[发明专利]产品缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种产品缺陷检测方法，包括：

通过第一界面显示第一模板图像中的目标缺陷在多个颜色通道下的显示效果图像，其中，所述第一模板图像中包含目标产品，所述目标缺陷为所述目标产品上的缺陷，所述多个颜色通道中的每个颜色通道包括单颜色通道或由多个单颜色通道进行几何运算的复合通道；

通过第二界面显示用于供用户设定的颜色通道种类和缺陷提取参数；

根据所述用户所确定的第一颜色通道以及与所述第一颜色通道对应的缺陷提取参数，确定待测图像中是否存在所述目标缺陷，其中，所述待测图像中包含待测的目标产品，所述第一颜色通道是所述用户基于所述第一界面显示的显示效果图像通过所述第二界面选择的。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述通过第一界面显示第一模板图像中的目标缺陷在多个颜色通道下的显示效果图像，包括：

通过所述第一界面显示所述第一模板图像在所述多个颜色通道中的各颜色通道下的预览图像并作为对应颜色通道下的所述显示效果图像。

3.如权利要求1所述的方法，其中，在所述根据所述用户所确定的第一颜色通道以及与所述第一颜色通道对应的缺陷提取参数，确定待测图像中是否存在所述目标缺陷之前，所述方法还包括：

对于所述用户所确定的所述第一颜色通道，接收所述用户通过所述第二界面针对该颜色通道设置的所述缺陷提取参数。

4.如权利要求1-3任一项所述的方法，其中，所述缺陷提取参数为颜色值提取范围，所述颜色值提取范围用于指示在对应颜色通道下属于所述目标缺陷的区域的颜色值所落入的范围。

5.如权利要求1-3任一项所述的方法，其中，所述根据所述用户所确定的第一颜色通道以及与所述第一颜色通道对应的缺陷提取参数，确定待测图像中是否存在所述目标缺陷，包括：

基于所述待测图像获得与用于构成所述第一颜色通道的至少一个单颜色通道一一对应的至少一个单通道图像；

对于所述至少一个单颜色通道中的每个单颜色通道，在对应的单通道图像中，基于对应的缺陷提取参数，确定疑似缺陷区域的位置；

基于与所述至少一个单颜色通道一一对应的疑似缺陷区域的位置，确定总疑似缺陷区域的位置；

根据感兴趣待测区域在所述待测图像中的位置以及所述总疑似缺陷区域的位置，确定所述感兴趣待测区域中所述目标缺陷所在的缺陷区域，其中，所述感兴趣待测区域是所述待测图像上的用于检测是否存在所述目标缺陷的区域。

6.如权利要求5所述的方法，其中，在所述根据感兴趣待测区域在所述待测图像中的位置以及所述总疑似缺陷区域的位置，确定所述感兴趣待测区域中所述目标缺陷所在的缺陷区域之前，所述方法还包括：

获取第二模板图像，所述第二模板图像中包含所述目标产品；

基于所述第二模板图像中的第一标识特征，在所述待测图像中确定与所述第一标识特征匹配的第二标识特征；

确定所述第二标识特征在所述第二模板图像中的位置与所述第二标识特征在所述待测图像中的位置之间的位置偏移量；

根据所述位置偏移量，对所述第二模板图像中的感兴趣区域的位置进行调整，其中，所述感兴趣区域是所述第二模板图像上的用于检测是否存在所述目标缺陷的区域；

根据所述第二模板图像中的调整后的感兴趣区域，确定所述待测图像中与所述调整后的感兴趣区域相对应的所述感兴趣待测区域的位置。

7.如权利要求5所述的方法，其中，所述基于与所述至少一个单颜色通道一一对应的疑似缺陷区域的位置，确定总疑似缺陷区域的位置，包括：

对与所述至少一个单颜色通道一一对应的疑似缺陷区域求交集，获得所述总疑似缺陷区域。