通道包括单颜色通道或由多个单颜色通道进行几何运算的复合通道；通过第二界面显示用于供用户设定的颜色通道种类和缺陷提取参数；根据用户所确定的第一颜色通道以及与第一颜色通道对应的缺陷提取参数，确定待测图像中是否存在目标缺陷，待测图像中包含待测的目标产品，第一颜色通道是用户基于第一界面显示的显示效果图像通过第二界面选择的。该方案在检测过程中无开销大的计算过程，检测效率比较高。

技术领域

本发明涉及半导体加工技术领域，更具体地涉及一种产品缺陷检测方法、一种产品缺陷检测装置、一种电子设备和一种存储介质。

背景技术

当前人们对产品的质量要求越来越高，对应生产厂家而言，如何提高产品的出货质量，减少终端客诉成为一种迫切的需求。由于产品的形态千变万化，结构复杂不一，因此对产品的检测设备也有了更高标准的要求。

机器视觉是一个快速发展的朝阳行业，视觉检测设备已经在制造业各个领域各个生产环节得到广泛的应用。视觉检测设备利用相机采集包含产品的图像并利用视觉检测算法对图像进行分析处理，进而判断产品质量。

大部分情况下，产品表面的好坏是产品质量的关键，需要对产品表面进行检测。表面缺陷的呈现上往往比较复杂，种类多，形态各异，如脏污，裂痕，异物，残留等等，这就需要一个兼容性强，配置简单的检测算法能够兼容并快速应对这些复杂多变的缺陷需求。传统的检测算法在检测这些缺陷的过程中一般通过采集预设颜色通道的灰度图，根据0～255之间一定范围的灰度值进行提取。这种方式会有很大的局限性，因为很多时候产品表面并非单一存在，其表面可能含有一些产品元件，因此就可能出现缺陷和产品元件本身在预设灰度图上没有一个良好区分度的情况，这种情况下使用传统的预设灰度图的方案将会导致很多的误漏检发生。

发明内容

考虑到上述问题而提出了本发明。本发明提供了一种产品缺陷检测方法、产品表面缺陷检测装置、电子设备和存储介质。

根据本发明一方面，提供了一种产品缺陷检测方法，包括：通过第一界面显示第一模板图像中的目标缺陷在多个颜色通道下的显示效果图像，其中，第一模板图像中包含目标产品，目标缺陷为目标产品上的缺陷，多个颜色通道中的每个颜色通道包括单颜色通道或由多个单颜色通道进行几何运算的复合通道；通过第二界面显示用于供用户设定的颜色通道种类和缺陷提取参数；根据用户所确定的第一颜色通道以及与第一颜色通道对应的缺陷提取参数，确定待测图像中是否存在目标缺陷，其中，待测图像中包含待测的目标产品，第一颜色通道是用户基于第一界面显示的显示效果图像通过第二界面选择的。

示例性地，通过第一界面显示第一模板图像中的目标缺陷在多个颜色通道下的显示效果图像，包括：通过第一界面显示第一模板图像在多个颜色通道中的各颜色通道下的预览图像并作为对应颜色通道下的显示效果图像。

示例性地，在根据用户所确定的第一颜色通道以及与第一颜色通道对应的缺陷提取参数，确定待测图像中是否存在目标缺陷之前，方法还包括：对于用户所确定的第一颜色通道，接收用户通过第二界面针对该颜色通道设置的缺陷提取参数。

示例性地，缺陷提取参数为颜色值提取范围，颜色值提取范围用于指示在对应颜色通道下属于目标缺陷的区域的颜色值所落入的范围。